管理存储装置中的调试日志的方法制造方法及图纸

在一种管理存储装置中的调试日志的方法中，基于外部电源电压和多个配置控制信号来生成事件触发信号。事件触发信号响应于发出感兴趣的事件而被激活，以用于生成并存储调试日志。调试日志表示与存储装置中出现的错误相关联的信息。基于事件触发信号生成调试日志。将调试日志存储在非易失性存储器中。感兴趣的事件包括上电事件、复位事件、链路建立事件、链路断开事件或断电事件中的至少一项。断开事件或断电事件中的至少一项。断开事件或断电事件中的至少一项。

【技术实现步骤摘要】
管理存储装置中的调试日志的方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2021年7月5日在韩国知识产权局(KIPO)递交的韩国专利申请No.10
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2021
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0087795的优先权，其全部内容通过引用合并于此。


[0003]示例实施例总体涉及半导体集成电路，更具体地涉及管理存储装置中的调试日志的方法。

技术介绍

[0004]可以在数据存储装置中使用一个或多个半导体存储器件。这样的数据存储装置的示例包括固态驱动器(SSD)。这些类型的数据存储装置相对于硬盘驱动器(HDD)可以具有不同的设计和/或性能优势。潜在优势的示例包括不存在活动机械部件、较高的数据存取速度、稳定性、耐用性和/或低功耗。例如膝上型计算机、汽车、飞机、无人机等的各种系统已经采用了SSD进行数据存储。
[0005]因为技术已经发展并且存储装置的性能已经提高，所以存储装置的操作速度已经提高，并且将其固件配置为使得存储装置包括各种功能。在操作速度或功能方面的这样的增加可以增大存储装置中的操作错误的概率。可以使用用于提取错误信息的单独的调试技术来检测和/或纠正这样的错误。例如，可以使用在存储装置中采集的调试日志执行调试。

