【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种影像光学系统平面分辨率校正方法，包括下列步骤：提供一校正样本以及一影像感测装置，该校正样本表面具有明线与暗线相间的直线条纹，该校正样本设置于一待测平面处，一影像感测装置具有影像撷取手段、记忆手段以及逻辑演算手段；在影像感 测装置的有效感测范围内选择连续排列之数条明线与暗线；透过影像感测装置撷取校正样本影像信息并储存影像信息；透过逻辑演算手段以影像边界判断之影像处理手段，以影像感测装置之像素为参考坐标定义正交之第一轴与第二轴，并计算出所选择之明 线条纹的数量以及直线方程式，其中直线方程式系包括直线斜率ａ以及截距ｂ信息，斜率ａ系直线在第一轴方向增加单位距离时的第二轴增加量，截距ｂ系直线与第二轴相交位置；透过逻辑演算手段以各个明线直线方程式的截距ｂ，计算相邻明线在第二轴方向上的 平均距离△ｂ；以及透过逻辑演算手段计算影像感测装置所撷取影像倍率为△ｂ／＊＊＊。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林耀明，张维哲，张宏彰，
申请(专利权)人：致茂电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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