一种晶体测试用载盘式线性微调结构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种晶体测试用载盘式线性微调结构，包括第二外壳，所述平板外表面活动连接有托盘，所述平板外表面固定连接有限位块，所述限位块的顶部固定连接有连接杆，所述第二固定块的两端固定连接有连接块，所述连接块的顶部固定连接有长杆，所述长杆远离连接块的一端固定连接有固定杆，所述固定杆的外表面固定连接有测试板，所述测试板的底部固定连接有测试头。本实用新型专利技术，通过设置托盘和测试头，有利于提高资源的利用率，避免了大量不合格产品废弃造成损失，设置限位块和连接杆，使得装置运行更加平稳，有利于增加装置的稳定性，有利于提升操作的流畅性，避免装置内部产生移动导致微调失败。生移动导致微调失败。生移动导致微调失败。

【技术实现步骤摘要】
一种晶体测试用载盘式线性微调结构


[0001]本技术涉及线性微调
，尤其涉及一种晶体测试用载盘式线性微调结构。

技术介绍

[0002]随着计算机性能的进步，以及互联网、多媒体技术的高度发展，任何有关文件或图片的输入工作，均需通过光学扫描仪来撷取文件或图片上的模拟图像，并将其转换成数字图像档案，以便于使用者在计算机上进行图像档案的显示、辨识、编辑、储存及输出等。
[0003]申请人在申请本技术时，经过检索，发现中国专利公开了一种“线性微调装置”，其申请号为“CN01279713.8”，该专利主要通过在光学镜头设置承载滑座，利用承载滑座的移动来对物品进行扫描检测，但是该装置忽略了如何直接利用设备对不良品进行微调，来达到促进其合格的目的。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种晶体测试用载盘式线性微调结构。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种晶体测试用载盘式线性微调结构，包括第二外壳，所述第二外壳的内部安装有平板，所述平板外表面活动连接有托盘，所述平板外表面固定连接有限位块，所述限位块的顶部固定连接有连接杆，所述连接杆远离限位块的一端固定连接有限位板，所述平板的右侧设置有第二固定块，所述第二固定块的两端固定连接有连接块，所述连接块的顶部固定连接有长杆，所述长杆远离连接块的一端固定连接有固定杆，所述固定杆的外表面固定连接有测试板，所述测试板的底部固定连接有测试头。
[0006]作为上述技术方案的进一步描述：所述第二外壳的顶部活动连接有挡板，所述挡板的外表面安装有玻璃，所述挡板的侧表面固定连接有第二把手。
[0007]作为上述技术方案的进一步描述：所述第二外壳的底部固定连接有底座，且底座的底部设置有防滑纹路。
[0008]作为上述技术方案的进一步描述：还包括第一外壳，所述第一外壳的外表面设置有开口，且开口内部安装有显示屏,通过显示屏进行操作，进而利用第二外壳内测试头对放置于托盘上的物品进行检测。
[0009]作为上述技术方案的进一步描述：所述第一外壳的外表面固定连接有不良品放置盒，且不良品放置盒位于开口的下方。
[0010]作为上述技术方案的进一步描述：所述不良品放置盒的右侧设置有放置板，所述放置板的外表面固定连接有第一固定块，所述放置板的底部固定连接有支撑杆，所述支撑杆的另一端与第一外壳的外表面固定连接。
[0011]作为上述技术方案的进一步描述：所述第一外壳的外表面设置有开关，所述第一
外壳的外表面设置有调节按钮，且调节按钮的下方设置有显示板。
[0012]作为上述技术方案的进一步描述：所述调节按钮的上方设置有承载板，所述承载板的一端与第一外壳固定连接，所述承载板的另一端固定连接有固定板，所述固定板的外表面固定连接有第一把手。
[0013]本技术具有如下有益效果：
[0014]1、与现有技术相比，该一种晶体测试用载盘式线性微调结构，通过设置托盘和测试头，托盘将需要微调的物品放好，然后利用测试头对物品进行微调，使得物品能够合格，有利于提高产品的合格率，有利于提高资源的利用率，避免了大量不合格产品废弃造成损失。
