本申请提供一种光照检测电路及光照检测装置，其中，光照检测电路包括光照检测模块、控制模块和负载调节模块；光照检测模块，用于获取光照电压；控制模块，用于将光照电压与预设的基准电压进行比较，确定控制电压；负载调节模块，用于根据控制电压确定负载电阻，以使负载电阻与光照强度相匹配，并根据负载电阻的输出电压和控制电压确定光照强度。本申请通过不同的光照强度确定控制电压，通过控制电压确定对应的负载电阻，从而根据负载电阻的输出电压和控制电压共同确定光照强度，提高了不同光照强度的区分度，扩大了光照检测范围。扩大了光照检测范围。扩大了光照检测范围。
【技术实现步骤摘要】
光照检测电路及光照检测装置
[0001]本申请属于光照检测
，尤其涉及一种光照检测电路及光照检测装置。
技术介绍
[0002]目前，在进行光照检测时，一般采用光敏电阻实现。光敏电阻是一种能够根据半导体的光电效应，使电阻阻值跟随入射光的强弱变化而变化的光照检测器件。
[0003]在光敏电阻检测光照强度时，一般根据光敏电阻连接的负载电阻的输出电压确定光照强度。但是，当负载电阻的输出电压接近供电电压时，光敏电阻的检测精度逐渐降低，导致光敏电阻的光照检测范围较小。
技术实现思路
[0004]本申请的目的在于提供一种光照检测电路及光照检测装置，旨在解决传统光照检测电路的检测范围较小的问题。
[0005]为了实现上述目的，第一方面，本申请实施例提供了一种光照检测电路，包括光照检测模块、控制模块和负载调节模块；
[0006]所述控制模块分别与所述光照检测模块和所述负载调节模块电连接，所述光照检测模块与所述负载调节模块电连接；
[0007]所述光照检测模块，用于获取光照电压；
[0008]所述控制模块，用于将所述光照电压与预设的基准电压进行比较，确定控制电压；
[0009]所述负载调节模块，用于根据所述控制电压确定负载电阻，以使所述负载电阻与所述光照强度相匹配，并根据所述负载电阻的输出电压和所述控制电压确定所述光照强度。
[0010]在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述控制模块包括分压单元和比较单元；
[0011]所述比较单元分别与所述分压单元、所述光照检测模块和所述负载调节模块电连接；
[0012]所述分压单元，用于将电源电压分为多个预设的基准电压；
[0013]所述比较单元，用于将所述光照电压与多个所述基准电压进行比较，确定多个控制电压。
[0014]在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述分压单元包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；
[0015]所述第一电阻的一端与电源电压电连接，所述第一电阻的另一端分别与所述比较单元和所述第二电阻的一端电连接，所述第二电阻的另一端分别与所述比较单元和第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端分别与所述比较单元和所述第四电阻的一端电连接，所述第四电阻的另一端接地。
[0016]在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述比较单元包括第一比较器、第二比
较器和第三比较器；
[0017]所述第一比较器的正输入端与所述光照检测模块电连接，所述第一比较器的负输入端与所述第一电阻和所述第二电阻的公共连接端连接，所述第一比较器的输出端与所述负载调节模块电连接；
[0018]所述第二比较器的正输入端与所述光照检测模块电连接，所述第二比较器的负输入端与所述第二电阻和所述第三电阻的公共连接端连接，所述第二比较器的输出端与所述负载调节模块电连接；
[0019]所述第三比较器的正输入端与所述光照检测模块电连接，所述第三比较器的负输入端与所述第三电阻和所述第四电阻的公共连接端连接，所述第三比较器的输出端与所述负载调节模块电连接。
[0020]在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述光照检测模块包括光敏电阻；
[0021]所述光敏电阻的一端与电源电压电连接，所述光敏电阻的另一端分别与所述控制模块和所述负载调节模块电连接。
[0022]在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述负载调节模块包括基础负载单元和可调负载单元；
[0023]所述基础负载单元分别与所述可调负载单元、所述光照检测模块和所述控制模块电连接；
[0024]所述基础负载单元，用于根据所述控制电压确定基础负载；
[0025]所述可调负载单元，用于根据所述控制电压确定调节负载，并将所述调节负载与所述基础负载结合确定所述负载电阻，其中，所述负载电阻的阻值小于所述基础负载的阻值。
[0026]在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述基础负载单元包括第五电阻；
