一种轴向进样器校准装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及挥发性有机物前处理技术领域，公开了一种轴向进样器校准装置，通过在校准块底座上表面、校准块下部的圆柱体底面上均设有垂直相交的“十”字定位凹槽，且所述“十”字定位凹槽的末端均延伸至外侧壁，通过在校准块底座上表面设有以“十”字的中心为圆心的定位环凹槽，所述定位环凹槽内径与所述校准块的圆柱体外径相同，通过在样品盘上设有尖端指向孔位的中心轴线三角箭头，当通过目测使校准块、校准块底座的侧壁定位凹槽中心线与三角箭头的尖端对正时，校准块、校准块底座的“十”字定位凹槽重合，中心轴线与孔位的中心轴线重合，完成校准，通过设置的计算机精准记录电动夹持装置的位置点坐标系位置，确保初步校准位置精准无误。置精准无误。置精准无误。

【技术实现步骤摘要】
一种轴向进样器校准装置


[0001]本技术涉及挥发性有机物前处理
，尤其涉及一种轴向进样器校准装置。

技术介绍

[0002]目前，XYZ三轴移位装置采用电动夹爪直接夹持样品瓶进行校准，即首先夹持样品瓶校准起始位置，校准成功后，程序可以根据孔位间距自动计算出每个样品瓶孔位坐标；但由于样品瓶是透明玻璃材质，在校准过程中，很难将样品瓶对准样品瓶孔位中心位置，XYZ三轴移位装置在夹持样品瓶下降放置过程中，如果样品瓶中心偏离孔位中心过多，就会导致样品瓶与样品盘接触样品瓶倾斜，甚至炸裂。因此，如果起始位置校准不准确，程序计算的全盘孔位都会出现偏差，在后续的工作过程中，会出现刮瓶、卡瓶甚至瓶身炸裂的现象发生。

