【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种半导体装置(1),具有半导体元件(2)、覆盖半导体元件(2)的覆盖部(4)以及粘结半导体元件(2)和覆盖部(4)的第一粘结部(5),在半导体元件(2)和覆盖部(4)之间形成第一中空部(9),在第一粘结部(5)中形成从第一中空部(9)连通到外部的第一通气路(7),其特征在于:第一通气路(7)在从覆盖部(4)露出的部分形成有遮断第一通气路(7)的遮断部(11)。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:熊田清,藤田和弥,
申请(专利权)人:夏普株式会社,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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