MCU的IO接口检测电路及MCU的ATE自动化设备制造技术

本实用新型专利技术公开一种MCU的IO接口检测电路及MCU的ATE自动化设备。该检测电路包括处理模块和通信模块；用于检测待检测MCU的IO连通性，待检测MCU包括IO模块和比较模块；通信模块电连接于待检测MCU与处理模块之间，处理模块通过通信模块对待检测MCU的IO模块进行检测；IO模块被配置为输入IO与输出IO，输入IO与输出IO存在信号交换关系，比较模块的输入端接收IO模块的信号进行比较，并输出比较结果，通信模块将比较结果输出到处理模块，处理模块判断待检测MCU的IO连通性是否异常。测MCU的IO连通性是否异常。测MCU的IO连通性是否异常。

【技术实现步骤摘要】
MCU的IO接口检测电路及MCU的ATE自动化设备


[0001]本技术涉及电子
，尤其涉及一种MCU的IO接口检测电路及MCU的ATE自动化设备。

技术介绍

[0002]现有技术中，检测MCU的IO接口的连通性的装置包括反向二极管与万用表，其中反向二极管与IO口相连，万用表接反向二极管，以此来检测IO的连通性。
[0003]该装置只能每个IO口逐个检测，效率很低，操作复杂。

技术实现思路

[0004]针对现有技术存在的不足，本技术的目的是提供一种MCU的IO接口检测电路及MCU的ATE自动化设备，用于解决现有技术中检测装置效率低和操作复杂的问题。
[0005]根据本技术的第一个方面，提供了MCU的IO接口检测电路，用于与待检测MCU电连接，检测待检测MCU的IO连通性，待检测MCU包括IO模块和比较模块，包括处理模块和通信模块；
[0006]通信模块电连接于待检测MCU与处理模块之间，处理模块通过通信模块对待检测MCU的IO模块进行检测；
[0007]IO模块被配置为输入IO与输出IO，输入IO与输出IO存在信号交换关系，比较模块的输入端接收IO模块的信号进行比较，并输出比较结果，通信模块将比较结果输出到处理模块，处理模块判断待检测MCU的IO连通性是否异常。
[0008]本技术的MCU的IO接口检测电路，通过将IO模块配置为输入IO与输出IO，并使输入IO与输出IO存在信号交换关系，利用待检测MCU的比较模块来比较IO模块的信号，以此判断待检测MCU的IO连通性是否异常，从而利用IO口自身检测能力，实现IO自检测，提高IO连通性的检测效率和较低检测的操作难度。
[0009]在一些实施方式中，信号交换关系为每个输入IO仅与一个输出IO通信连接，每个输出IO仅与一个输入IO通信连接。
[0010]在一些实施方式中，输入IO与输出IO之间电连接有信号处理装置，信号处理装置从输出IO接收信号，并发送与接收信号完全相同的信号给输入IO。
[0011]在一些实施方式中，输入IO与输出IO短接。
[0012]在一些实施方式中，还包括将输入IO配置为输出IO，输出IO配置为输入IO；重新检测确认输入IO作为输出IO的连通性，以及输出IO作为输入IO的连通性。
[0013]在一些实施方式中，IO模块有多对通信连接的输入IO与输出IO；
[0014]若检测到一对IO对出现异常，将其中的输入IO、输出IO分别与其他正常IO对中的输出IO、输入IO重新形成通信连接，重新检测确认出现连通性异常的IO。由此，可进一步测得具体出现连通性异常的IO，提高准确性。
[0015]在一些实施方式中，还包括socket座，socket座设置有引脚，待检测MCU安装于
socket座，待检测MCU的引脚与socket座的引脚对应电连接。由此，可解决待检测MCU上IO相互连接不便的问题。
[0016]在一些实施方式中，通信模块与socket座的引脚电连接，通信模块通过socket座与待检测MCU形成通信连接。
[0017]在一些实施方式中，还包括电源模块，电源模块与socket座电连接，电源模块通过socket座给待检测MCU供电。
[0018]根据本技术的第二个方面，提供一种MCU的ATE自动化设备，该MCU的ATE自动化设备包括上述的MCU的IO接口检测电路。
[0019]与现有技术相比，本技术的MCU的IO接口检测电路及MCU的ATE自动化设备，通过将IO模块配置为输入IO与输出IO，并使输入IO与输出IO存在信号交换关系，利用待检测MCU的比较模块来比较IO模块的信号，以此判断待检测MCU的IO连通性是否异常，从而利用IO口自身检测能力，实现IO自检测，提高IO连通性的检测效率和较低检测的操作难度。
附图说明
[0020]图1为本技术一实施方式的MCU的IO接口检测电路与待检测MCU的连接示意图；
