一种芯片测试机用夹持机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片测试机用夹持机构，包括：底座、伺服电机、承接板和齿轮，所述底座的下端内部开设有安装孔，且底座的后端内侧安装有与之镶嵌连接的控制器；所述伺服电机安装在底座的右前端内侧，且伺服电机的输出轴上连接有第一调节杆；所述承接板贴合设置在底座的上端右侧，且承接板的中部内侧安装有双头电机；所述齿轮固定在承接板的中部左侧，且齿轮的左端后侧设置有与之啮合连接的齿条。该芯片测试机用夹持机构，便于对芯片进行支撑，避免测试过程中芯片因折弯而造成损伤，便于对芯片进行夹持，并便于避免芯片因夹持而造成的损伤，以及便于对夹持的芯片进行翻转，使之方便进一步测试，提高测试效率。提高测试效率。提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试机用夹持机构


[0001]本技术涉及芯片测试机
，具体为一种芯片测试机用夹持机构。

技术介绍

[0002]芯片测试机是针对芯片进行测试的设备，是芯片测试环节中的核心组成部分，在测试的过程中，常需通过夹持机构对芯片进行夹持固定，避免其脱落。
[0003]但现有的芯片测试机用夹持机构，在使用过程中，一般不便于对芯片进行支撑，测试过程中芯片易因折弯而造成损伤，且难以避免芯片因夹持而造成的损伤，以及不便于对夹持的芯片进行翻转，难以提高测试效率，因此，我们提出一种芯片测试机用夹持机构，以便于解决上述中提出的问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种芯片测试机用夹持机构，以解决上述
技术介绍
中提出现有的芯片测试机用夹持机构，在使用过程中，一般不便于对芯片进行支撑，测试过程中芯片易因折弯而造成损伤，且难以避免芯片因夹持而造成的损伤，以及不便于对夹持的芯片进行翻转，难以提高测试效率的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种芯片测试机用夹持机构，包括：
[0006]底座，所述底座的下端内部开设有安装孔，且底座的后端内侧安装有与之镶嵌连接的控制器；
[0007]伺服电机，所述伺服电机安装在底座的右前端内侧，且伺服电机的输出轴上连接有第一调节杆；
[0008]承接板，所述承接板贴合设置在底座的上端右侧，且承接板的中部内侧安装有双头电机，并且双头电机的输出轴上连接有第二调节杆；
[0009]齿轮，所述齿轮固定在承接板的中部左侧，且齿轮的左端后侧设置有与之啮合连接的齿条。
[0010]优选的，所述第一调节杆外贯穿有与之螺纹连接的支撑板，且支撑板的右端内侧贯穿有与之卡合连接的固定杆，并且固定杆与底座为焊接一体化结构。
[0011]优选的，所述第二调节杆关于双头电机对称设置，且第二调节杆外螺纹连接有与承接板卡合的活动块，并且活动块的上下两端内侧均设置有与之转动连接的连接板；
[0012]其中，所述连接板的外端转动连接有与承接板贴合的夹板，且呈“F”字型结构的夹板关于双头电机对称设置，并且夹板单体的右端内侧均设置有与之粘贴固定的弹性垫，而且夹板和弹性垫的右侧面不凸出于支撑板的左侧面。
[0013]优选的，所述齿轮卡合贯穿于底座内，且承接板通过齿轮与底座为不可拆卸连接，并且底座的后端左侧固定连接有安装电动伸缩杆的限位板；
[0014]其中，所述电动伸缩杆的上侧固定有齿条，且齿条与呈“L”字型结构的限位板为贴
合连接。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果是：该芯片测试机用夹持机构，便于对芯片进行支撑，避免测试过程中芯片因折弯而造成损伤，便于对芯片进行夹持，并便于避免芯片因夹持而造成的损伤，以及便于对夹持的芯片进行翻转，使之方便进一步测试，提高测试效率；
[0016]1.设置有底座、伺服电机、第一调节杆和支撑板，由于底座内安装伺服电机的输出轴连接有第一调节杆，而第一调节杆外螺纹连接有右端卡合贯穿固定杆的支撑板，固定杆与底座为固定连接，因此便于对芯片进行支撑，避免测试过程中芯片因折弯而造成损伤；
[0017]2.设置有承接板、双头电机、第二调节杆和弹性垫，由于承接板内安装有输出轴连接第二调节杆的双头电机，而第二调节杆外螺纹连接有上下两端内侧均转动连接板的活动块，连接板的外端转动连接有粘贴固定弹性垫的夹板，因此便于对芯片进行夹持，并便于避免芯片因夹持而造成的损伤；
