一种轮廓测量仪X轴校准装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种轮廓测量仪X轴校准装置，包括专用样块和位置调节底座，所述位置调节底座包括底座板，所述底座板沿长度方向前后设有水平调节支架，所述水平调节支架夹持并调节专用样块，所述专用样块包括底座，所述专用样块的顶面沿长度方向两端设有球状凸起，多个三角锯齿间隔均布在两个球状凸起之间。本实用新型专利技术结构简单，能快速准确调整专用样块位置，确保专用样块与轮廓仪X轴导轨平行，专用样块以相邻两个三角锯齿的齿顶圆角之间的距离作为测量依据，能有效减少齿顶形状误差带来的测量误差，从而获得轮廓仪的测量误差，且专用样块作为实物量具具有很好的稳定性。块作为实物量具具有很好的稳定性。块作为实物量具具有很好的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
一种轮廓测量仪X轴校准装置


[0001]本技术涉及轮廓测量仪的误差校准
，具体涉及一种轮廓测量仪X轴校准装置。

技术介绍

[0002]触针式表面轮廓测量仪（以下简称轮廓仪）是以直线导轨为基准，触针沿工件表面运动，记录被测表面轮廓曲线，计算并评定被测轮廓的尺寸、角度、圆弧等二维形状、位置参数的测量仪器。根据GB/T 19600
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2004《产品几何量技术规范（GPS） 表面结构 轮廓法 接触（触针）式仪器的校准》以及JB/T 11271
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2012《接触（触针）式表面轮廓测量仪》的要求，轮廓仪X轴的示值误差是非常重要的一项技术指标，需要对其进行校准。
[0003]目前使用比较广泛的轮廓仪X轴示值误差校准方法为激光干涉仪校准法。激光干涉仪校准法需要把激光干涉仪的靶镜安装在轮廓仪的驱动箱与传感器连接件上，但靶镜的体积较大，很难安装，且自身重量较重容易破坏轮廓仪的测力，造成机器故障。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于克服上述不足，提供了一种轮廓测量仪X轴校准装置，结构简单，能快速准本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种轮廓测量仪X轴校准装置，其特征在于：包括专用样块（1）和位置调节底座（2），所述位置调节底座（2）包括底座板（2.1），所述底座板（2.1）沿长度方向前后设有水平调节支架（2.2），所述水平调节支架（2.2）夹持并调节专用样块（1），所述专用样块（1）包括底座（1.1），所述专用样块（1）的顶面沿长度方向两端设有球状凸起（1.2），多个三角锯齿（1.3）间隔均布在两个球状凸起（1.2）之间，所述三角锯齿（1.2）的齿顶倒圆角。2.根据权利要求1所述的一种轮廓测量仪X轴校准装置，其特征在于：两个球状凸起（1.2）分布在专用样块（1）的顶面中心线上。3.根据权利要求1所述的一种轮廓测量仪X轴校准装置，其特征在于：所述水...

【专利技术属性】
技术研发人员：董盈钧，黄蕾，杨玲，葛岐青，
申请(专利权)人：江阴市计量测试检定所，
类型：新型
国别省市：