用于光记录介质的记录和/或再现设备及方法技术

一种记录和／或再现设备及其方法，可使信息记录在光盘的任意多个记录层上或再现该信息。在该方法中，可检索光盘一预定记录层的最佳聚焦偏置位置，一步一步地改变偏置值及检索跟踪误差信号幅度呈现最大值的偏置值。在检索出一最佳聚焦偏置位置后，存储这个值。对其他任一记录层也执行相同的处理。当产生再现一预定记录层的指令时，聚焦跳跃到该记录层。之后，读出检索出的和提前存储的最佳聚焦偏置值并将其加到聚焦误差信号上。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及记录和/或再现设备以及记录和/或再现方法，特别涉及这样一种记录和/或再现设备和记录和/或再现方法，其中在具有两个或多个记录层的光盘的情况下，能快速而可靠地执行聚焦控制。以高密盘为代表的一种光盘只具有一个信息记录层。近年来要求增加记录容量。这是能够达到的，例如通过减小轨道间距或者减小凹坑的尺寸。还推荐出一种不同类型的光盘，在其中形成多个记录层，以便进一步增加其容量。图21作为例子表示刚刚述及的一种光盘的结构，参照图21，在所示的光盘中，记录层A在光盘基板101上形成，而另外一记录层B在该记录层A上形成。而在该记录层B上形成保护层102。光盘基板101由例如透明材料聚碳酸酯做成。记录层A由半透膜做成，而记录层B是由例如铝或类似金属的金反射薄膜做成。为了从记录层A再现信息，如标符L1所示，一激光束聚焦在记录层A上，然后检测从该记录层A的反射光。另一方面，为了再现记录在记录层B上的信息，则如标符L2所示，一激光束通过由半透膜做成的记录层A聚焦在记录层B上。然后接收并检测从记录层B反射并通过记录层A的反射光。按此方式，由于记录层A由半透膜做成，记录层B的信息能通过记录层A读出。当一激光束聚焦在记录层A(或记录层B)上时，为使作为再现客体的记录层改变到记录层B(或记录层A)，应将跳变脉冲加到聚焦伺服环路，以便使光学头跳向新的记录层，然后应施加聚焦伺服，以使在新的记录上能将聚焦误差信号减至最小。但是，由于光学头或光盘在生产中或其他原因形成的分散性，聚焦误差信号呈现最小值的位置未必是准确的聚焦位置。因此，通常是将一个偏置信号加到该聚焦误差信号上，从而得到最佳聚焦条件。然而，在相关的技术设备中，该偏置值是固定的，不管是从哪一个记录层再现信息。因此，该相关的技术设备有一个待解决的问题，那就是从多个记录层稳定地再现信息是困难的。本专利技术的一个目的在于提供一种记录和/或再现设备以及一种记录和/或再现方法，通过这种设备和/或方法，信息能精确地记录到一个光盘的任意多个记录层上，或从它准确地再现。为达到上述目的，根据本专利技术的一个方面，提供了一种用于光记录介质的记录和/或再现设备，它包括一光学装置，用于在记录介质上记录信息或从该介质再现信息，一聚焦控制装置，用于响应一聚焦误差信号来控制光学装置的聚焦状态，一发生装置，用于根据由光学装置再现的一信号产生光学装置的聚焦偏置信号，以及一附加装置，用于将该聚焦偏置信号附加到该聚焦误差信号。最好，该发生装置包括一检索装置，用于根据由该光学装置再现的信号来检索一最佳聚焦偏置位置。在该记录和/或再现设备中，光学装置在该记录介质上记录信息和/或从该记录介质再现信息，聚焦控制装置响应一聚焦误差信号控制光学装置的聚焦状态。之后，发生装置根据由光学装置再现的一信号产生该光学装置的一聚焦偏置信号，而附加装置将该聚焦偏置信号附加到聚焦误差信号上。为了使该发生装置产生一聚焦偏置信号，其检索装置根据由该光学装置再现的信号检索一最佳聚焦偏置位置。对于这种记录和/或再现设备，由于检索了用于在记录介质上记录信息或从它再现信息的光的最佳聚焦偏置位置，以及响应该检索结果，光学装置的一聚焦偏置信号被附加到聚焦误差信号，因而信息无论被记录或再现到/从记录介质的多个记录层的哪一层，都能正常实现最佳聚焦状态，而不管记录介质的分散或随时间的变化。按本专利技术的另一方面，提供了用于一种记录介质的记录和/或再现方法，它包括以下步骤用光学装置将信息记录到记录介质上和/或从记录介质再现信息，产生一聚焦误差信号，根据由光学装置再现的信号产生该光学装置的一聚焦偏置信号，将该聚焦偏置信号附加到聚焦误差信号，以及根据附加了聚焦偏置信号的聚焦误差信号控制光学装置聚焦状态。