一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及半导体检测技术领域，公开了一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置，包括贴装有样品芯片的老化试验板、电源、显微镜、摄像头和终端，所述老化试验板与电源电连接，所述摄像头与终端信号连接，所述老化试验板与电源之间设置有连接器和控制器，所述老化试验板插接在连接器上，所述连接器与控制器电连接，所述控制器与电连接，所述控制器上设置有多个控制开关。本实用新型专利技术能够解决现有技术中通过连接线手动点亮样品芯片的方式，在较小空间的操作不方便，效率较低的问题。效率较低的问题。效率较低的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置


[0001]本技术涉及半导体检测
，尤其涉及一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置。

技术介绍

[0002]目前，在对光电样品芯片进行检测分析时，通常使用显微镜进行目视化外观检查和光学测试系统进行光电性能测试。但在有些情况下，还需要观察样品在特殊条件下的工作状态，来获取更直观且准确的观测结果。
[0003]例如基于某些正常的光电芯片，已知它的阀值电流，当这些芯片在使用时经受了静电击伤后，工作人员需要观察静电击伤后芯片的受损情况。但由于这种破坏很细微，人眼无法容易地识别其变化，同时光电数据的变化也并不明显，所以目视化检查和常规的光电性能测试都无法识别出失效的准确现象。
[0004]因此，现有技术中通过采用以阀值电流/小电流条件将芯片点亮，再使用显微镜进行目视化外观检查和光学测试系统观察芯片表面的变化，达到精准化分析。即先将样品芯片贴装到老化试验板上，再通过连接线手动接触老化试验板对应的正负极连接通道的方式将样品芯片点亮，最后将样品芯片移动到带摄像头(CCD)的显微镜下由工作人员在电脑上观察拍照。
[0005]但是通过连接线手动点亮样品芯片的方式，在较小空间的操作不方便，效率较低，而且手动点亮的过程中容易触碰到样品芯片，造成样品芯片损坏。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，本技术的目的是提供一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置，解决现有技术中通过连接线手动点亮样品芯片的方式，在较小空间的操作不方便，效率较低的问题。
[0007]本技术通过以下技术手段解决上述技术问题：
[0008]一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置，包括贴装有样品芯片的老化试验板、电源、显微镜、摄像头和终端，所述老化试验板与电源电连接，所述摄像头与终端信号连接，所述老化试验板与电源之间设置有连接器和控制器，所述老化试验板插接在连接器上，所述连接器与控制器电连接，所述控制器与电连接，所述控制器上设置有多个控制开关。
[0009]进一步，所述老化试验板包括基板和金手指，所述基板上设置有用于贴装样品芯片的多个固定点，所述金手指包括正极触头和负极触头，所述正极触头和负极触头均插接于连接器内。
[0010]进一步，所述连接器上设置有正极接头和负极接头，所述正极接头与正极触头电连接，所述负极接头与负极触头电连接。
[0011]进一步，多个所述控制开关包括正极开关和多个负极开关，所述正极开关的一端与正极接头之间电连接有正极导线，另一端与电源正极之间电连接有正极电源线，所述负
极开关的一端与负极接头之间电连接有负极导线，另一端与电源负极之间电连接有负极电源线。
[0012]进一步，所述电源的负极端设置有集合线，多个所述负极开关上的负极电源线均与集合线电连接。
[0013]进一步，所述显微镜的镜头下方设置有试验板载具，所述老化试验板可拆卸安装于试验板载具上。
[0014]本技术的一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置,通过设置连接器、控制器，以及控制器上的正极开关和负极开关，工作人员通过拨动控制开关，即可控制样品芯片的点亮或者熄灭，再通过摄像头将显微镜目镜中的图像传输至电脑中，工作人员选择清晰的图像保存，进行分析即可,无需工作人员通过连接线手动接触老化试验板对应的正负极连接通道的方式将样品芯片点亮，操作方便、简单、快捷，且无需担心因连接线触碰到样品芯片，造成样品芯片损坏的情况出现。
附图说明
[0015]图1是本技术一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置的结构示意图；
[0016]图2是本技术一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置的电路连接平面结构示意图；
[0017]图3是本技术一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置中老化试验板的结构示意图；
[0018]其中，老化试验板2，基板21，固定点211，金手指22，正极触头221，负极触头222，电源3，集合线31，显微镜4，摄像头5，终端6，实验板载具7，连接器8，正极接头81，负极接头82，控制器9，正极开关91，正极导线911，正极电源线912，负极开关92，负极导线921，负极电源线922。
具体实施方式
[0019]以下通过特定的具体实施例说明本技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容了解本技术的优点和功效。需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅用于示例性说明，表示的仅是示意图，而非实物图，不能理解为对本技术的限制，为了更好地说明本技术的实施例，图中某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对本领域技术人员来说，图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。
[0020]本技术实施例的图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件，在本技术的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”等指示的方位或位置关系为基于图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本技术的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述用于的具体含义。
[0021]如图1
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图3所示，本技术的一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置，包括贴装有样品芯片的老化试验板2、电源3、显微镜4、摄像头5和终端6，本实施例中，摄像头5
固定在显微镜的目镜端。老化试验板2与电源3电连接，摄像头5与终端6信号连接。电源3用于为点亮样品芯片提供电能，显微镜4用于观察样品芯片的细微损伤，并通过摄像头5将显微镜4目镜内的图像传输至终端6。本实施例中，终端6优选为搭载有配套软件的电脑，摄像头5传输至电脑中的图像能够实时显示，且工作人员通过操作电脑将需要的图像保存记录，以便工作人员精确化识别分析。
[0022]显微镜4的镜头下方设置有实验板载具7，老化试验板2可拆卸安装于实验板载具7上。通过实验板载具7对老化试验板2进行固定，防止在拍照时试验板移动或者倾斜。本实施例中不对实验板载具7的具体结构进行限制，可以为凹槽内卡设结构，老化试验板2卡设于凹槽内即可进行固定。也可为夹持板，将老化试验板2夹持稳固。
[0023]老化试验板2与电源3之间设置有连接器8和控制器9，老化试验板2插接在连接器8上，连接器8与控制器9电连接，控制器9与电连接，通过设置连接器8和控制器9，实现电源3与样品芯片电连接。控制器9上设置有多个控制开关，通过拨动控制开关，即可控制样品芯片的点亮或者熄灭，无需工作人员通过连接线手动接触老化试验板对应的正负极连接通道的方式将样品芯片点亮，操作方便、简单、快捷，无需担心因连接线触碰到样品芯片，造成样品芯片损坏的情况出现。
[0024]老化试验板2包括基板21和金手指22，基板21上设置有用于贴装样品芯片的多个固定点2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置，包括贴装有样品芯片的老化试验板、电源、显微镜、摄像头和终端，所述老化试验板与电源电连接，所述摄像头与终端信号连接，其特征在于：所述老化试验板与电源之间设置有连接器和控制器，所述老化试验板插接在连接器上，所述连接器与控制器电连接，所述控制器与电连接，所述控制器上设置有多个控制开关。2.根据权利要求1所述的一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置，其特征在于：所述老化试验板包括基板和金手指，所述基板上设置有用于贴装样品芯片的多个固定点，所述金手指包括正极触头和负极触头，所述正极触头和负极触头均插接于连接器内。3.根据权利要求2所述的一种应用于老化试验板的半自动点亮检查装置，其特征在于：所述连接器上设置有正极接头和负极接头，所述正极...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢翔，
申请(专利权)人：威科赛乐微电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：