一种半成品电芯保护板灯光测试电路制造技术

技术编号:36248447 阅读:52 留言:0更新日期:2023-01-07 09:40
本实用新型专利技术公开了一种半成品电芯保护板灯光测试电路,涉及灯光测试技术领域;包括单片机控制电路、电源电路、通讯电路和多个光线采集电路;所述多个光线采集电路与单片机控制电路连接,用于感应光照强度并且将光照强度信息传输给单片机控制电路并由单片机控制电路转换为信号输出;所述通讯电路连接于单片机控制电路和上位机之间,用于将单片机控制电路接收并转换的光照强度信号传输给上位机,并且将上位机的控制信号传输给单片机控制电路;所述光源电路同时与单片机控制电路、通讯电路和多个光线采集电路连接,用于供电。本实用新型专利技术的有益效果是:成本低效率高且能对检测数据进行存储。存储。存储。

【技术实现步骤摘要】
一种半成品电芯保护板灯光测试电路


[0001]本技术涉及灯光测试
,具体地说,本技术涉及一种半成品电芯保护板灯光测试电路。

技术介绍

[0002]目前市场上的灯光测试电路,有以下几种一种是利用颜色传感器识别对应灯的颜色和状态,并且将灯光状态显示到仪器上,另外一种是利用摄像头来对指示灯对进行识别,同样也是将灯光状态显示到仪器上。对于以上两种都没有对于半成品电芯保护半灯光测试电路形成完整的测试系统,如使用以上两种方案测试的话会存在以下问题,第一:颜色传感器和摄像头的成本较高。第二:颜色传感器体积较大但半成品电芯保护板体积较小,测试时需要复杂的机械结构来配合设计才行。第三:半成品电芯保护板一般有多个指示灯,但为了提高效率需要多通道同时检测,以上两种方案都无法满足。第四:以上两种方案无法对半成品电芯保护板灯光检测项目良品判断,因为半成品电芯保护板的灯光的颜色和位置都是不同的,以上两种方案都无法设置项目灯的颜色和位置参数。第五:以上两种方案皆无法对测试的数据进行保存且记录。