最好，产生聚焦偏置信号的步骤包括根据由光学装置再现的信号检索最佳聚焦偏置位置的步骤。在该记录和/或再现方法中，通过光学装置，将信息记录到记录介质和/或从该介质再现信息，并产生一聚焦误差信号。然后，根据由该光学装置再现的信号产生光学装置的一聚焦偏置信号，且该聚焦偏置信号被附加到该聚焦误差信号上。之后，根据附加了聚焦偏置信号的聚焦误差信号，控制光学装置的聚焦状态。为了控制光学装置的聚焦状态，根据由光学装置再现的信号检索最佳聚焦偏置位置。对于该记录和/或再现方法，由于检搜索了用于在记录介质上记录信息或从它再现信息的最佳聚焦偏置位置，以及响应检索结果，光学装置的一聚焦偏置信号被附加到聚焦误差信号上，因而信息在记录介质的多个记录层的无论哪一层上记录或再现，都能正常实现最佳聚焦状态，而不管记录介质的分散或随时间的变化。根据以下说明以及所附的权利要求，结合附图，本专利技术以上的和其他的目的，特征和优点将更为明显，在附图中，相同的部分或元件用相同的符号表示。附图说明图1是表示一种光盘再现设备的方块图，其中包括按本专利技术的一种记录和/或再现设备；图2是说明聚焦偏置和跟踪误差信号之间的关系的曲线；图3是说明图1的光盘再现设备的操作的流程图；图4是根据图1的光盘再现设备的初始操作而表示的一跟踪误差信号波形的波形图；图5是用爬山方法说明检测聚焦偏置的一最佳位置的原理的曲线；图6是按图5所示原理说明检测一最佳位置的处理的流程图；图7是根据上升突然变化点和下降突然变化点说明检测一最佳位置的原理；图8是按图7所示原理说明检测最佳位置处理的流程图；图9是说明用于光盘再现的可替换的操作的流程图；图10是另一光盘再现设备的方块图，它执行图9的处理，其中包括本专利技术的另一种记录和/或再现设备；图11是说明图1光盘再现设备的不同操作的流程图；图12是说明再一个光盘再现设备，其中包括本专利技术的再一个记录和/或再现设备；图13是说明又一个光盘再现设备，其中包括本专利技术的又一个记录和/或再现设备；图14是说明又再一个光盘再现设备，其中包括本专利技术的又再一个记录和/或再现设备；图15是说明聚焦偏置和跳动之间的关系的曲线；图16是说明用爬山法检测一最佳点的原理的曲线；图17是说明按图16原理检测一最佳位置的处理流程图；图18是说明根据一下降突然变化点和一上升突然变化点检测一最佳位置的原理的曲线；图19是说明按图18原理检测一最佳点的处理的流程图；图20是表示又另一个光盘再现设备的方块图，其中包括本专利技术的又另一个记录和/或再现设备；以及图21是表示两层光盘示意结构的截面图。首先参照图1，这里表示一种用于光盘的再现设备，其中包括本专利技术的记录和/或再现设备。参照图1，光盘具有多个(2个或更多个)记录(正在记录的/可记录的/已记录的)层，这里光盘1具有两层，它具有以上结合图21描述的结构。该光盘1通过主轴电机2以一预定的速度旋转。光学头3将一激光束照射在该光盘1上并从该光盘1接收其反射光。一PLL(锁相环)电路5对由记录在光盘1上的信号所再现的并由光学头3输出的RF(无线电频率)信号进行二进制数字化，以便产生一二进制RF信号，并提取该RF信号中的时钟信号，以便产生一同步用时钟信号。一CLV(固定线性速度)电路6接收由PLL电路5输出的二进制RF信号和同步用时钟信号，并输出一个代表它们之间相位误差的误差信号。开关8由一控制电路17控制来选择CLV电路6的一个输出和一初始驱动电路7的输出，并将所选的输出输出给主轴电机2。一数据解码本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于光记录介质的记录和／或再现设备，包括： 一光学装置，用于记录信息到记录介质和／或由记录介质再现信息； 一聚焦控制装置，用于响应聚焦误差信号控制所述光学装置的聚焦状态； 一产生装置，用于根据由所述光学装置再现的信号产生所述光学装置的聚焦偏置信号；以及 一相加装置，用于将该聚焦偏置信号加到该聚焦误差信号。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：筒井敬一，五十岚胜治，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：JP[日本]