[0021]图2为本技术一实施方式的待检测MCU的输入IO与输出IO的第一种连接方式示意图；
[0022]图3为本技术一实施方式的异常IO对与正常IO对连接的示意图；
[0023]图4为本技术一实施方式的待检测MCU的输入IO与输出IO的第二种连接方式示意图；
[0024]图5为本技术一实施方式的待检测MCU的输入IO与输出IO的第三种连接方式示意图；
[0025]图6为本技术一实施方式的待检测MCU、通信模块、电源模块与socket座的连接示意图；
[0026]图7为本技术一实施方式的MCU的ATE自动化设备与待检测MCU的连接示意图。
[0027]附图标号说明：待检测MCU100，IO模块110，输入IO111，输出IO112，比较模块120，处理模块200，通信模块300，信号处理装置400，socket座500，电源模块600，设备700。
具体实施方式
[0028]下面结合附图对本技术作进一步详细的说明。
[0029]根据本技术的第一个方面，图1
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6示意性地显示了根据本技术的一种实施方式的MCU的IO接口检测电路。如图1所示，该MCU的IO接口检测电路用于与待检测MCU100电连接，检测待检测MCU100的IO连通性，待检测MCU100包括IO模块110和比较模块120，其中，IO模块110包括多个IO，IO模块110可被配置为输入IO111与输出IO112，即可将IO模块110中的每个IO按照需要配置为输入IO111或输出IO112，对于同一个IO可以进行两次检测，即同一个IO作为输入IO111检测一次，作为输出IO112检测一次；比较模块120的输入端分别与输入IO111的输出端、输出IO112的输出端电连接。当然，在其他实施例中，IO也可以只进行一次检测，即该IO只作为输入IO111检测一次或只作为输出IO112检测一次。
[0030]如图1所示，该MCU的IO接口检测电路包括处理模块200和通信模块300；通信模块300电连接于待检测MCU100与处理模块200之间，处理模块200通过通信模块300与待检测MCU100形成通信连接，对待检测MCU100的IO模块110进行检测；IO模块110被配置为输入IO111与输出IO112，输入IO111与输出IO112之间存在信号交换关系，比较模块120中配置有标准电平，比较模块120的输入端接收输入IO111的输出信号与标准电平进行比较，并输出比较结果，然后再次通过通信模块300将比较结果输出到处理模块200，处理模块200判断待检测MCU100的IO连通性是否异常。其中，IO模块110的信号为电平信号。当然，在其他实施例中，比较模块120的输入端也可以接收存在信号交换关系的输入IO111的输出信号、输出IO112的输出信号进行比较，并输出比较结果。
[0031]该MCU的I本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种MCU的IO接口检测电路，用于与待检测MCU电连接，检测所述待检测MCU的IO连通性，所述待检测MCU包括IO模块和比较模块，其特征在于，包括：处理模块；通信模块，所述通信模块电连接于所述待检测MCU与所述处理模块之间，所述处理模块通过所述通信模块对所述待检测MCU的所述IO模块进行检测；所述IO模块被配置为输入IO与输出IO，所述输入IO与所述输出IO存在信号交换关系，所述比较模块的输入端接收所述IO模块的信号进行比较，并输出比较结果，所述通信模块将所述比较结果输出到所述处理模块，所述处理模块判断所述待检测MCU的IO连通性是否异常。2.根据权利要求1所述的MCU的IO接口检测电路，其特征在于，所述信号交换关系为每个所述输入IO仅与一个所述输出IO通信连接，每个所述输出IO仅与一个所述输入IO通信连接。3.根据权利要求2所述的MCU的IO接口检测电路，其特征在于，所述输入IO与所述输出IO之间电连接有信号处理装置，所述信号处理装置从所述输出IO接收信号，并发送与接收信号完全相同的信号给所述输入IO。4.根据权利要求2所述的MCU的IO接口检测电路，其特征在于，所述输入IO与所述输出IO短接。5.根据权利要求1所述的MCU的IO接口检测电路，其特征在于，还包括将所述输入IO配置为输出IO，所述输出IO配置为...

【专利技术属性】
技术研发人员：张吉红，王军，张强，楼鹏，
申请(专利权)人：郑州大学，
类型：新型
国别省市：