一种测试治具及测试设备制造技术

本实用新型专利技术提供一种测试治具及测试设备，该测试治具包括底板以及可拆卸设置于底板上的测试组件，在测试组件的一端设有调节组件，测试组件包括测试座及两测试部件，调节组件包括调节导轨及两调节块，测试部件设于调节块上，调节块在调节导轨上滑动，进而带动测试部件在测试座上相对运动，在测试部件上设有吸附结构，吸附结构用于吸附待测物件的测试点。本实用新型专利技术通过设置调节组件，使得测试组件能够通过调节组件来调节测试位置，使得测试部件能够适配各类尺寸的待测物件；同时在测试座上设置吸附结构，能够有效的将待测物件的测试点吸附在测试座上，无需人工对测试点进行对齐，节约工作时间，提升工作效率以及产品良率。提升工作效率以及产品良率。提升工作效率以及产品良率。

【技术实现步骤摘要】
一种测试治具及测试设备


[0001]本技术涉及测试治具
，特别涉及一种测试治具及测试设备。

技术介绍

[0002]随着电子产品的普及和人们生活水平的提高，越来越多的人们开始使用各类电子产品，例如：手机、手表以及数码相机等。
[0003]柔性电路板(FPC)作为电子产品中常见的零部件之一，其作用通常是用于电子产品中两个零部件的电性连接，因此也需要对柔性电路板的连通性进行测量，在对柔性电路板进行连通性测量时，需要工作人员人工将设置在柔性电路板两端的连接器与测试治具进行对齐，这也耗费工作人员大量的工作时间，增加作业困难，导致工作效率降低，同时，在连接器与测试治具未对齐的情况下，工作人员很容易误判成不良品，进而降低产品的良率。

