多解析度的电荷耦合器件检测装置制造方法及图纸

一种多解析度的电荷耦合器件检测装置，包括光传感元件组、移位门、与多个ＣＣＤ移位寄存器。移位门包括有多个切换器，这些切换器是用以接收由光传感元件组输出的电荷信号，并针对不同解析度的扫描，将电荷信号输出至多个ＣＣＤ移位寄存器之一，以得到不同解析度的扫描影像。本发明专利技术可节省面积、降低成本、并增加低解析度的扫描的扫描速度。（*该技术在2021年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种多解析度的电荷耦合器件（ＣＣＤ）检测装置，包括： 一光传感元件组，包括有多个光传感元件，该光传感元件是用以接受一光信号并分别产生相对应的多个电荷信号； 一移位门，包括有多个切换器，该切换器是用以接收由该光传感元件输出的电荷信号；以及 一第一ＣＣＤ移位寄存器与一第二ＣＣＤ移位寄存器，各包括有Ｍ个ＣＣＤ元件与Ｎ个ＣＣＤ元件，该Ｍ个ＣＣＤ元件至少与部分的该切换器电性连接，而该Ｎ个ＣＣＤ元件则是至少与部分的该切换器电性连接，其中，Ｍ大于Ｎ，Ｍ、Ｎ为正整数，Ｍ值是对应至第一解析度的扫描，而Ｎ值则是对应至第二解析度的扫描； 其中，当进行第一解析度的扫描时，该切换器是将该电荷信号选择性地输出至该Ｍ个ＣＣＤ元件，而当进行第二解析度的扫描时，该切换器是将该电荷信号选择性地输出至该Ｎ个ＣＣＤ元件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈琰成，
申请(专利权)人：虹光精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]