具有材料输入识别的研磨方法和设施技术

本发明专利技术涉及一种用于研磨颗粒状的散装物料形式的进料(1)的方法。在此检测进料(1)的颗粒尺寸并且根据至少一个操纵变量在研磨机(3)中研磨进料(1)。当小颗粒尺寸在检测到的颗粒尺寸中的份额增加时，改变至少一个操纵变量。本发明专利技术还涉及一种用于研磨颗粒状的散装物料形式的进料(1)的设施。形式的进料(1)的设施。形式的进料(1)的设施。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有材料输入识别的研磨方法和设施


[0001]本专利技术涉及用于研磨颗粒状的散装物料的方法和用于研磨颗粒状的散装物料形式的进料的设施。

技术介绍

[0002]在现有技术中已知：检测研磨过的材料的颗粒尺寸分布。因此，JP2016
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200518A公开了一种位于用于研磨过的材料的材料储存器和混合设备之间的图像检测设备，其中在该混合设备中输送水和水泥。根据US5,386,945A，研磨过的材料的颗粒尺寸分布用于经由特征模型适配运行条件。JPH07
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116531A公开了一种用于具有研磨料层厚度传感器的辊研磨机的调控方法。
[0003]从WO2018/148832A1中已知：数字图像检测传感器设置用于测量在输送带上输送至研磨机的输送流中的石头的尺寸分布。测量下落的岩石块，其中基于参数、即所输送的材料的尺寸分布和硬度的测量制定调控策略。
[0004]从US2018/0369829A1中已知一种破碎方法，其中在输送带上运行的矿石在其输送给研磨回路之前借助3D图像检测系统检测图像。特别地，公开了确定颗粒尺寸分布廓线，从颗粒尺寸分布廓线中可以计算岩石尺寸变量，其中包括体积流或一定的预设的最小或最大的颗粒百分比份额的颗粒数。特别地，可以确定在以下砾石尺寸范围内的颗粒数，该砾石尺寸对应于适合于预设的研磨机配置中用作研磨体的颗粒尺寸范围，其中还可以控制研磨速度、质量输送、水加料、在球式研磨机或砾石加料器中的球加料。WO2020/049517A1公开了一种使用机器学习来调节矿石破碎机来监测铁矿石性质的方法。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是：提供用于研磨颗粒状的散装物料形式的进料的方法和设施，其具有改进的可用性和工艺稳定性，特别是通过减少所产生的振动而具有改进的可用性和工艺稳定性。可用性定义为其中可以生产成品的研磨机的时间。当存在运行干扰或者必须执行维护措施时，研磨机不可用。
[0006]本专利技术提供一种用于研磨颗粒状的散装物料形式的进料的方法，其中首先检测进料的颗粒尺寸并且然后根据至少一个操纵变量在研磨机中研磨进料。根据本专利技术，当小颗粒尺寸在检测到的颗粒尺寸中的份额增加时，改变至少一个操纵变量。特别地，操纵变量可以通过控制单元来自动改变。控制单元可以是具有相应适配的程序的计算机或微芯片。但是，替代地还可行的是：向操作者输出指示，例如警告信号，并且然后操作者改变操纵变量。给操作员的指示可以包含改变操纵变量的建议。已经认识到：高细度份额有助于增加研磨机振动。相反，在已知的现有技术中的观点为：特别大份额的大颗粒尺寸在振动产生方面是相关的。
[0007]特别地，小颗粒尺寸的份额是从检测到的颗粒尺寸中计算的。在此，小颗粒尺寸尤其可以定义为低于预定尺寸、特别是预定最小直径或预定最小体积的颗粒。该份额尤其可
以是重量份额、体积份额或颗粒数份额。
[0008]有利地，计算指示小颗粒尺寸份额的特征变量。特别地，根据该特征变量改变操纵变量。
[0009]在一个实施方式中，通过将所确定的颗粒数除以由进料检测设备可检测到的最大颗粒数来计算特征变量。由进料检测设备可检测到的最大颗粒数量尤其与进料检测设备的分辨率及其关于进料的布置相关。用进料检测设备可检测到的最大颗粒数量尤其是用于运行该方法的设施的固定预设参数。
[0010]特征变量尤其可以根据每个识别到的颗粒的直径来计算。每个识别到的颗粒的直径可以以绝对方式计算或在投影面积中来计算。直径可以作为等价直径、最大直径或最小直径来确定。为了确定最大直径或最小直径，可以确定与颗粒的检测到的投影面积的等价面积。等价直径尤其可以是具有如下圆面积的直径，该圆面积对应于检测到的颗粒的投影面积。
[0011]在一个实施方式中，特征变量通过具有一定直径直至所选择的网目宽度的特定颗粒数除以所确定的总颗粒数的商来计算。为此，特别是通过图像处理软件为每个识别到的颗粒计算直径。
[0012]尤其可以在投影面积中检测直径。
[0013]在一个实施方式中，在图像检测面中检测进料的颗粒的至少一部分的外部颗粒形状的投影。这尤其可以借助于数码相机对暴露在进料上部区域中的部分颗粒来进行。
[0014]然后，可以借助于具有一定直径直至所选择的网目宽度的颗粒的投影面积之和除以所有颗粒的投影面积之和来计算特征变量。为此，尤其通过图像处理软件为每个识别到的颗粒计算投影面积。
