本实用新型专利技术公开了一种具有方阻检测功能的复卷设备，包括机架和用于检测导电薄膜的方阻的非接触式方阻测试系统，所述机架上设置有放卷机构、薄膜传输机构和收卷机构，所述非接触式方阻测试系统包括一排沿所述导电薄膜的幅宽方向间隔设置的探头单元，一排所述探头单元设置在所述机架上，所述导电薄膜的走膜路径经过一排所述探头单元的检测区域。本实用新型专利技术提供的复卷设备将复卷机与非接触式方阻测试系统结合，不仅节省了导电薄膜取样工序，且测试结果更加准确。试结果更加准确。试结果更加准确。
【技术实现步骤摘要】
一种具有方阻检测功能的复卷设备
[0001]本技术涉及复卷设备
，具体的涉及一种具有方阻检测功能的复卷设备。
技术介绍
[0002]目前对导电薄膜的方阻进行检测时，对大幅宽的薄膜进行取样，通过四探针方阻检测仪进行方阻检测，检测时，四探针与导电薄膜按压接触，按压力度不同，会导致测试结果不同。同时，这种检测方式，由于是取样检测，检测结果无法完全代表全幅宽、全长度的导电薄膜的方阻。同时，现有复卷机上没有检测方阻的机构。
[0003]以上不足，有待改善。
技术实现思路
[0004]为了克服现有中通过四探针方阻检测仪对大幅宽的薄膜进行方阻检测时，四探针与导电薄膜按压接触，按压力度不同，会导致测试结果不同，以及由于是取样检测，检测结果无法完全代表全幅宽、全长度的导电薄膜的方阻的问题，本技术提供一种具有方阻检测功能的复卷设备。
[0005]本技术技术方案如下所述：
[0006]一种具有方阻检测功能的复卷设备，包括机架和用于检测导电薄膜的方阻的非接触式方阻测试系统，所述机架上设置有放卷机构、薄膜传输机构和收卷机构，所述非接触式方阻测试系统包括一排沿所述导电薄膜的幅宽方向间隔设置的探头单元，一排所述探头单元设置在所述机架上，所述导电薄膜的走膜路径经过一排所述探头单元的检测区域。
[0007]根据上述方案的本技术，所述探头单元包括上下相对设置的第一探头和第二探头，所述导电薄膜的走膜路径经过所述第一探头与所述第二探头之间，所述第一探头的内部设置有发射线圈，所述第二探头的内部设置有接收线圈。
[0008]进一步的，所述非接触式方阻测试系统还包括低频信号发生器、电势测量模块和第一信号处理模块，所述发射线圈与所述低频信号发生器电连接，所述接收线圈与所述电势测量模块电连接，所述电势测量模块还与所述第一信号处理模块电连接。
[0009]更进一步的，所述非接触式方阻测试系统还包括第一显示模块，所述第一信号处理模块还与所述第一显示模块电连接。
[0010]根据上述方案的本技术，所述探头单元包括第三探头，所述导电薄膜的走膜路径经过所述第三探头的检测区域，所述第三探头的内部设置有检测线圈。
[0011]进一步的，所述非接触式方阻测试系统还包括高频信号发生器、高频振荡器、鉴频器和第二信号处理模块，所述高频信号发生器与所述检测线圈电连接，所述检测线圈还与所述高频振荡器电连接，所述高频振荡器还与鉴频器电连接，所述鉴频器还与所述第二信号处理模块电连接。
[0012]更进一步的，所述非接触式方阻测试系统还包括第二显示模块，所述第二信号处
理模块还与所述第二显示模块电连接。
[0013]根据上述方案的本技术，所述薄膜传输机构包括张力辊、展平辊、第一驱动辊组、第二驱动辊组和第一包胶压辊，所述第一包胶压辊压向所述收卷机构，所述导电薄膜从所述放卷机构出来，依次经过所述张力辊、所述展平辊、所述第一驱动辊组、所述第二驱动辊组和所述第一包胶压辊后，收卷于所述收卷机构中。
[0014]进一步的，所述第一驱动辊组与所述第二驱动辊组之间的所述导电薄膜的走膜路径与水平面平行，并位于一排所述探头单元的检测区域内。
[0015]更进一步的，所述薄膜传输机构还包括第一导辊和第二导辊，所述第一导辊设置在所述放卷机构与所述张力辊之间，所述第二导辊设置在所述第二驱动辊组与所述第一包胶压辊之间，所述导电薄膜从所述放卷机构出来，依次经过所述第一导辊、所述张力辊、所述展平辊、所述第一驱动辊组、所述第二驱动辊组、所述第二导辊和所述第一包胶压辊后，收卷于所述收卷机构中。
[0016]更进一步的，所述第一驱动辊组包括上下设置的第一主动辊和第二主动辊，所述第二驱动辊组包括上下设置的第二包胶压辊和第三主动辊，所述第二包胶压辊压向所述第三主动辊，所述导电薄膜依次经过所述第一主动辊和所述第二主动辊之间、所述第二包胶压辊和所述第三主动辊之间。
[0017]根据上述方案的本技术，本技术的有益效果在于：
