一种光检测电路、方法及设备技术

本申请公开了一种光检测电路、方法及设备，可用于电子电路技术领域，该电路包括：光电转换模块、放大模块、温度补偿模块以及电流比较模块；光电转换模块用于产生光电转换电流，光电转换电流包括由光信号转换的第一电流和随环境温度变化的第二电流；温度补偿模块用于产生抵消第二电流的补偿电流；放大模块用于放大光电转换模块输入的光电转换电流，输出第三电流；电流比较模块用于比较第三电流和预先配置的基准电流的大小，输出比较结果。由此，通过温度补偿模块产生的补偿电流抵消了光电转换模块产生的第二电流，减小了高温下较大的第二电流对电流的比较结果的影响，可以提高光检测电路的可靠性，较为精准的检测光检测电路所检测位置的光强。测位置的光强。测位置的光强。

【技术实现步骤摘要】
一种光检测电路、方法及设备


[0001]本申请涉及电子电路
，特别是涉及一种光检测电路、方法及设备。

技术介绍

[0002]随着信息技术的发展，信息安全问题越发引起重视。而安全芯片作为信息系统安全性的基础保障手段，其自身的安全对于信息系统至关重要。安全芯片受到多种多样的安全威胁，其中，光攻击技术具有不受电磁场影响、抗干扰能力强、无感知等优势，较为隐蔽，另一方面，由于光电特性是集成电路中器件的本征特性，光攻击往往行之有效，由此，光攻击给安全芯片带来的安全威胁尤为需要重视。
[0003]目前，通常利用光电探测器将光学信息转换为电子信息，通过电子技术对光学信号进行检测，从而判断位于光检测电路检测位置的安全芯片是否受到光攻击，实现对安全芯片的防护。然而，通常用作光电探测器的尺寸较小的光电二极管所产生的暗电流会随温度升高剧烈变化，导致温度较高时光检测电路的光强检测结果高于检测位置的实际光强，从而出现对光检测电路检测位置是否受到光攻击的误判，使得光检测电路的可靠性较低。
[0004]由此，如何提高光检测电路的可靠性，实现较为精准的检测光检测电路所检测位置的光强，成为当前亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]基于上述问题，本申请提供了一种光检测电路、方法及设备，可以提高光检测电路的可靠性，较为精准的检测光检测电路所检测位置的光强。
[0006]本申请实施例公开了如下技术方案：第一方面，本申请提供了一种光检测电路，所述电路包括：光电转换模块、放大模块、温度补偿模块以及电流比较模块；所述光电转换模块、所述放大模块以及所述电流比较模块串联，所述温度补偿模块的第一端连接电源线路，所述温度补偿模块的第二端连接所述光电转换模块的第一端，所述光电转换模块的第二端与所述电流比较模块的第二端接地；所述光电转换模块，用于产生光电转换电流，所述光电转换电流包括由光信号转换的第一电流和随环境温度变化的第二电流；所述温度补偿模块，用于产生抵消所述第二电流的补偿电流；所述放大模块，用于放大所述光电转换模块输入的第二电流被所述温度补偿模块产生的所述补偿电流抵消后的光电转换电流，输出第三电流；所述电流比较模块，用于比较所述第三电流和预先配置的基准电流的大小，输出比较结果；所述比较结果用于表示所述光电转换模块所处环境的光强是否超出预设的光强阈值。
[0007]可选地，所述放大模块包括：第一晶体管和第二晶体管；所述第一晶体管与所述第二晶体管连接为电流镜，所述第二晶体管的发射极面积
大于所述第一晶体管的发射极面积；所述电流镜用于放大所述光电转换模块输入的所述第一电流，输出第三电流。
[0008]可选地，所述光电转换模块在所述环境温度变化范围内产生的第二电流的第一变化曲线与所述温度补偿模块在所述环境温度变化范围内产生的电流的第二变化曲线的拟合度不小于预设的参考阈值。
[0009]可选地，所述温度补偿模块，包括：MOS器件。
[0010]可选地，所述电流比较模块，包括：电流比较器和基准电路；所述电流比较器的第一输入端连接所述放大模块的输出端，所述电流比较器的第二输入端连接所述基准电路的第二端，所述基准电路的第一端接地；所述基准电路，用于提供基准电流；所述电流比较器，用于比较所述放大模块输出的所述第三电流和所述基准电路提供的所述基准电流的大小，输出比较结果。
[0011]可选地，所述电路还包括：报警模块；所述报警模块的输入端连接所述电流比较模块的输出端；所述报警模块，用于在所述电流比较模块输出的比较结果为所述第三电流大于基准电流时，进行光检测报警。
[0012]第二方面，本申请提供了一种光检测方法，所述方法包括：获取光电转换电流，所述光电转换电流包括光电转换模块转换光信号得到的第一电流以及光电转换模块产生的随环境温度变化的第二电流；放大第二电流被温度补偿模块产生的补偿电流抵消后的光电转换电流，得到第三电流；比较所述第三电流和预先配置的基准电流的大小，输出比较结果；所述比较结果用于表示所述光电转换模块所处环境的光强是否超出预设的光强阈值。
