图形处理中经压缩的Z平面的存储与应用制造技术

描述了图形处理中经压缩的z平面的生成和存储。处理器的示例包括：栅格化器，该栅格化器用于生成包括像素数据的块的像素数据的片段；深度流水线，该深度流水线用于接收该片段，该深度流水线包括第一深度测试硬件和第二深度测试硬件，该第一深度测试硬件用于执行粗深度测试，该粗深度测试包括确定每个块的最小深度和最大深度；以及深度缓冲器，其中，处理器用于确定该片段是否满足该片段完全覆盖像素数据的片并通过第一深度测试并且该片段的最小深度和最大深度中的每一个具有相同的符号和指数的要求，并且用于在确定该片段满足要求后，利用第一深度测试生成经压缩的深度平面并且利用该经压缩的深度平面更新深度缓冲器。利用该经压缩的深度平面更新深度缓冲器。利用该经压缩的深度平面更新深度缓冲器。

【技术实现步骤摘要】
图形处理中经压缩的Z平面的存储与应用


[0001]本公开总体上涉及数据处理，并且更具体地涉及图形处理中经压缩的Z平面的生成和存储。

技术介绍

[0002]在3D图形处理中，每个像素或其他元素均具有表示距观看者的虚拟距离的相关联的深度(Z值)，深度值被用来标识更远离于其他遮挡对象的对象，从而允许移除(剔除)未看到的对象。
[0003]在用于图形处理的现代Z流水线中，图形处理单元(GPU)通常包括在逐像素深度(IZ)测试之前的粗深度(HiZ/分层深度)测试。由粗深度硬件执行的Z测试(深度测试)基于单独的分层深度缓冲器，该分层深度缓冲器存储覆盖逐像素深度缓冲器的矩形部分的最小/最大范围。
[0004]在操作中，对于每个传入的片段，在片段通过粗深度测试后，以逐像素硬件可以计算和传送新的深度值到高速缓存(诸如，到L2或L3高速缓存)所按照的速率执行下面的Z填充操作。
[0005]因此，传统系统被约束为以较慢的速率运行大型基元的Z填充操作，这因此受到图形处理器的逐像素块中已投入的硬件和带宽的限制。因此，Z流水线的性能可能会降低。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种处理器，包括：栅格化器，所述栅格化器用于生成包括像素数据的多个块的像素数据的片段，每个块包括多个像素；深度流水线，所述深度流水线用于接收所述片段，所述深度流水线至少包括第一深度测试硬件和第二深度测试硬件，所述第一深度测试硬件用于执行粗深度测试，所述粗深度测试包括确定每个块的最小深度和最大深度；以及深度缓冲器，所述深度缓冲器用于存储深度数据；其中，所述处理器用于确定所述片段是否满足所述片段完全覆盖像素数据的片并通过所述第一深度测试并且所述片段的所述最小深度和所述最大深度中的每一个具有相同的符号和指数的要求，并且用于在确定所述片段满足所述要求后，利用所述第一深度测试生成经压缩的深度平面并且利用所述经压缩的深度平面更新所述深度缓冲器。2.如权利要求1所述的处理器，其特征在于，所述处理器进一步用于将所述经压缩的深度平面从所述深度缓冲器写入高速缓存。3.如权利要求2所述的处理器，其特征在于，所述处理器进一步包括解压缩器，所述解压缩器用于对来自所述高速缓存的所述经压缩的深度平面进行解压缩，其中，对所述经压缩的深度平面的解压缩包括使用无符号数学运算生成深度值。4.如权利要求1所述的处理器，其特征在于，所述第二深度硬件用于执行逐像素深度计算。5.如权利要求4所述的处理器，其特征在于，在确定所述片段不满足所述要求后，所述处理器用于将所述片段提供给所述第二深度测试硬件以进行逐像素插值，并且用于将逐像素值传输到所述深度缓冲器。6.如权利要求1所述的处理器，其特征在于，所述经压缩的深度平面以用于所述粗深度测试的速率写入所述深度缓冲器。7.如权利要求1所述的处理器，其特征在于，所述经压缩的深度平面包括：所述片的所述多个块中的每个块的基线值；所述片的X偏移值和Y偏移值；以及深度符号和深度指数。8.如权利要求7所述的处理器，其特征在于，块的所述X偏移值和所述Y偏移值至少部分地基于所述块的深度值在X方向上的斜率和所述块在Y方向上的斜率。9.如权利要求7所述的处理器，其特征在于，块的所述基线值是所述块的最小深度。10.如权利要求1所述的处理器，其特征在于，每个块是4乘4的像素块，并且其中所述片是8乘8的像素片。11.一种系统，包括：一个或多个处理器，所述一个或多个处理器包括图形处理器；存储器，所述存储器用于数据的存储；以及高速缓存存储器；其中所述图形处理器包括：栅格化器，所述栅格化器用于生成包括像素数据的多个块的像素数据的片段，每个块包括多个像素；
深度流水线，所述深度流水线用于接收所述片段，所述深度流水线至少包括第一深度测试硬件和第二深度测试硬件，所述第一深度测试硬件用于执行粗深...

【专利技术属性】
技术研发人员：S，
申请(专利权)人：英特尔公司，
类型：发明
国别省市：