技术实现思路

[0003]为了克服现有技术的不足,本技术提供一种适用性强的半成品电芯保护板灯光测试电路。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种半成品电芯保护板灯光测试电路,其改进之处在于:包括单片机控制电路、电源电路、通讯电路和多个光线采集电路;
[0005]所述多个光线采集电路与单片机控制电路连接,用于感应光照强度并且将光照强度信息传输给单片机控制电路并由单片机控制电路转换为信号输出;
[0006]所述通讯电路连接于单片机控制电路和上位机之间,用于将单片机控制电路接收并转换的光照强度信号传输给上位机,并且将上位机的控制信号传输给单片机控制电路;
[0007]所述电源电路同时与单片机控制电路、通讯电路和多个光线采集电路连接,用于供电。
[0008]上述技术方案中所述的半成品电芯保护板灯光测试电路还包括通道选择电路,所述通道选择电路与单片机控制电路连接,用于提供多个测试通道。
[0009]上述技术方案中所述光线采集电路包括光敏电阻RG1、电阻R1和电容C1,所述光敏电阻RG1与电容C1相并联后与电阻R1相串联。
[0010]上述技术方案中所述单片机控制电路包括单片机U2和指示灯,所述指示灯与单片机U2连接,所述单片机U2型号为STCBG1K17。
[0011]上述技术方案中所述通讯电路包括光耦U4、光耦U1、芯片U3、电阻R20、三极管Q1和三极管Q2,所述电阻R20连接于三极管Q2的基极,三极管Q2的集电极与光耦U4连接,光耦U4与三极管Q1的基极连接,三极管Q1的集电极与芯片U3连接。
[0012]本技术的有益效果是:本技术提供的装置均为电路器件,成本较低且占用场地小,通过多个光线采集电路同时检测灯光,因为采用电路,对光源颜色和位置不作限定,较为灵活,且数据可上传至上位机中进行保存。
附图说明
[0013]图1为本技术一种半成品电芯保护板灯光测试电路的原理框图。
[0014]图2为本技术一种半成品电芯保护板灯光测试电路中光线采集电路的结构示意图。
[0015]图3为本技术一种半成品电芯保护板灯光测试电路中通道选择电路的具体实施例图。
[0016]图4为本技术一种半成品电芯保护板灯光测试电路中单片机控制电路的结构示意图。
[0017]图5为本技术一种半成品电芯保护板灯光测试电路中通讯电路的结构示意图。
[0018]图6为本技术一种半成品电芯保护板灯光测试电路中电源电路的具体实施例图。
具体实施方式
[0019]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0020]以下将结合实施例和附图对本技术的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整地描述,以充分地理解本技术的目的、特征和效果。显然,所描述的实施例只是本技术的一部分实施例,而不是全部实施例,基于本技术的实施例,本领域的技术人员在不付出创造性劳动的前提下所获得的其他实施例,均属于本技术保护的范围。另外,专利中涉及到的所有联接/连接关系,并非单指构件直接相接,而是指可根据具体实施情况,通过添加或减少联接辅件,来组成更优的联接结构。本技术创造中的各个技术特征,在不互相矛盾冲突的前提下可以交互组合。
[0021]参照图1,如图所示,本技术提供了一种半成品电芯保护板灯光测试电路,包括单片机控制电路1、电源电路6、通讯电路3和八个光线采集电路2。
[0022]所述八个光线采集电路2与单片机控制电路1连接,用于感应光照强度并且将光照强度信息传输给单片机控制电路1并由单片机控制电路1转换为信号输出,在本技术中采用光敏电阻感应光照强度。
[0023]所述通讯电路3连接于单片机控制电路1和上位机4之间,用于将单片机控制电路1接收并转换的光照强度信号传输给上位机4,并且将上位机4的控制信号传输给单片机控制电路1。
[0024]所述电源电路6同时与单片机控制电路1、通讯电路3和八个光线采集电路2连接,用于供电。
[0025]还包括通道选择电路5,所述通道选择电路5与单片机控制电路1连接,用于提供六个测试通道。
[0026]本技术通过八个光线采集电路2同时检测灯光,感应光照强度的变化而改变
阻值进而改变电压值,通过单片机控制电路1将电压信号进行转换后由通讯电路3与上位机4通讯,将检测数据传输至上位机4并由上位机4保存数据。
[0027]参照图2,如图所示,所述光线采集电路2包括光敏电阻RG1、电阻R1和电容C1,所述光敏电阻RG1与电容C1相并联后与电阻R1相串联,利用八个光敏电阻RG1

RG8组成八路光线采集传感器,与R1

R8构成分压电路,使得两者相连接之处的电压会随着光线的强弱变化而变化,其相连接的地方连接单片机主控电路1,由单片机控制电路1内部对其信号进行分析,电容C1

C8并联光敏电阻两端可以滤除外界信号对光敏电阻的干扰。
[0028]参照图3,如图所示,本技术提供了通道选择电路5的具体实施例图,S1的1脚

6脚连接六个上拉电阻,相连接处连接单片机控制电路1,单片机控制电路1可以该电路识别目前电路的地址,通过拨码开关可以设置不同的地址,可以利用该原理扩展出更多的通道同时测试。
[0029]参照图4,如图所示,所述单片机控制电路1包括单片机U2和指示灯,所述指示灯与单片机U2连接,所述单片机U2型号为STCBG1K17;单片机U2的第1脚

第6脚和第19

20脚连接光线采集电路2,读取电压信号内部对电压信号进行分析,识别出对应的光线信息,单片机U2的第7脚和第11

15脚与第17脚连接通道选择电路5,来读取通道信息,单片机U2的第11脚和第12脚连接本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半成品电芯保护板灯光测试电路,其特征在于:包括单片机控制电路、电源电路、通讯电路和多个光线采集电路;所述多个光线采集电路与单片机控制电路连接,用于感应光照强度并且将光照强度信息传输给单片机控制电路并由单片机控制电路转换为信号输出;所述通讯电路连接于单片机控制电路和上位机之间,用于将单片机控制电路接收并转换的光照强度信号传输给上位机,并且将上位机的控制信号传输给单片机控制电路;所述电源电路同时与单片机控制电路、通讯电路和多个光线采集电路连接,用于供电。2.根据权利要求1所述的一种半成品电芯保护板灯光测试电路,其特征在于:所述的半成品电芯保护板灯光测试电路还包括通道选择电路,所述通道选择电路与单片机控制电路连接,用于提供多个测试通道。3.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:郑楚滨江学文巫伟升
申请(专利权)人:深圳市安拓森仪器仪表有限公司
类型:新型
国别省市:

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