技术实现思路

[0006]本公开的至少一个示例实施例提供了一种管理存储装置中的调试日志的方法，该存储装置能够高效地生成并存储调试日志，该调试日志是与存储装置中出现的错误相关联的信息。
[0007]根据示例实施例，在一种管理存储装置中的调试日志的方法中，由存储装置中包括的存储控制器基于外部电源电压和多个配置控制信号来生成事件触发信号。事件触发信号响应于发出感兴趣的事件而被激活，以用于生成并存储调试日志。调试日志表示与存储装置中出现的错误相关联的信息。由存储控制器基于事件触发信号来生成调试日志。将调试日志存储在存储装置中包括的非易失性存储器中。感兴趣的事件包括以下至少一项：激活外部电源电压的上电事件；用于初始化存储控制器的复位事件；完成在存储装置外部设置的主机装置与存储控制器之间建立通信的链路建立事件，释放主机装置与存储控制器之间建立的通信的链路断开事件；或使外部电源电压去激活的断电事件。
[0008]根据示例实施例，在一种管理存储装置中的调试日志的方法中，由存储装置中包括的存储控制器基于外部电源电压和多个配置控制信号来生成事件触发信号。事件触发信号响应于发出感兴趣的事件而被激活，以用于生成并存储调试日志。调试日志表示与存储装置中出现的错误相关联的信息。由存储控制器基于事件触发信号来生成调试日志。由存储控制器基于外部电源电压和多个配置控制信号来生成异常事件触发信号。异常事件触发
信号响应于与异常事件相对应的感兴趣的事件而被激活。响应于与异常事件相对应的感兴趣的事件，基于异常事件触发信号将调试日志立即存储在存储装置中包括的非易失性存储器中。响应于与正常事件相对应的感兴趣的事件，将调试日志临时存储在存储装置中包括的缓冲存储器中，然后将调试日志存储在非易失性存储器中。
[0009]根据示例实施例，在一种管理存储装置中的调试日志的方法中，由存储装置中包括的存储控制器基于外部电源电压和多个配置控制信号来生成事件触发信号。事件触发信号响应于发出多个感兴趣的事件而被激活，以用于生成并存储多个调试日志。多个调试日志表示与存储装置中出现的错误相关联的信息。由存储控制器基于事件触发信号来生成多个调试日志。将多个调试日志存储在存储装置中包括的非易失性存储器中。非易失性存储器包括多个存储器块。多个存储器块中的两个存储器块被设置为第一调试存储器块和第二调试存储器块。第一调试存储器块和第二调试存储器块被配置为存储多个调试日志。将多个调试日志中的第一调试日志至第M调试日志顺序地存储在第一调试存储器块中，其中，M是大于或等于2的自然数。将多个调试日志中的第(M+1)调试日志至第2M调试日志顺序地存储在第二调试存储器块中。在对第一调试存储器块执行擦除操作之后，将多个调试日志中的第(2M+1)调试日志至第3M调试日志顺序地存储在第一调试存储器块中。
[0010]在根据示例实施例的管理存储装置中的调试日志的方法中，可以将其中密集地和/或频繁地出现错误的情况定义为感兴趣的事件，并且当感兴趣的事件发出时可以生成、提取和存储调试日志。因此，可以高效地获得调试所需要的或用于调试的充分的数据。在相对频繁地出现接通/关断电力的电力循环的环境(例如，个人计算机)中，当调试日志丢失时可能难以进行错误分析。当根据示例实施例通过监测感兴趣的事件来生成、提取和存储调试日志时，即使在电力循环之后也可以检查日志历史和错误的上下文，因此可以高效地执行错误分析。
附图说明
[0011]根据结合附图的以下详细描述，将更清楚地理解说明性的非限制性示例实施例。
[0012]图1是示出根据示例实施例的管理存储装置中的调试日志的方法的流程图。
[0013]图2是示出图1的管理存储装置中的调试日志的方法的示例的流程图。
[0014]图3是示出根据示例实施例的存储装置和包括存储装置的存储系统的框图。
[0015]图4是示出根据示例实施例的存储装置中包括的存储控制器的示例的框图。
[0016]图5是示出根据示例实施例的存储装置中包括的非易失性存储器的示例的框图。
[0017]图6是用于描述根据示例实施例的存储装置的操作的图。
[0018]图7是示出图1中的将调试日志存储在非易失性存储器中的示例的流程图。
[0019]图8是用于描述图7的操作的图。
[0020]图9是示出图1中的将调试日志存储在非易失性存储器中的另一示例的流程图。
[0021]图10是用于描述图9的操作的图。
[0022]图11是示出根据示例实施例的管理存储装置中的调试日志的方法的流程图。
[0023]图12是示出图11的管理存储装置中的调试日志的方法的示例的流程图。
[0024]图13是示出图11中的将调试日志存储在非易失性存储器中的示例的流程图。
[0025]图14是用于描述图13的操作的图。
[0026]图15是用于描述根据示例实施例的存储装置的操作的图。
[0027]图16是示出根据示例实施例的管理存储装置中的调试日志的方法的流程图。
[0028]图17是示出图16中的将多个调试日志存储在非易失性存储器中的示例的流程图。
[0029]图18A、图18B、图18C、图18D和图18E是用于描述图17的操作的图。
