本实用新型专利技术公开了一种防止偏移的芯片测试装置，包括：操作台、调节杆、第二橡胶防滑垫和固定框，所述操作台的后侧安装有测试仪；所述调节杆转动连接在操作台的下方，且调节杆的外侧设置有夹持机构，其中包括支撑板、夹持板、第一橡胶防滑垫和连接块；所述第二橡胶防滑垫左右对称粘贴连接在操作台的上方；所述固定框固定在操作台的上方后侧，且固定框的内部设置有下料机构，其中包括连接绳、下料推块和手持连接杆。所述测试仪的左右两侧均安装有弹簧绳。该防止偏移的芯片测试装置，能够对多个芯片进行检测，可对芯片进行夹持，避免芯片歪斜偏移影响工作效率，且方便调节和操作，可对测试笔进行限位收纳，能够快速回收芯片。能够快速回收芯片。能够快速回收芯片。
【技术实现步骤摘要】
一种防止偏移的芯片测试装置
[0001]本技术涉及芯片测试
，具体为一种防止偏移的芯片测试装置。
技术介绍
[0002]芯片是电子产品中的至关重要的零件，通常是在塑基上电焊微电子元器件形成集成电路，为了保证芯片的正常使用，需要对芯片进行测试，市场上的芯片测试装置多种多样，但仍存在一些缺点；
[0003]如不方便对多个芯片进行检测，检测时芯片容易歪斜偏移影响工作效率，且不方便对测试笔进行限位收纳，因此，我们提出一种防止偏移的芯片测试装置，以便于解决上述中提出的问题。
技术实现思路
[0004]本技术的目的在于提供一种防止偏移的芯片测试装置，以解决上述
技术介绍
提出的目前的芯片测试装置不方便对多个芯片进行检测，检测时芯片容易歪斜偏移影响工作效率，且不方便对测试笔进行限位收纳的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种防止偏移的芯片测试装置，包括：
[0006]操作台，所述操作台的后侧安装有测试仪；
[0007]调节杆，所述调节杆转动连接在操作台的下方，且调节杆的外侧设置有夹持机构，其中包括支撑板、夹持板、第一橡胶防滑垫和连接块；
[0008]第二橡胶防滑垫，所述第二橡胶防滑垫左右对称粘贴连接在操作台的上方；
[0009]固定框，所述固定框固定在操作台的上方后侧，且固定框的内部设置有下料机构，其中包括连接绳、下料推块和手持连接杆。
[0010]优选的，所述测试仪的左右两侧均安装有弹簧绳，且弹簧绳的前端安装有测试笔；
[0011]所述测试笔的外侧卡槽连接有固定在操作台上的限位块。
[0012]优选的，所述调节杆前后对称设置在操作台的下方，且调节杆的外侧左右对称螺纹连接有连接块，其中调节杆左右两端的螺纹方向相反。
[0013]优选的，所述连接块卡槽连接在操作台内，且连接块的上方焊接有支撑板，所述支撑板的内侧固定有夹持板，且夹持板的内侧粘贴连接有第一橡胶防滑垫。
[0014]优选的，所述固定框的内部左右对称设置有缠绕辊，且缠绕辊通过复位弹簧转动连接在固定框内；
[0015]所述缠绕辊的外侧缠绕有连接绳，且连接绳的外端固定有下料推块，并且下料推块的上方一体化设置有纵截面呈“n”字形结构的手持连接杆。
[0016]与现有技术相比，本技术的有益效果是：该防止偏移的芯片测试装置，能够对多个芯片进行检测，可对芯片进行夹持，避免芯片歪斜偏移影响工作效率，且方便调节和操作，可对测试笔进行限位收纳，能够快速回收芯片；
[0017]1.设置有支撑板、第一橡胶防滑垫和第二橡胶防滑垫，通过支撑板内侧固定有夹持板，支撑板左右对称设置，能够对多个芯片进行检测，可对芯片进行夹持，操作台上左右对称固定有第二橡胶防滑垫，避免芯片歪斜偏移影响工作效率；
[0018]2.设置有连接块、调节杆和限位块，通过连接块和调节杆螺纹连接，调节杆外侧的螺纹方向相反，测试笔和限位块卡槽连接，方便调节和操作可对测试笔进行限位收纳；
[0019]3.设置有下料推块、手持连接杆和，通过固定框内通过复位弹簧转动连接有缠绕辊，缠绕辊外侧缠绕有连接绳，连接绳外端固定的下料推块上焊接有手持连接杆，能够快速回收芯片。
附图说明
[0020]图1为本技术俯视结构示意图；
[0021]图2为本技术连接块和调节杆连接整体结构示意图；
[0022]图3为本技术固定框和连接绳连接整体结构示意图；
[0023]图4为本技术缠绕辊和连接绳连接整体结构示意图。
