一种玻璃缺陷检测系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种玻璃缺陷检测系统，涉及缺陷检测技术领域。玻璃缺陷检测系统具体包括：第一显影组件，用于显示待检物料表面缺陷和异物；第二显影组件，用于显示待检物料表面的异物；图像获取件，用于获取所述第一显影组件工作时待检物料表面的第一光强图和获取第二显影组件工作时待检物料表面的第二光强度；以及处理单元，将所述第一光强图和所述第二光强图进行差分比较，判断所述待检物料表面是否存在缺陷。旨在精准的区分玻璃面上的异物和实际缺陷，避免对玻璃的误判。避免对玻璃的误判。避免对玻璃的误判。

【技术实现步骤摘要】
一种玻璃缺陷检测系统


[0001]本技术涉及缺陷检测
，特别涉及一种玻璃缺陷检测系统。

技术介绍

[0002]随着国际国内市场对玻璃产品需求的迅速增长，使玻璃产品的生产无论从质量、品种，还是生产工艺都发生了质的变化。特别是现在生产技术的不断发展，高端产品对玻璃原板质量要求越来越高，因此全面保证玻璃质量，提高其等级就显得尤其重要。玻璃的外观缺陷分为刮划伤、划痕、崩边、裂纹、异物、凹凸点、刺伤、以及光影不良等缺陷。
[0003]而传统的玻璃质量在线检测主要采用人工检测的方法。人工检测，不仅工作量大，而且易受检测人员主观因素的影响，容易对玻璃缺陷造成漏检，尤其是变形较小、畸变不大的夹杂缺陷漏检，极大降低了玻璃的质量，从而不能够保证检测的效率与精度。因此采用人工在线检测玻璃质量的检测方法已经无法满足目前玻璃生产的需求。而近年来兴起的以图像处理技术为基础的机器视觉技术可以解决这一问题，但是在光学成像上并没有办法区分异物和玻璃实际缺陷的方法，容易在检测过程中造成大批量的误判。
[0004]因此，如何精准的区分玻璃面上的异物和实际缺陷，避免对玻璃的误判成为了亟待解决的技术难题。