[0018]3.设置有承接板、齿轮、齿条和电动伸缩杆，由于承接板的中部左侧固定有与底座卡合贯穿的齿轮，齿轮的左端后端啮合连接有下侧固定电动伸缩杆的齿条，而齿条的右侧贴合连接有与底座固定的限位板，因此便于对夹持的芯片进行翻转，使之方便进一步测试，提高测试效率。
附图说明
[0019]图1为本技术正视剖面结构示意图；
[0020]图2为本技术右侧剖面结构示意图；
[0021]图3为本技术俯视剖面结构示意图；
[0022]图4为本技术左侧结构示意图。
[0023]图中：1、底座；2、安装孔；3、控制器；4、伺服电机；5、第一调节杆；6、支撑板；7、固定杆；8、承接板；9、双头电机；10、第二调节杆；11、活动块；12、连接板；13、夹板；14、弹性垫；15、齿轮；16、齿条；17、电动伸缩杆；18、限位板。
具体实施方式
[0024]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0025]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：一种芯片测试机用夹持机构，包括底座1、安装孔2、控制器3、伺服电机4、第一调节杆5、支撑板6、固定杆7、承接板8、双头电机9、第二调节杆10、活动块11、连接板12、夹板13、弹性垫14、齿轮15、齿条16、电动伸缩杆17和限位板18，在使用该芯片测试机用夹持机构时，如图1和图3，首先可将该夹持机构放置于待使用地点，然后可将螺钉贯穿安装于底座1内部开设的安装孔2内，完成对该夹持机构的安装固定；
[0026]如图1、图2和图3，接着可将待测试的芯片放置于支撑板6的上表面，并使芯片的左端位于夹板13单体的内侧，再可通过底座1后端内侧镶嵌安装的控制器3，控制承接板8内安
装的双头电机9进行作业，由于双头电机9的输出轴连接有与承接板8卡合的第二调节杆10，第二调节杆10外螺纹连接有活动块11，活动块11的上下两端内侧均转动连接板12，而连接板12的外端转动连接有夹板13，呈“F”字型结构夹板13单体的内侧粘贴固定有弹性垫14，因此通过双头电机9的作业，便于使第二调节杆10在承接板8的卡合限位下带动活动块11反向移动，达到使活动块11通过连接板12带动夹板13在承接板8的贴合限位下进行移动的目的，从而便于使弹性垫14与芯片紧密贴合连接，以此将芯片夹持，并便于通过弹性垫14的自身弹性避免芯片因夹持而造成的损伤；
[0027]如图1、图2和图3，夹持完毕后，可通过控制器3控制底座1右前端内侧安装的伺服电机4作业，使得第一调节杆5进行转动，由于第一调节杆5外螺纹连接有支撑板6，而支撑板6的右前端内侧卡合贯穿有与底座1固定的固定杆7，因此通过伺服电机4的作业，便于使第一调节杆5带动支撑板6在固定杆7的卡合限位下进行升降，从而便于使支撑板6对芯片进行支撑，达到避免测试过程中芯片因折弯而造成损伤的目的；
[0028]如图1、图3和图4，芯片正面测试完毕后，可通过控制器3控制伺服电机4作业，使得支撑板6位于第一调节杆5和固定杆7的下端外侧，再可通过控制器3控制底座1左侧固定连接限位板18上的电动伸缩杆17进行作业，使得电动伸缩杆17上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试机用夹持机构，其特征在于，包括：底座（1），所述底座（1）的下端内部开设有安装孔（2），且底座（1）的后端内侧安装有与之镶嵌连接的控制器（3）；伺服电机（4），所述伺服电机（4）安装在底座（1）的右前端内侧，且伺服电机（4）的输出轴上连接有第一调节杆（5）；承接板（8），所述承接板（8）贴合设置在底座（1）的上端右侧，且承接板（8）的中部内侧安装有双头电机（9），并且双头电机（9）的输出轴上连接有第二调节杆（10）；齿轮（15），所述齿轮（15）固定在承接板（8）的中部左侧，且齿轮（15）的左端后侧设置有与之啮合连接的齿条（16）。2.根据权利要求1所述的一种芯片测试机用夹持机构，其特征在于：所述第一调节杆（5）外贯穿有与之螺纹连接的支撑板（6），且支撑板（6）的右端内侧贯穿有与之卡合连接的固定杆（7），并且固定杆（7）与底座（1）为焊接一体化结构。3.根据权利要求1所述的一种芯片测试机用夹持机构，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：胥怡心，许根泉，陈才刚，姚波，
申请(专利权)人：苏州赛迈测控技术有限公司，
类型：新型
国别省市：