[0027]所述第五电阻的一端分别与所述可调负载单元、所述光照检测模块和所述控制模块电连接，所述第五电阻的另一端接地。
[0028]在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述可调负载单元包括第一模拟开关、第二模拟开关、第三模拟开关、第六电阻、第七电阻和第八电阻；
[0029]所述第一模拟开关的输入端与所述第六电阻的一端电连接，所述第六电阻的另一端与所述基础负载单元、所述光照检测模块和所述控制模块电连接，所述第一模拟开关的控制端与所述控制模块电连接；所述第二模拟开关的输入端与所述第七电阻的一端电连接，所述第七电阻的另一端与所述基础负载单元、所述光照检测模块和所述控制模块电连接，所述第二模拟开关的控制端与所述控制模块电连接；所述第三模拟开关的输入端与所述第八电阻的一端电连接，所述第八电阻的另一端与所述基础负载单元、所述光照检测模块和所述控制模块电连接，所述第三模拟开关的控制端与所述控制模块电连接；所述第一模拟开关的输出端、所述第二模拟开关的输出端和所述第三模拟开关的输出端均接地。
[0030]在第一方面的另一种可能的实施方式中，所述第一模拟开关、所述第二模拟开关和所述第三模拟开关均包括NMOS管。
[0031]第二方面，本申请实施例提供了一种光照检测装置，包括所述的光照检测电路。
[0032]本申请实施例与现有技术相比存在的有益效果是：上述的光照检测电路，通过不同的光照强度确定控制电压，通过控制电压确定对应的负载电阻，从而根据负载电阻的输
出电压和控制电压共同确定光照强度，提高了不同光照强度的区分度，扩大了光照检测范围。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0034]图1为本申请实施例提供的光照检测电路的结构示意图；
[0035]图2为本申请实施例提供的光照检测电路的电路图；
[0036]图3为传统光照检测电路的光照检测图；
[0037]图4为本申请实施例提供的光照检测电路的光照检测图。
[0038]附图标记说明：
[0039]1‑
光照检测模块，2
‑
控制模块，21
‑
分压单元，22
‑
比较单元，3
‑
负载调节模块，31
‑
基础负载单元，32
‑
可调负载单元。
具体实施方式
[0040]为了使本申请所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0041]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光照检测电路，其特征在于，包括光照检测模块、控制模块和负载调节模块；所述控制模块分别与所述光照检测模块和所述负载调节模块电连接，所述光照检测模块与所述负载调节模块电连接；所述光照检测模块，用于获取光照电压；所述控制模块，用于将所述光照电压与预设的基准电压进行比较，确定控制电压；所述负载调节模块，用于根据所述控制电压确定负载电阻，以使所述负载电阻与光照强度相匹配，并根据所述负载电阻的输出电压和所述控制电压确定所述光照强度。2.如权利要求1所述的光照检测电路，其特征在于，所述控制模块包括分压单元和比较单元；所述比较单元分别与所述分压单元、所述光照检测模块和所述负载调节模块电连接；所述分压单元，用于将电源电压分为多个预设的基准电压；所述比较单元，用于将所述光照电压与多个所述基准电压进行比较，确定多个控制电压。3.如权利要求2所述的光照检测电路，其特征在于，所述分压单元包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻；所述第一电阻的一端与电源电压电连接，所述第一电阻的另一端分别与所述比较单元和所述第二电阻的一端电连接，所述第二电阻的另一端分别与所述比较单元和第三电阻的一端电连接，所述第三电阻的另一端分别与所述比较单元和所述第四电阻的一端电连接，所述第四电阻的另一端接地。4.如权利要求3所述的光照检测电路，其特征在于，所述比较单元包括第一比较器、第二比较器和第三比较器；所述第一比较器的正输入端与所述光照检测模块电连接，所述第一比较器的负输入端与所述第一电阻和所述第二电阻的公共连接端连接，所述第一比较器的输出端与所述负载调节模块电连接；所述第二比较器的正输入端与所述光照检测模块电连接，所述第二比较器的负输入端与所述第二电阻和所述第三电阻的公共连接端连接，所述第二比较器的输出端与所述负载调节模块电连接；所述第三比较器的正输入端与所述光照检测模块电连接，所述第三比较器的负输入端与所述第三电阻和所述第四电阻的公共连接端连接，所述第三比较器的输出端与所述负载调节模块电连接。5.如权利要求1所述的光照检测电路，其特征在于，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈泽锴，
申请(专利权)人：普联技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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