技术实现思路

[0003]本技术公开了一种轴向进样器校准装置，旨在解决现有技术中存在的技术问题。
[0004]本技术采用下述技术方案：
[0005]一种轴向进样器校准装置，包括XYZ三轴移位装置和样品盘,所述XYZ三轴移位装置设有电动夹持装置，所述电动夹持装置竖向夹持有校准块，在所述校准块的下方设有放置在所述样品盘孔位中的校准块底座，其中：
[0006]所述校准块底座上表面、所述校准块下部的圆柱体底面上均设有垂直相交的“十”字定位凹槽，所述“十”字定位凹槽的中心分别位于所述校准块底座、所述校准块的中心轴线上，且所述“十”字定位凹槽的末端均延伸至外侧壁，分别形成两两对应的侧壁定位凹槽；
[0007]所述样品盘上设有三角箭头，所述三角箭头的一尖端指向所述孔位的中心轴线；
[0008]还包括用于控制所述电动夹持装置移位的控制装置。
[0009]在一种实施例中，所述校准块圆柱体上设有的所述“十”字定位凹槽分别与所述XYZ三轴移位装置设有的X轴方向、Y轴方向平行；
[0010]所述校准块底座上表面还设有以“十”字的中心为圆心的定位环凹槽，所述定位环凹槽内径与所述校准块的圆柱体外径相同。
[0011]在一种实施例中，所述校准块圆柱体底面与所述校准块底座上表面均为水平平面。
[0012]在一种实施例中，所述校准块上部设有与所述电动夹持装置匹配的夹持柄，所述夹持柄设有两平行的夹持平面，且以所述校准块纵向中心平面为中心对称设置；所述圆柱体上设有的与X轴方向平行的“十”字定位凹槽中心平面与所述夹持柄的中心平面重合。
[0013]在一种实施例中，所述校准块底座包括下部设有的定位圆柱，所述定位圆柱的中心轴线与所述校准块底座的中心轴线重合，所述定位圆柱与所述孔位匹配定位,使得当对
所述校准块底座施加大于预设值的扭力时，所述定位圆柱相对所述孔位产生转动，当扭力小于所述预设值时，所述定位圆柱稳固在所述孔位中。
[0014]在一种实施例中，所述校准块底座上表面、所述圆柱体底面上设有的所述“十”字定位凹槽及所述定位环凹槽的宽度及深度均相同。
[0015]在一种实施例中，所述“十”字定位凹槽及所述定位环凹槽的宽度及深度的范围设为0.8
‑
2mm。
[0016]在一种实施例中，所述“十”字定位凹槽及所述定位环凹槽的宽度及深度的范围优选为1mm。
[0017]在一种实施例中，所述三角箭头的中心位于所述三角箭头中指向所述孔位中心轴线的尖端与所述孔位中心轴线的连线上。
[0018]在一种实施例中，所述控制装置包括控制所述电动夹持装置沿X轴、Y轴、Z轴移动的处理器及将所述电动夹持装置的位置点坐标系储存的储存器。
[0019]有益效果：
[0020]本技术公开了一种轴向进样器校准装置，与现有技术相比，本技术具有以下优点：
[0021]通过在所述校准块底座上表面、所述校准块下部的圆柱体底面上均设有垂直相交的“十”字定位凹槽，所述“十”字的中心均位于同一中心轴线上，且所述“十”字定位凹槽的末端均延伸至外侧壁，形成两两对应的侧壁定位凹槽，通过在校准块底座上表面设有以“十”字的中心为圆心的定位环凹槽，所述定位环凹槽内径与所述校准块的圆柱体外径相同，非常方便使所述校准块的圆柱体与所述定位环凹槽内径对正；通过在样品盘上设有尖端指向孔位的中心轴线三角箭头，通过目测就非常方便使所述校准块、所述校准块底座的侧壁定位凹槽与所述三角箭头的尖端对正；通过校准块底座下部设有与样品盘的孔位相对稳固的间隙配合的圆柱，既实现校准块底座的牢固定位又能转动对正，确保校准块、校准块底座“十”字定位凹槽重合，且校准块、校准块底座中心轴线与孔位中心轴线重合；通过设置控制装置驱动XYZ三轴移位装置设有电动夹持装置夹持校准块沿X轴、Y轴、Z轴移动，能够精准记录电动夹持装置的位置点坐标系位置，确保校准精准无误。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明解释本技术，并不构成对本技术的不当限定；在附图中：
[0023]图1为本技术实施例提供的轴向进样器校准装置技术方案结构示意图；
[0024]图2为校准块与校准块底座对准放置过程的立体图；
[0025]图3为校准块、校准块底座侧壁定位凹槽与三角箭头的尖部对正状态立体图；
[0026]图4为校准块技术方案结构示意图；
[0027]图5为图4的A向视图；
[0028]图6为图4的B向视图。
[0029]图中：
[0030]三轴移位装置1；电动夹爪11；校准块2；圆柱体21；圆柱体端面22；Y轴竖向侧槽23；
侧壁Y轴凹槽231；X轴竖向侧槽24；侧壁X轴凹槽241；夹持柄25；校准块底座3；定位环凹槽31；定位圆柱32；“十”字定位凹槽33；侧壁定位凹槽331；样品盘4；孔位41；三角箭头42；计算机5；处理器51；储存器52。
具体实施方式
[0031]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术具体实施例及相应的附图对本技术技术方案进行清楚、完整地描述。在本技术的描述中，需要说明的是，说明书及权利要求当中所提及的“包含”为一开放式用语，故应解释成“包含但不限定于”；“若干个”指多于2个。在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0032]如图1
‑
图6所示，本技术公开了一种轴向进样器校准装置，包括XYZ三轴移位装置1、校准块2、校准块底座3、样品盘4及控制所述XYZ三轴移位装置1的计算机5。
[0033]XYZ三轴移位装置1安装在样品盘4的一侧，设有X悬臂、Y悬臂、Z悬臂,电动夹爪在计算机5的控制下能够沿Z轴本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种轴向进样器校准装置，包括XYZ三轴移位装置和样品盘,其特征在于：所述XYZ三轴移位装置设有电动夹持装置，所述电动夹持装置竖向夹持有校准块，在所述校准块的下方设有放置在所述样品盘孔位中的校准块底座，其中：所述校准块底座上表面、所述校准块下部的圆柱体底面上均设有垂直相交的“十”字定位凹槽，所述“十”字定位凹槽的中心分别位于所述校准块底座、所述校准块的中心轴线上，且所述“十”字定位凹槽的末端均延伸至外侧壁，分别形成两两对应的侧壁定位凹槽；所述样品盘上设有三角箭头，所述三角箭头的一尖端指向所述孔位的中心轴线；还包括用于控制所述电动夹持装置移位的控制装置。2.根据权利要求1所述的轴向进样器校准装置，其特征在于：所述校准块圆柱体上设有的所述“十”字定位凹槽分别与所述XYZ三轴移位装置设有的X轴方向、Y轴方向平行；所述校准块底座上表面还设有以“十”字的中心为圆心的定位环凹槽，所述定位环凹槽内径与所述校准块的圆柱体外径相同。3.根据权利要求2所述的轴向进样器校准装置，其特征在于：所述校准块圆柱体底面与所述校准块底座上表面均为水平平面。4.根据权利要求3所述的轴向进样器校准装置，其特征在于：所述校准块上部设有与所述电动夹持装置匹配的夹持柄，所述夹持柄设有两平行的夹持平面，且以所述校准块纵向中心平面为中心对称设置；所述圆柱体上设有的与X轴...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘军伟，屈龙华，
申请(专利权)人：中仪宇盛河北科学仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：