[0015]2、与现有技术相比，该一种晶体测试用载盘式线性微调结构，通过设置限位块和连接杆，限位块将连接杆固定在平板上，使得装置运行更加平稳，有利于增加装置的稳定性，有利于提升操作的流畅性，避免装置内部产生移动导致微调失败。
附图说明
[0016]图1为本技术提出的一种晶体测试用载盘式线性微调结构的第一外壳整体结构示意图；
[0017]图2为本技术提出的一种晶体测试用载盘式线性微调结构的第一外壳正视图；
[0018]图3为本技术提出的一种晶体测试用载盘式线性微调结构的第二外壳整体结构示意图；
[0019]图4为本技术提出的一种晶体测试用载盘式线性微调结构的第二外壳俯视图。
[0020]图例说明：
[0021]1、第一外壳；2、显示屏；3、不良品放置盒；4、第一固定块；5、放置板；6、支撑杆；7、开关；8、承载板；9、固定板；10、第一把手；11、调节按钮；12、显示板；13、底座；14、第二外壳；15、第二把手；16、托盘；17、限位块；18、连接杆；19、限位板；20、第二固定块；21、长杆；22、固定杆；23、测试板；24、挡板。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是
可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0024]参照图1
‑
4，本技术提供的一种晶体测试用载盘式线性微调结构：包括第二外壳14，第二外壳14用于保护内部设备，第二外壳14的内部安装有平板，平板外表面活动连接有托盘16，托盘16用于放置需要微调的不良品，平板外表面固定连接有限位块17，用于限定托盘16和连接杆18的位置，限位块17的顶部固定连接有连接杆18，连接杆18远离限位块17的一端固定连接有限位板19，平板的右侧设置有第二固定块20，第二固定块20用于固定连接块，第二固定块20的两端固定连接有连接块，连接块的顶部固定连接有长杆21，长杆21用于固定测试板23，长杆21远离连接块的一端固定连接有固定杆22，固定杆22的外表面固定连接有测试板23，测试板23的底部固定连接有测试头，测试头对物品进行扫描微调。
[0025]第二外壳14的顶部活动连接有挡板24，挡板24的外表面安装有玻璃，玻璃方便观察装置内部情况，挡板24的侧表面固定连接有第二把手15，第二把手15方便打开和关闭挡板24，第二外壳14的底部固定连接有底座13，底座13用于承载装置，且底座13的底部设置有防滑纹路，增加摩擦，还包括第一外壳1，第一外壳1的外表面设置有开口，且开口内部安装有显示屏2，显示屏2用于反映测试结本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶体测试用载盘式线性微调结构，包括第二外壳（14），其特征在于：所述第二外壳（14）的内部安装有平板，所述平板外表面活动连接有托盘（16），所述平板外表面固定连接有限位块（17），所述限位块（17）的顶部固定连接有连接杆（18），所述连接杆（18）远离限位块（17）的一端固定连接有限位板（19），所述平板的右侧设置有第二固定块（20），所述第二固定块（20）的两端固定连接有连接块，所述连接块的顶部固定连接有长杆（21），所述长杆（21）远离连接块的一端固定连接有固定杆（22），所述固定杆（22）的外表面固定连接有测试板（23），所述测试板（23）的底部固定连接有测试头。2.根据权利要求1所述的一种晶体测试用载盘式线性微调结构，其特征在于：所述第二外壳（14）的顶部活动连接有挡板（24），所述挡板（24）的外表面安装有玻璃，所述挡板（24）的侧表面固定连接有第二把手（15）。3.根据权利要求1所述的一种晶体测试用载盘式线性微调结构，其特征在于：所述第二外壳（14）的底部固定连接有底座（13），且底座（13）的底部设置有防滑纹路。4.根据权利要求1所述的一种晶体测试用载盘式线性微调结构，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛良清，
申请(专利权)人：四川汇锦升电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：