基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质技术方案

本发明专利技术涉及计算机领域，提供一种基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质，该方法包括：基于振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定振动筛中每一个筛层的筛余量；基于粒度分析仪对待处理物料经过振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到物料粉料的粒度数据；基于振动筛中每一个筛层的筛余量和物料粉料的粒度数据，对待处理物料进行全粒度分析。本发明专利技术实施例提供的基于全粒度单元的物料分析方法通过振动筛协同粒度分析仪的全粒度单元对物料处理过程进行实时连续全粒度在线监测，从而可以随时监测物料处理过程的粒度变化，保证了物料粒度数据时效性的同时，提高了物料处理效率。了物料处理效率。了物料处理效率。

【技术实现步骤摘要】
基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质


[0001]本专利技术涉及计算机领域，尤其涉及一种基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质。

技术介绍

[0002]目前国内外针对尾矿废石处理过程中的粒度分级及监测的主要方法包括传统风选方法、磁选方法、浮选方法等方式的分级复选，或协同复选工艺监测方法。然而现有的工艺监测方法的范围小、多数处于离线监测状态，难以实现全粒度连续在线监测和数据共享，从而导致了粒度数据的时效性差，物料处理效率低。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质，旨在保证物料粒度数据时效性的同时，提高物料处理效率。
[0004]第一方面，本专利技术提供一种基于全粒度单元的物料分析方法，所述全粒度单元包括振动筛和粒度分析仪；
[0005]所述基于全粒度单元的物料分析方法，包括：
[0006]基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；
[0007]基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；
[0008]基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。
[0009]在一个实施例中，所述基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量，包括：
[0010]基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值，确定所述振动筛中每一个筛层的最小粒径值；
[0011]将所述待处理物料中小于或者等于每一个筛层的最小粒径值的物料过滤到下一个筛层；
[0012]将所述待处理物料中大于每一个筛层的最小粒径值的物料保留在每一个筛层，得到所述振动筛中每一个筛层的筛余量。
[0013]所述基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析，包括：
[0014]基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和每一个筛层的最小粒径值，确定所述待处理物料的第一粒径分布，并基于所述物料粉料的粒度数据，确定所述待处理物料的第二粒径分布；
[0015]基于所述第一粒径分布和所述第二粒径分布，确定所述待处理物料的粒度分布曲
线。
[0016]所述振动筛的最小筛值是基于所述粒度分析仪确定的，具体步骤包括：
[0017]确定所述粒度分析仪的测量量程，并基于所述测量量程确定所述振动筛中最后一个筛层的最小筛值。
[0018]所述确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量的过程，还包括：
[0019]若所述全粒度单元为单个全粒度单元，则基于所述单个全粒度单元中的单个振动筛，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量。
[0020]若所述全粒度单元为联动全粒度单元，则基于所述联动全粒度单元中的所有振动筛，确定所有振动筛中同一筛层的筛余量。
[0021]所述基于所述联动全粒度单元中的所有振动筛，确定所有振动筛中同一筛层的筛余量，包括：
[0022]确定联动全粒度单元中所有振动筛的同一筛层的筛余统计量；
[0023]根据所有振动筛的同一筛层的筛余统计量、数据采集时间、传输中物料的密度与截面积以及物料传输速度，计算所有振动筛的同一筛层的筛余平均量；
[0024]将所有振动筛的同一筛层的筛余平均量，确定为联动全粒度单元中所有振动筛的同一筛层的筛余量。
[0025]确定所述联动全粒度单元的组合联动方式，包括：
[0026]基于所述数据采集时间、所述传输中物料的密度与截面积、所述物料传输速度以及所述联动全粒度单元的取样时间间隔、单元数量、单次监测时间和物料处理能力，确定所述联动全粒度单元的组合联动方式。
[0027]第二方面，本专利技术提供一种基于全粒度单元的物料分析系统，所述全粒度单元包括振动筛和粒度分析仪；
[0028]所述基于全粒度单元的物料分析系统，包括：
[0029]筛选模块，用于基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；
[0030]处理模块，用于基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；
[0031]分析模块，用于基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。
[0032]第三方面，本专利技术还提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现第一方面所述基于全粒度单元的物料分析方法。
[0033]第四方面，本专利技术还提供一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质包括计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现第一方面所述基于全粒度单元的物料分析方法。
[0034]第五方面，本专利技术还提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现第一方面所述基于全粒度单元的物料分析方法。
[0035]本专利技术提供的基于全粒度单元的物料分析方法、系统、设备及介质，基于振动筛的
最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定振动筛中每一个筛层的筛余量；基于粒度分析仪对待处理物料经过振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到物料粉料的粒度数据；基于振动筛中每一个筛层的筛余量和物料粉料的粒度数据，对待处理物料进行全粒度分析。在基于全粒度单元的物料分析的过程中，通过振动筛协同粒度分析仪的全粒度单元对物料处理过程进行实时连续全粒度在线监测，从而可以随时监测物料处理过程的粒度变化，保证了物料粒度数据时效性的同时，提高了物料处理效率。
附图说明
[0036]为了更清楚地说明本专利技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0037]图1是本专利技术提供的基于全粒度单元的物料分析方法的流程图；
[0038]图2是本专利技术提供的粒度分布曲线示意图之一；
[0039]图3是本专利技术提供的粒度分布曲线示意图之二；
[0040]图4是本专利技术提供的粒度分布曲线示意图之三；
[0041]图5是本专利技术提供的基于全粒度单元的物料分析系统的结构图；
[0042]图6是本专利技术提供的电子设备的结构图。
具体实施方式
[0043]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术中的附图，对本专利技术中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0044本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述全粒度单元包括振动筛和粒度分析仪；所述基于全粒度单元的物料分析方法，包括：基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量；基于所述粒度分析仪对所述待处理物料经过所述振动筛后得到的物料粉料进行分析，得到所述物料粉料的粒度数据；基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析。2.根据权利要求1所述的基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值对待处理物料进行筛选，确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量，包括：基于所述振动筛的最小筛值和最大筛值，确定所述振动筛中每一个筛层的最小粒径值；将所述待处理物料中小于或者等于每一个筛层的最小粒径值的物料过滤到下一个筛层；将所述待处理物料中大于每一个筛层的最小粒径值的物料保留在每一个筛层，得到所述振动筛中每一个筛层的筛余量。3.根据权利要求2所述的基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和所述物料粉料的粒度数据，对所述待处理物料进行全粒度分析，包括：基于所述振动筛中每一个筛层的筛余量和每一个筛层的最小粒径值，确定所述待处理物料的第一粒径分布，并基于所述物料粉料的粒度数据，确定所述待处理物料的第二粒径分布；基于所述第一粒径分布和所述第二粒径分布，确定所述待处理物料的粒度分布曲线。4.根据权利要求1所述的基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述振动筛的最小筛值是基于所述粒度分析仪确定的，具体步骤包括：确定所述粒度分析仪的测量量程，并基于所述测量量程确定所述振动筛中最后一个筛层的最小筛值。5.根据权利要求1至4任一项所述的基于全粒度单元的物料分析方法，其特征在于，所述确定所述振动筛中每一个筛层的筛余量的过程，还包括：若所述全粒度单元为单个全粒度单元，则基于所述单个全粒度单元中的单个振动筛，确定所述振动筛中每一个筛层的筛...

【专利技术属性】
技术研发人员：王林俊，王肇嘉，王英杰，刘文，刘磊，房明皓，房桂明，郝洁，王灿涛，刘凤东，何光明，杨飞华，郑永超，
申请(专利权)人：内蒙古华宜卓材料技术有限公司河北睿索固废工程技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：