[0018]本技术提供的复卷设备，将复卷机与非接触式方阻测试系统结合，可以实现复卷的同时采用非接触方式实时检测导电薄膜全幅宽、全长度的方阻，不仅节省了导电薄膜取样工序，且测试结果更加准确。
附图说明
[0019]图1为本技术第一实施例的结构示意图；
[0020]图2为本技术第一实施例中非接触式方阻测试系统的原理图；
[0021]图3为本技术第二实施例的结构示意图；
[0022]图4为本技术第二实施例中非接触式方阻测试系统的原理图。
[0023]在图中，
[0024]1、机架；2、放卷机构；3、收卷机构；4、导电薄膜；5、第一探头；6、第二探头；7、低频信号发生器；8、电势测量模块；9、第一信号处理模块；10、第一显示模块；11、第三探头；12、高频信号发生器；13、高频振荡器；14、鉴频器；15、第二信号处理模块；16、第二显示模块；17、第一导辊；18、张力辊；19、展平辊；20、第二导辊；21、第一包胶压辊；22、第一主动辊；23、第二主动辊；24、第二包胶压辊；25、第三主动辊。
具体实施方式
[0025]为了使本技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。
[0026]需要说明的是，术语“设置”、“连接”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非
另有明确的限定。术语“上”、“下”、“内”等指示的方位或位置为基于附图所示的方位或位置，仅是为了便于描述，不能理解为对本技术方案的限制。
[0027]请参阅图1，本实施例提供一种具有方阻检测功能的复卷设备，包括机架1和用于检测导电薄膜4的方阻的非接触式方阻测试系统，机架1上设置有放卷机构2、薄膜传输机构和收卷机构3，非接触式方阻测试系统包括一排沿导电薄膜4的幅宽方向间隔设置的探头单元，一排探头单元设置在机架1上，导电薄膜4的走膜路径经过一排探头单元的检测区域。导电薄膜4从放卷机构2出来，经过薄膜传输机构后，收卷于收卷机构3中。其中，导电薄膜4经过薄膜传输机构时会经过一排探头单元的检测区域，从而可以实现复卷的同时采用非接触方式实时检测导电薄膜4全幅宽、全长度的方阻。
[0028]请参阅图1、图2，在一个实施例中，探头单元包括上下相对设置的第一探头5和第二探头6，导电薄膜4的走膜路径经过第一探头5与第二探头6之间，第一探头5的内部设置有发射线圈，第二探头6的内部设置有接收线圈。非接触式方阻测试系统还包括低频信号发生器7、电势测量模块8、第一信号处理模块9和第一显示模块10，发射线圈与低频信号发生器7电连接，接收线圈与电势测量模块8电连接，电势测量模块8还与第一信号处理模块9电连接本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种具有方阻检测功能的复卷设备，其特征在于，包括机架和用于检测导电薄膜的方阻的非接触式方阻测试系统，所述机架上设置有放卷机构、薄膜传输机构和收卷机构，所述非接触式方阻测试系统包括一排沿所述导电薄膜的幅宽方向间隔设置的探头单元，一排所述探头单元设置在所述机架上，所述导电薄膜的走膜路径经过一排所述探头单元的检测区域。2.根据权利要求1所述的具有方阻检测功能的复卷设备，其特征在于，所述探头单元包括上下相对设置的第一探头和第二探头，所述导电薄膜的走膜路径经过所述第一探头与所述第二探头之间，所述第一探头的内部设置有发射线圈，所述第二探头的内部设置有接收线圈。3.根据权利要求2所述的具有方阻检测功能的复卷设备，其特征在于，所述非接触式方阻测试系统还包括低频信号发生器、电势测量模块和第一信号处理模块，所述发射线圈与所述低频信号发生器电连接，所述接收线圈与所述电势测量模块电连接，所述电势测量模块还与所述第一信号处理模块电连接。4.根据权利要求3所述的具有方阻检测功能的复卷设备，其特征在于，所述非接触式方阻测试系统还包括第一显示模块，所述第一信号处理模块还与所述第一显示模块电连接。5.根据权利要求1所述的具有方阻检测功能的复卷设备，其特征在于，所述探头单元包括第三探头，所述导电薄膜的走膜路径经过所述第三探头的检测区域，所述第三探头的内部设置有检测线圈。6.根据权利要求5所述的具有方阻检测功能的复卷设备，其特征在于，所述非接触式方阻测试系统还包括高...
【专利技术属性】
技术研发人员：臧世伟，
申请(专利权)人：重庆金美新材料科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。