[0015]在一个实施方式中，检测颗粒的体积。这尤其可以借助于体积扫描仪、例如X射线扫描仪来进行。在另一实施方式中，计算颗粒的体积。为此，首先，颗粒的相机记录的投影面积可以被近似为圆形面。然后，可以借助近似的圆形面的直径将颗粒体积近似为球。替代地，可以在颗粒的相机记录的投影面中确定两个正交直径，并且可以将颗粒体积近似为椭圆体，该椭圆体通过投影面中的两个正交直径和与其正交的第三直径来确定，该第三直径对应于投影面中的两个直径中的较小或较大者。在其他的实施方式中，可以通过从不同角度的相机记录来计算颗粒的体积。
[0016]然后可以借助具有一定直径直至所选择的网目宽度的颗粒的体积之和除以所有颗粒体积之和的商来计算特征变量。为此，尤其通过图像处理软件为每个识别到的颗粒计算投影面积。
[0017]小颗粒尺寸的份额越大，上述特征变量就越大。上述特征变量特别是0和1之间的无量纲数。上述特征变量随着细颗粒份额的降低而降低。
[0018]所选择的网目宽度尤其小于8mm(毫米)、小于6.3mm、小于5mm、小于4mm、小于3mm、小于2mm或小于1mm。网目尺寸尤其大于0.5mm。
[0019]特征变量尤其可以从关于颗粒尺寸的累积分布函数来计算。特征变量尤其可以根据关于检测到的颗粒的分位数来计算。因此，可以将特征变量计算为如下颗粒直径，所确定的不足份额的颗粒直径低于该颗粒直径。
[0020]特征变量可以从数相关的累积分布函数中获得。数相关的累积分布函数具有直径
极限值作为函数自变量，并且该累积分布函数具有所有检测到的颗粒中直径小于该直径极限值的颗粒的量除以所有检测到的颗粒的总数的商作为函数值。特征变量于是是这样的直径值，在该直径值的情况下累积分布函数的函数值对应于所确定的不足份额。
[0021]特征变量可以从面积相关的累积分布函数中获得。面积相关的累积分布函数具有直径极限值作为函数自变量，并且具有所有检测到的颗粒中直径小于该直径极限值的颗粒的面积和除以所有检测到的颗粒的面积和的商作为函数值。特征变量于是是这样的直径值，在该直径值的情况下累积分布函数的函数值对应于所确定的不足份额。
[0022]特征变量可以从体积相关的累积分布函数中获得。体积相关的累积分布函数具有直径极限值作为函数自变量，并且具有所有检测到的颗粒中直径小于该直径极限值的颗粒的体积和除以所有检测到的颗粒的体积和的商作为函数值。特征变量于是是这样的直径值，在该直径值的情况下累积分布函数的函数值对应于所确定的不足份额。
[0023]不足份额特别是10％、50本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于研磨颗粒状的散装物料形式的进料(1)的方法，包括如下步骤：检测所述进料(1)的颗粒尺寸，根据至少一个操纵变量在研磨机(3)中研磨所述进料(1)，以及当小颗粒尺寸在检测到的所述颗粒尺寸中的份额增加时，改变至少一个所述操纵变量。2.根据权利要求1所述的方法，其中计算指示小颗粒尺寸的所述份额的特征变量，并且其中根据所述特征变量改变所述操纵变量。3.根据权利要求2所述的方法，其中通过将所确定的颗粒数除以由进料检测设备能检测到的最大颗粒数来计算所述特征变量。4.根据权利要求2所述的方法，其中所述颗粒尺寸根据每个识别到的颗粒的直径来计算，其中每个识别到的颗粒的直径在投影面积中来计算，并且其中所述特征变量通过具有一定直径直至所选择的网目宽度的颗粒的投影面积之和除以所有颗粒的投影面积之和来计算。5.根据权利要求2所述的方法，其中所述特征变量从关于所述颗粒尺寸的累积分布函数来计算。6.根据权利要求5所述的方法，其中所述累积分布函数是体积相关的，并且其中体积相关的所述累积分布函数具有直径极限值作为函数自变量，并且体积相关的所述累积分布函数具有所有检测到的颗粒中直径小于所述直径极限值的颗粒的体积和除以所有检测到的颗粒的体积和的商作为函数值，其中所述特征变量是直径值，在该情况下所述累积分布函数的函数值对应于所确定的不足份额。7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中通过使研磨盘(4)相对于研磨辊(5)围绕所述研磨盘(4)的中轴线(100)旋转来进行研磨，使得所述研磨盘(4)的研磨轨道上的所述研磨辊(5)围绕辊转动轴线滚动。8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述至少一个操纵变量的改变引起所述研磨机(3)的驱动速度降低，特别是所述研磨盘(4)的转速降低。9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述至少一个操纵变量的改变引起所述研磨机(3)的至少一个辊体(5)的挤压力减小。10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述至少一个操纵变量的改变引起所述进料(1)的质量流量的...

【专利技术属性】
技术研发人员：M，
申请(专利权)人：吉布尔法伊弗股份公司，
类型：发明
国别省市：