技术实现思路

[0005]本技术的主要目的是提供一种玻璃缺陷检测系统，旨在精准的区分玻璃面上的异物和实际缺陷，避免对玻璃的误判。
[0006]为了实现上述目的，本技术提出一种玻璃缺陷检测系统，包括：
[0007]第一显影组件，用于显示待检物料表面缺陷和异物；
[0008]第二显影组件，用于显示待检物料表面的异物；
[0009]图像获取件，用于获取所述第一显影组件工作时待检物料表面的第一光强图和获取第二显影组件工作时待检物料表面的第二光强度；以及
[0010]处理单元，将所述第一光强图和所述第二光强图进行差分比较，判断所述待检物料表面是否存在缺陷。
[0011]在本申请的一实施例中，所述第一显影组件、第二显影组件、以及图像获取单元之间形成暗视场角。
[0012]在本申请的一实施例中，所述第一显影组件包括：
[0013]可照射于待检物料表面用于显示待检物料表面缺陷和异物的交叉线扫光源，所述交叉线扫光源与所述待检物料表面的交线位于所述图像获取件的视野中心处。
[0014]在本申请的一实施例中，所述第一显影组件还包括：
[0015]可照射于所述待检物料表面用于显示待检物料表面缺陷和异物的平行线扫光源，所述平行线扫光源和待检物料表面的交线与所述交叉线扫光源和待检物料表面的交线位于同一直线上并位于所述图像获取件的视野中心处。
[0016]在本申请的一实施例中，所述图像获取件距离所述待检物料表面的垂直距离为α，170mm≤α≤190mm。
[0017]在本申请的一实施例中，以图像获取件的视野中心与待检物料之间交点为顶点做垂直于所述待检物料上表面的射线，所述图像获取件的镜头采光方向与所述射线的延伸方向之间的夹角为15
°
。
[0018]在本申请的一实施例中，以图像获取件的视野中心与待检物料之间交点为顶点做垂直于所述待检物料上表面的射线，所述交叉线扫光源的逆出光方向与所述射线的延伸方向之间夹角为45
°
。
[0019]在本申请的一实施例中，以图像获取件的视野中心与待检物料之间交点为顶点做垂直于所述待检物料上表面的射线，所述平行线扫光源的逆出光方向与所述射线的延伸方向之间的夹角为25
°
。
[0020]在本申请的一实施例中，所述第二显影组件包括：
[0021]可照射于待检物料表面单色立体线扫光源，以图像获取件的视野中心与待检物料之间交点为顶点做垂直于所述待检物料上表面的射线，所述立体线扫光源的逆出光方向与所述射线的延伸方向之间的角度为80
°
。
[0022]采用上述技术方案，通过第一显影组件显示出待检物料表面缺陷和异物；通过第二显影组件显示出待检物料表面异物。然后通过图像获取件获取第一显影组件工作时的待检物料的第一光强图和第二显影组件工作时的待检物料的第二光强图，处理单元获取第一光强图和第二光强图后，进行差分比较，在第一光强图上剔除第二光强图上的异物的位置后，如果第一光强图上还剩有缺陷位置信息，即表示玻璃存在缺陷；如果第一光强图上没有剩余缺陷位置信息，表示玻璃没有缺陷。结构简单，便于实施，同时实现精准的区分玻璃面上的异物和试剂缺陷，极大的降低了对玻璃误判的可能性。
附图说明
[0023]下面结合具体实施例和附图对本技术进行详细的说明，其中：
[0024]图1为本技术第一种实施例的安装结构示意图。
[0025]图2为本技术交叉线扫光源和平行线扫光源的安装角度示意图。
[0026]图3为本技术单色立体线扫光源的安装角度示意图。
具体实施方式
[0027]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚，以下结合附图和实施例对本技术进行详细的说明。应当理解，以下具体实施例仅用以解释本技术，并不对本技术构成限制。
[0028]如图1至图3所示，为了实现上述目的，本技术提出一种玻璃缺陷检测系统，包括：
[0029]第一显影组件，用于显示待检物料10表面缺陷和异物；
[0030]第二显影组件，用于显示待检物料10表面的异物；
[0031]图像获取件20，用于获取所述第一显影组件工作时待检物料10表面的第一光强图和获取第二显影组件工作时待检物料10表面的第二光强度；以及
[0032]处理单元，将所述第一光强图和所述第二光强图进行差分比较，判断所述待检物料10表面是否存在缺陷。
[0033]具体的，一种玻璃缺陷检测系统，包括第一显影组件、第二显影组件、图像获取件20、以及处理单元。
[0034]其中，第一显影组件可以产生可见光，第一显影组件产生的可见光照射在待检物料10的表面上，用于显示待检物料10表面的缺陷和异物，缺陷包括裂纹、划痕等等，异物包括灰尘颗粒等等。
[0035]第二显影组件可产生可见光，第二显影组件产生的可见光照射在待检物料10的表面上，用于显示待检物料10表面的异物，异物为待检物料10上的灰尘颗粒等等。第二显影组件与第一显影组件的照射角度不同。
[0036]图像获取件20用于获取第一显影组件工作时，待检物料10表面的第一光强图，第一光强图上可显示出待检物料10的缺陷和异物。为了便于理解，本申请中的待检物料10以玻璃为例进行说明。
[0037]第一显影组件产生的可见光照射在玻璃的表面上时，会将玻璃上的划痕、裂纹、以及异物等显现出来，此时图像获取件20获取该玻璃的第一光强图。第一光强图是指包含有玻璃上划痕、裂纹等缺陷的痕迹和异物痕迹的图片信息。
[0038]第二显影组件产生的可见光通过不同的角度照射在玻璃的表面上时，会将玻璃上的异物显现出来，此时图像获取件20获取该玻璃的第二光强图。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种玻璃缺陷检测系统，其特征在于，包括：第一显影组件，用于显示待检物料表面缺陷和异物；第二显影组件，用于显示待检物料表面的异物；图像获取件，用于获取所述第一显影组件工作时待检物料表面的第一光强图和获取第二显影组件工作时待检物料表面的第二光强度；以及处理单元，将所述第一光强图和所述第二光强图进行差分比较，判断所述待检物料表面是否存在缺陷。2.如权利要求1所述的玻璃缺陷检测系统，其特征在于，所述第一显影组件、第二显影组件、以及图像获取单元之间形成暗视场角。3.如权利要求2所述的玻璃缺陷检测系统，其特征在于，所述第一显影组件包括：可照射于待检物料表面用于显示待检物料表面缺陷和异物的交叉线扫光源，所述交叉线扫光源与所述待检物料表面的交线位于所述图像获取件的视野中心处。4.如权利要求3所述的玻璃缺陷检测系统，其特征在于，所述第一显影组件还包括：可照射于所述待检物料表面用于显示待检物料表面缺陷和异物的平行线扫光源，所述平行线扫光源和待检物料表面的交线与所述交叉线扫光源和待检物料表面的交线位于同一直线上并位于所述图像获取件的视野中心处。5.如权利要求1所述的玻璃缺陷检测系统，其特征在于，所述图像获取件距离所述待检物料表面...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘忠，朱培源，侯康，刘刚华，
申请(专利权)人：深圳至汉装备科技有限公司，
类型：新型
国别省市：