[0024]图中：1、操作台；2、测试仪；3、弹簧绳；4、测试笔；5、限位块；6、支撑板；7、夹持板；8、第一橡胶防滑垫；9、连接块；10、调节杆；11、第二橡胶防滑垫；12、固定框；13、缠绕辊；14、复位弹簧；15、连接绳；16、下料推块；17、手持连接杆。
具体实施方式
[0025]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：一种防止偏移的芯片测试装置，包括：操作台1、测试仪2、弹簧绳3、测试笔4、限位块5、支撑板6、夹持板7、第一橡胶防滑垫8、连接块9、调节杆10、第二橡胶防滑垫11、固定框12、缠绕辊13、复位弹簧14、连接绳15、下料推块16和手持连接杆17；
[0027]首先如附图1中所示，将芯片一个一个排列放置在第二橡胶防滑垫11上，然后在操作台1的下方转动调节杆10，调节杆10带动其外侧螺纹连接的连接块9滑动，连接块9和操作台1卡槽连接，可对其起到限位作用，连接块9在操作台1内滑动，并带动其上方固定的支撑板6滑动，由于调节杆10左右两端的螺纹方向相反，可使左右对称设置的支撑板6向相对或相反的方向移动，支撑板6带动其内侧固定的夹持板7移动，夹持板7的内侧粘贴连接有第一橡胶防滑垫8，第一橡胶防滑垫8和芯片的外侧紧密贴合，左右对称设置的支撑板6对芯片进行夹持；
[0028]如附图1中所示，向上拉动测试笔4，将测试笔4从与之卡槽连接的限位块5内取出，双手握住测试笔4，将测试笔4的探头与芯片紧密贴合，测试笔4的上端固定有弹簧绳3，弹簧绳3的后端固定在测试仪2上，可避免测试笔4丢失，测试仪2显示出检测结果，测试仪2和测试笔4为市场上成熟的技术；
[0029]如附图1、附图3和附图4中所示，当需要回收芯片时，反转调节杆10，连接块9向外
侧滑动，连接块9上方固定的支撑板6带动夹持板7滑动，使夹持板7松开芯片，第一橡胶防滑垫8脱离和夹持板7的紧密贴合，然后向外拉动手持连接杆17，手持连接杆17下方固定的下料推块16推动芯片，使芯片在第二橡胶防滑垫11上滑动，方便集中芯片，下料推块16后侧固定的连接绳15抽出，连接绳15拉动缠绕辊13在固定框12内转动，压缩复位弹簧14，将芯片收集好后，松开手持连接杆17，复位弹簧14的弹性作用推动缠绕辊13反转，将连接绳15缠绕在缠绕辊13的外侧，可快速收纳下料推块16和手持连接杆17。
[0030]本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术，本技术使用到的标准零件均可以从市场上购买，异形件根据说明书的和附图的记载均可以进行订制，各个零件的具体连接方式均采用现有技术中成熟的螺栓、铆钉、焊接等常规手段，机械、零件和设备均采用现有技术中，常规的型号，加上电路连接采用现有技术中常规的连接方式，在此不再详述。
[0031]尽管参照前述实施例对本技术进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本技术的精神和原本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种防止偏移的芯片测试装置，其特征在于，包括：操作台（1），所述操作台（1）的后侧安装有测试仪（2）；调节杆（10），所述调节杆（10）转动连接在操作台（1）的下方，且调节杆（10）的外侧设置有夹持机构，其中包括支撑板（6）、夹持板（7）、第一橡胶防滑垫（8）和连接块（9）；第二橡胶防滑垫（11），所述第二橡胶防滑垫（11）左右对称粘贴连接在操作台（1）的上方；固定框（12），所述固定框（12）固定在操作台（1）的上方后侧，且固定框（12）的内部设置有下料机构，其中包括连接绳（15）、下料推块（16）和手持连接杆（17）。2.根据权利要求1所述的一种防止偏移的芯片测试装置，其特征在于：所述测试仪（2）的左右两侧均安装有弹簧绳（3），且弹簧绳（3）的前端安装有测试笔（4）；所述测试笔（4）的外侧卡槽连接有固定在操作台（1）上的限位块（5）。3.根据权利要求1所述的一种防止偏...
【专利技术属性】
技术研发人员：胥怡心，刘涛，郭旭斌，周霞，
申请(专利权)人：苏州赛迈测控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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