技术实现思路

[0004]基于此，本技术的目的是提供一种测试治具及测试设备，以至少解决上述相关技术中的不足。
[0005]本技术提出一种测试治具，包括底板以及可拆卸设置于所述底板上的测试组件，在所述测试组件的一端设有调节组件，所述调节组件用于调节所述测试组件的位置，所述测试组件包括测试座以及设于所述测试座上的两测试部件，所述调节组件包括调节导轨以及设于所述调节导轨上的两调节块，所述测试部件设于所述调节块上，所述调节块在所述调节导轨上滑动，进而带动所述测试部件在所述测试座上相对运动，在所述测试部件上设有吸附结构，所述吸附结构用于吸附待测物件的测试点。
[0006]进一步的，在所述测试座的一侧设有压紧结构，所述压紧结构包括压紧底座以及与所述压紧底座活动连接的压紧件，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述压紧件朝向所述测试座移动，以压紧所述待测物件。
[0007]进一步的，在所述压紧底座的边角位置设有限位块，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述待测物件的侧边抵靠所述限位块。
[0008]进一步的，在所述测试座上设有多个放置槽，所述放置槽内设有缓冲件，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述缓冲件位于所述待测物件与所述测试座之间。
[0009]进一步的，在所述底板上凹陷形成放置位，所述放置位用于容纳所述待测物件。
[0010]进一步的，所述吸附结构包括磁吸件，所述待测物件上对应设有连接件，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述磁吸件与所述连接件相连接。
[0011]进一步的，所述吸附结构包括真空吸附件以及设于所述真空吸附件底部的真空发生器，在所述真空吸附件上设有多个真空孔，所述真空发生器通过所述真空孔吸附所述待测物件。
[0012]进一步的，所述缓冲件的高度大于所述放置槽的深度。
[0013]本技术还提出一种测试设备，包括上述的测试治具。
[0014]与现有技术相比，本技术的有益效果是：通过在测试组件的一端设置调节组件，使得测试组件能够通过调节组件来调节测试位置；具体的，调节块在调节导轨上滑动，进而保证测试部件在测试座上相对运动，使得测试部件能够适配各类尺寸的待测物件；同时在测试座上设置吸附结构，能够有效的将待测物件的测试点吸附在测试座上，无需人工对测试点进行对齐，节约工作时间，提升工作效率以及产品良率。
附图说明
[0015]图1为本技术第一实施例中的测试治具的整体结构示意图；
[0016]图2为图1中局部A的放大示意图；
[0017]图3为本技术第一实施例中的测试组件的结构示意图；
[0018]图4为图3中局部B的放大示意图；
[0019]图5为本技术第二实施例中的测试组件的结构示意图；
[0020]图6为图5中局部C的放大示意图。
[0021]主要元件符号说明：
[0022]底板100吸附结构240测试组件200真空吸附件250调节组件300调节导轨310压紧结构400真空孔251放置位110压紧底座410测试座210压紧件420测试部件220限位块411缓冲件230
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[0023]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本技术。
具体实施方式
[0024]为了便于理解本技术，下面将参照相关附图对本技术进行更全面的描述。附图中给出了本技术的若干实施例。但是，本技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本技术的公开内容更加透彻全面。
[0025]需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
[0026]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0027]请参阅图1至图4，所示为本技术第一实施例中的测试治具，包括底板 100以及可拆卸设置于所述底板100上的测试组件200，在所述测试组件200的一端设有调节组件
300，所述调节组件300用于调节所述测试组件200的位置，所述测试组件200包括测试座210以及设于所述测试座210上的两测试部件220，所述调节组件300包括调节导轨310以及设于所述调节导轨310上的两调节块，所述测试部件220设于所述调节块上，所述调节块在所述调节导轨310上滑动，进而带动所述测试部件220在所述测试座210上相对运动，在所述测试部件220 上设有吸附结构240，所述吸附结构240用于吸附待测物件的测试点。
[0028]需要说明的是，在本实施例中，测试组件200通过螺栓可拆卸的设置在底板100上，使得测试组件200损坏时，能够直接对该测试组件200进行更换，进一步提升测试治具的实用性；通过设置调节组件300，能够将两测试部件220 在所述测试座210上相对运动，两测试部件220之间电性连接，且均能够与待测物件的测试点相适配，并且两测试部件220能够根据测试物件的测试点的分布情况来调节；同时，设置在测试座210上的吸附结构240能够有效的将待测物件的测试点吸附在测试座210上，无需人工对测试点进行对齐，节约工作时间，提升工作效率以及产品良率。
[0029]具体的，在所述测试座210的一侧设有压紧结构400，所述压紧结构400包括压紧底座410以及与所述压紧底座410活动连接的压紧件420，当所述待测物件放置于所述测试座210上时，所述压紧件420朝向所述测试座210移动，以压紧所述待测物件。
[0030]可以理解的，当测试物件的测试点放置在测试部件220上时，压紧结构400 会将待测物件的测试点压紧，进而避免测试物件从测试部件220上松脱或出现热拔插的现象本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试治具，其特征在于，包括底板以及可拆卸设置于所述底板上的测试组件，在所述测试组件的一端设有调节组件，所述调节组件用于调节所述测试组件的位置，所述测试组件包括测试座以及设于所述测试座上的两测试部件，所述调节组件包括调节导轨以及设于所述调节导轨上的两调节块，所述测试部件设于所述调节块上，所述调节块在所述调节导轨上滑动，进而带动所述测试部件在所述测试座上相对运动，在所述测试部件上设有吸附结构，所述吸附结构用于吸附待测物件的测试点。2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，在所述测试座的一侧设有压紧结构，所述压紧结构包括压紧底座以及与所述压紧底座活动连接的压紧件，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述压紧件朝向所述测试座移动，以压紧所述待测物件。3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，在所述压紧底座的边角位置设有限位块，当所述待测物件放置于所述测试座上时，所述待测物件的侧边抵靠所述限位块...

【专利技术属性】
技术研发人员：贺建文，
申请(专利权)人：浙江联信康科技有限公司，
类型：新型
国别省市：