[0030]图19是示出图16中的将多个调试日志存储在非易失性存储器中的另一示例的流程图。
[0031]图20是示出根据示例实施例的管理存储装置中的调试日志的方法的流程图。
[0032]图21是示出根据示例实施例的包括存储装置的电子系统的框图。
具体实施方式
[0033]将参考附图更全面地描述各种示例实施例，在附图中示出了实施例。然而，本公开可以以许多本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种管理存储装置中的调试日志的方法，所述方法包括：由所述存储装置中包括的存储控制器基于外部电源电压和多个配置控制信号来生成事件触发信号，所述事件触发信号响应于发出感兴趣的事件而被激活，以用于生成并存储所述调试日志，所述调试日志表示与所述存储装置中出现的错误相关联的信息；由所述存储控制器基于所述事件触发信号来生成所述调试日志；以及将所述调试日志存储在所述存储装置中包括的非易失性存储器中，其中，所述感兴趣的事件包括以下至少一项：激活所述外部电源电压的上电事件，用于初始化所述存储控制器的复位事件，完成在所述存储装置外部设置的主机装置与所述存储控制器之间建立通信的链路建立事件，释放所述主机装置与所述存储控制器之间建立的通信的链路断开事件，或使所述外部电源电压去激活的断电事件。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述感兴趣的事件还包括：所述主机装置保持空闲状态超过参考时间间隔的主机空闲事件。3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述感兴趣的事件还包括：所述存储装置的操作温度上升到高于参考温度的热事件。4.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述调试日志存储在所述非易失性存储器中包括：将所述调试日志临时存储在所述存储装置中包括的缓冲存储器中；以及通过将临时存储在所述缓冲存储器中的所述调试日志提供给所述非易失性存储器，来将所述调试日志存储在所述非易失性存储器中。5.根据权利要求4所述的方法，其中：将所述调试日志存储在所述非易失性存储器中包括的调试存储器块中，以及所述调试存储器块包括多级存储器单元MLC，每一个所述MLC存储两个或更多个数据比特。6.根据权利要求1所述的方法，其中，将所述调试日志存储在所述非易失性存储器中包括：通过将由所述存储控制器生成的所述调试日志直接提供给所述非易失性存储器，来将所述调试日志直接存储在所述非易失性存储器中。7.根据权利要求6所述的方法，还包括：将所述调试日志存储在所述非易失性存储器中包括的调试存储器块中，所述调试存储器块包括单级存储器单元SLC，每一个所述SLC被配置为存储一个数据比特。8.根据权利要求1所述的方法，还包括：由所述存储控制器基于所述外部电源电压和所述多个配置控制信号来生成异常事件触发信号，所述异常事件触发信号响应于与异常事件相对应的感兴趣的事件而被激活，其中，基于所述异常事件触发信号将所述调试日志存储在所述非易失性存储器中。9.根据权利要求8所述的方法，其中，将所述调试日志存储在所述非易失性存储器中包括：
响应于与所述异常事件相对应的感兴趣的事件，基于所述异常事件触发信号将所述调试日志立即存储在所述非易失性存储器中；以及响应于与正常事件相对应的感兴趣的事件，将所述调试日志临时存储在所述存储装置中包括的缓冲存储器中，然后将所述调试日志存储在所述非易失性存储器中。10.根据权利要求8所述的方法，还包括：响应于第一时间点与第二时间点之间的时间间隔大于第一参考值，确定所述感兴趣的事件与所述异常事件相对应，其中，所述第一时间点表示与所述复位事件相关联的复位信号被激活的时间点，以及其中，所述第二时间点表示完成在所述主机装置与所述存储控制器之间建立通信的时间点。11.根据权利要求8所述的方法，还包括：响应于第三时间点与第四时间点之间的时间间隔大于第二参考值，确定所述感兴趣的事件与所述异常事件相对应，其中，所述第三时间点表示从所述主机装置提供给所述存储控制器的控制器配置使能信号被激活的时间点，以及其中，所述第四时间点表示由所述存储控制器生成的控制器状态就绪信号被激活的时间点。12.根据权利要求8所述的方法，还包括：响应于第五时间点与第六时间点之间的时间间隔大于第三参考值，确定所述感兴趣的事件与所述异常事件相对应，其中，所述第五时间点表示在所述主机装置与所述存储控制器之间建立的通信被释放的时间点，以及其中，所述第六时间点表示与所述复位事件相关联的复位信号被去激活的时间点。13.根据权利要求1所述的方法，其中：所述非易失性存储器包括多个存储器块，以及所述多个存储器块中的两个或更多个被设置为调试存储器块，所述调试存储器块被配置为存储所述调试...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔宝美，田成勋，金乘延，严在颖，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：