[0013]可选地，所述比较所述第三电流和所述基准电流的大小，输出比较结果之后，所述方法还包括：若所述比较结果为所述第三电流大于所述基准电流，则进行光检测报警。
[0014]第三方面，本申请提供了一种光检测设备，其特征在于，所述光检测设备包括上述第一方面中任一项所述的光检测电路。
[0015]相较于现有技术，本申请具有以下有益效果：本申请提供了一种光检测电路，该电路包括：光电转换模块、放大模块、温度补偿模块以及电流比较模块；光电转换模块、放大模块以及电流比较模块串联，温度补偿模块的第一端连接电源线路，温度补偿模块的第二端连接光电转换模块的第一端，光电转换模块的第二端与电流比较模块的第二端接地；光电转换模块，用于产生光电转换电流，光电转换电流包括由光信号转换的第一电流和随环境温度变化的第二电流；温度补偿模块，用于产生抵消第二电流的补偿电流；放大模块，用于放大光电转换模块输入的第二电流被温度补偿模块产生的补偿电流抵消后的光电转换电流，输出第三电流；电流比较模块，用于比较第三电流和预先配置的基准电流的大小，输出比较结果；比较结果用于表示光电转换模块所处环境的光强是否超出预设的光强阈值。由此，通过使温度补偿模块产生的补偿电流抵消光电转换模块产生的第二电流，减小了高温下较大的第二电流对电流的比较结果的影响，
也即减小了第二电流对光检测结果的影响，可以提高光检测电路的可靠性，较为精准的检测光检测电路所检测位置的光强。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本申请实施例提供的一种光检测电路示意图；图2为本申请实施例提供的一种光电转换模块与温度补偿模块在环境温度变化范围内的电流变化曲线对比图；图3为本申请实施例提供的另一种光检测电路示意图；图4为本申请实施例提供的一种光检测方法流程图。
具体实施方式
[0018]正如前文描述，目前通常利用光电探测器将光学信息转换为电子信息，通过电子技术对光学信号进行检测，从而判断位于光检测电路检测位置的安全芯片是否受到光攻击，实现对安全芯片的防护。然而，通常用作光电探测器的尺寸较小的光电二极管所产生的暗电流会随温度升高剧烈变化，导致温度较高时光检测电路的光强检测结果高于检测位置的实际光强，从而出现对光检测电路检测位置是否受到光攻击的误判，使得光检测电路的可靠性较低。
[0019]有鉴于此，本申请提供了一种光检测电路，通过使温度补偿模块产生的补偿电流抵消光电转换模块产生的随温度变化的第二电流，减小了高温下较大的第二电流对电流的比较结果的影响，也即减小了第二电流对光检测结果的影响，可以提高光检测电路的可靠性，较为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光检测电路，其特征在于，所述电路包括：光电转换模块、放大模块、温度补偿模块以及电流比较模块；所述光电转换模块、所述放大模块以及所述电流比较模块串联，所述温度补偿模块的第一端连接电源线路，所述温度补偿模块的第二端连接所述光电转换模块的第一端，所述光电转换模块的第二端与所述电流比较模块的第二端接地；所述光电转换模块，用于产生光电转换电流，所述光电转换电流包括由光信号转换的第一电流和随环境温度变化的第二电流；所述温度补偿模块，用于产生抵消所述第二电流的补偿电流；所述放大模块，用于放大所述光电转换模块输入的第二电流被所述温度补偿模块产生的所述补偿电流抵消后的光电转换电流，输出第三电流；所述电流比较模块，用于比较所述第三电流和预先配置的基准电流的大小，输出比较结果；所述比较结果用于表示所述光电转换模块所处环境的光强是否超出预设的光强阈值。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述放大模块包括：第一晶体管和第二晶体管；所述第一晶体管与所述第二晶体管连接为电流镜，所述第二晶体管的发射极面积大于所述第一晶体管的发射极面积；所述电流镜用于放大所述光电转换模块输入的所述第一电流，输出第三电流。3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述光电转换模块在所述环境温度变化范围内产生的第二电流的第一变化曲线与所述温度补偿模块在所述环境温度变化范围内产生的电流的第二变化曲线的拟合度不小于预设的参考阈值。4.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述温度补偿模块，包括：MOS...

【专利技术属性】
技术研发人员：豆玉娇，马迁，
申请(专利权)人：紫光同芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：