一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法及系统技术方案

本发明专利技术属于图像处理技术领域，尤其涉及一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法及系统，具体包括以下步骤：S1：采集被测物X射线图像以及无被测物时的背景图像；S2：对所述被测物X射线图像进行去噪处理得到被测物的真实图像；S3：对所述真实图像分别进行滤波处理得到第一低频图像和第二低频图像；S4：获取第一低频图像的高频信息，将得到的高频信息锐化增强后与所述真实图像叠加，得到边缘增强图像；S5：获取第二低频图像的高频信息，将得到的高频信息锐化增强后与所述边缘增强图像叠加，得到最终的输出图像，通过采集被测物的X射线图像以及无被测物时的背景图像，便于进行去噪处理后得到被测物的真实图像，从而减少图像噪声和局部阴影。部阴影。部阴影。

【技术实现步骤摘要】
一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法及系统


[0001]本专利技术属于图像处理
，尤其涉及一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法及系统。

技术介绍

[0002]近年来由于X射线成像技术不断发展和革新，X射线成像技术广泛应用于医学诊断、安全检测和金属探勘等领域，对X射线图像的对比对低或对比度不均匀等问题，使用基于梯度场的X射线图像增强算法，反锐化掩膜图像增强和非线性反锐化掩膜图像增强等对X射线图像的局部细节、局部对比度进行增强和提高。很多学者使用反锐化和反锐化的改进对CR、DR、MR等一些高质量扫描图像进行增强，对提高图像质量也有很好的效果。以上方法提高了边缘细节和对比度，但对亮度调节较低，关于X射线图像的增强技术还需为之进步。
[0003]图像噪声一般由于图像信号的传输和转换过程中电磁波的干扰，导致X射线图像中会夹带多种噪声，造成X射线图像噪声和边角阴影等问题，严重影响了X射线成像仪的成像质量；X射线成像仪在检测违禁品过程中，信号转换和传输经常导致对比度低、边缘模糊等问题，X射线图像的质量问题严重影响X射线的检测结果的判断准确率本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法，其特征在于，具体包括以下步骤：S1：采集被测物X射线图像以及无被测物时的背景图像；S2：对所述被测物X射线图像进行去噪处理得到被测物的真实图像；S3：对所述真实图像分别进行滤波处理得到第一低频图像和第二低频图像；S4：获取第一低频图像的高频信息，将得到的高频信息锐化增强后与所述真实图像叠加，得到边缘增强图像；S5：获取第二低频图像的高频信息，将得到的高频信息锐化增强后与所述边缘增强图像叠加，得到最终的输出图像。2.根据权利要求1所述的一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法，其特征在于，步骤S1具体包括：S101:将被测物对准射线发射模块，通过图像获取模块采集被测物X射线图像；S102:将被测物移出射线发射模块，通过图像获取模块采集无被测物时的背景图像。3.根据权利要求2所述的一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法，其特征在于，步骤S2的对所述被测物X射线图像进行去噪处理具体包括：S201：将被测物X射线图像与背景图像作差得到被测物的去噪图像；S202：对步骤S201的去噪图像进行归一化处理并达到预设的灰度值范围，得到被测物的真实图像。4.根据权利要求3所述的一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法，其特征在于，步骤S201中，将被测物X射线图像与背景图像作差的公式为：r(x，y)＝V[o(x，y)
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b(x，y)]式中，x和y分别表示图像的位置坐标；o(x,y)为被测物X射线图像；b(x,y)为背景图像；r(x,y)为被测物的去噪图像；V为数字类型转换符。5.根据权利要求4所述的一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法，其特征在于，步骤S202中，对去噪图像进行归一化处理的公式为：式中，f(x,y)为归一化处理后的被测物真实图像，G为最大灰度值，g为最小灰度值，所述被测物真实图像的灰度值范围为(0，255)。6.根据权利要求5所述的一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法，其特征在于，步骤S3中，对所述真实图像进行第一次滤波处理时，采用高斯滤波器进行低通滤波处理，掩膜大小为5
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5，原理公式为：d1(x，y)＝G1(x，y)
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f(x，y)高斯公式为：式中，f(x,y)为真实图像，d1(x，y)为第一低频图像，σ为标准差，此处为(0.5,2)。7.根据权利要求5所述的一种X射线图像反锐化双掩膜图像增强方法，其特征在于，步骤S3中，对所述真实图像进行第二次滤波处理时，采用高斯滤波器进行二维高斯滤波处理，
掩膜大小为7
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7，原理公式为：d2(x，y)＝G2(x，y)
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【专利技术属性】
技术研发人员：高向东，丁婷婷，谢岳轩，
申请(专利权)人：广东工业大学，
类型：发明
国别省市：