存储设备测试方法、系统、设备和可读存储介质技术方案

本申请公开了一种存储设备测试方法、存储设备测试系统、存储设备测试设备以及计算机可读存储介质，该方法包括：在接收到第一测试指令时，确定所述第一测试指令对应的业务流程；获取所述业务流程对应的业务指令信息；根据所述业务指令信息生成第二测试指令，并将所述第二测试指令发送至待测试设备。解决了相关技术中测试快速存储器在不同平台的运行情况需要购买相应的平台进行拆机测试，在使用不同的测试软件时也需要进行适应的开发优化的技术问题，实现了不需要购置所有平台进行拆机测试，有效降低测试成本的技术效果。有效降低测试成本的技术效果。有效降低测试成本的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
存储设备测试方法、系统、设备和可读存储介质


[0001]本申请涉及快速存储
，尤其涉及一种存储设备测试方法、存储设备测试系统、存储设备测试设备和计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前，快速存储器的生产厂商在生产快速存储器时，所需要的闪存颗粒需要从颗粒生产厂商处购买。
[0003]快速存储器凭借着优异的性能，被应用在越来越多的设备中，而这些设备由于品牌的差异以及搭载平台的不同，在设备调用快速存储器时发送的指令也不同。
[0004]因此，相关技术中测试快速存储器在不同平台的运行情况需要购买相应的平台进行拆机测试，在使用不同的测试软件时也需要进行适应的开发优化，而这极大的提高了测试成本。

技术实现思路

[0005]本申请实施例通过提供一种存储设备测试方法、存储设备测试系统、存储设备测试设备和计算机可读存储介质，解决了相关技术中测试快速存储器在不同平台的运行情况需要购买相应的平台进行拆机测试，在使用不同的测试软件时也需要进行适应的开发优化的技术问题，实现了不需要购置所有平台进行拆机测试，有效降低测试成本的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储设备测试方法，其特征在于，所述存储设备测试方法包括：在接收到第一测试指令时，确定所述第一测试指令对应的业务流程；获取所述业务流程对应的业务指令信息；根据所述业务指令信息生成第二测试指令，并将所述第二测试指令发送至待测试设备。2.如权利要求1所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述在接收到第一测试指令时，确定所述第一测试指令对应的业务流程包括：在接收到所述第一测试指令时，确定所述第一测试指令对应的待测试设备信息；根据所述待测试设备信息以及所述第一测试指令确定所述业务流程。3.如权利要求2所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述在接收到所述第一测试指令时，确定所述第一测试指令对应的待测试设备信息包括：在接收到所述第一测试指令时，确定所述第一测试指令对应的待测试设备型号；根据所述待测试设备型号在预存的脚本库中确定所述待测试设备型号对应的脚本；根据所述脚本生成所述待测试设备信息。4.如权利要求3所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述根据所述待测试设备型号在预存的脚本库中确定所述待测试设备型号对应的脚本之前，还包括：在检测到待测试设备的处理器发送给存储器的业务指令时，抓取所述业务指令；确定所述业务指令对应的所述业务流程；根据所述业务指令以及所述业务流程生成所述业务指令对应的第一脚本以及第一虚拟驱动；将所述第一脚本与所述待测试设备的型号关联保存在所述脚本库中，将所述第一虚拟驱动与所述第一脚本关联保存在虚拟驱动单元中。5.如权利要求3所述的存储设备测试方法，其特征在于，所述获取所述业务流程对应的业务指令信息包括：运行所述待测试设备信息对应的所述脚本，在虚拟驱动单元中确定所述脚本对应的虚拟驱动...

【专利技术属性】
技术研发人员：林寅，吴大畏，李晓强，
申请(专利权)人：深圳市硅格半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：