本实用新型专利技术提供一种冲击试样缺口投影仪的测量装置，该冲击试样缺口投影仪的测量装置包括：测量板，所述测量板包括第一区域和/或第二区域；所述第一区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第一极限尺寸图样；所述第二区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第二极限尺寸图样和多个第二标准尺寸图样；所述标准缺口样板图样为冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样；所述第一极限尺寸图样和所述第二极限尺寸图样均是利用标准缺口样板图样的最大允许误差形成的最大极限尺寸图样或最小极限尺寸图样。本方案实现了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的快速准确的测量，提高了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的检测效率。口样板图样的检测效率。口样板图样的检测效率。
【技术实现步骤摘要】
一种冲击试样缺口投影仪的测量装置
[0001]本技术涉及仪器测量领域，具体涉及一种冲击试样缺口投影仪的测量装置。
技术介绍
[0002]冲击试样缺口投影仪是一种对冲击试样缺口的要求而设计开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用测量仪器。该仪器通过测量试样以确定被检测试样的冲击试样缺口加工是否合格。
[0003]冲击试样缺口测量仪广泛应用于海洋工程、装备制造、冶金、锅炉压力容器和工程机械制造等行业。由于冲击试样缺口的加工质量和测量精度直接决定材料冲击性能试验的正确判断，而冲击试样缺口测量仪作为其主要参数的检测仪器，该仪器测量的准确与否关系到材料试验结果的有效性以及生产制造工艺的确定与改进；但是目前对冲击试验缺口试样投影仪上标准缺口样板图样的测量较为繁琐，测量光学型冲击试验缺口试样投影仪标准样板上V型缺口和U型缺口时，需要将标准样板从投影仪上拆下，然后使用万能工具显微镜多次进行读数、测量然后计算才能得出检测结果，导致工作效率不高，不利于对冲击试验缺口试样投影仪进行快速准确的校准，同时，数码型冲击试样缺口投影仪示值误差的测量没有专用标准器，从而导致其示值无法溯源。
技术实现思路
[0004]本技术要解决的技术问题是提供一种冲击试样缺口投影仪的测量装置，实现了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的快速准确的测量，提高了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的检测效率。
[0005]为解决上述技术问题，本技术的技术方案如下：
[0006]本技术的实施例提供一种冲击试样缺口投影仪的测量装置，包括：
[0007]测量板，所述测量板包括第一区域和/或第二区域；
[0008]所述第一区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第一极限尺寸图样；
[0009]所述第二区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第二极限尺寸图样和多个第二标准尺寸图样；
[0010]所述标准缺口样板图样为冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样；
[0011]所述第一极限尺寸图样和所述第二极限尺寸图样均是利用标准缺口样板图样的最大允许误差形成的最大极限尺寸图样或最小极限尺寸图样。
[0012]可选的，所述测量板的材料为光学玻璃或石英玻璃。
[0013]可选的，所述第一极限尺寸图样包括：第一V型尺寸图样和/或第一U型尺寸图样；其中，所述第一V型尺寸图样包括：第一V型最小极限图样和第一V型最大极限图样；
[0014]所述第一V型最小极限图样设置在所述第一V型最大极限图样的内部，且在所述第一V型最大极限图样和所述第一V型最小极限图样之间形成标准缺口样板图样的第一公差带；
[0015]所述第一U型尺寸图样包括：第一U型最小极限图样和第一U型最大极限图样；
[0016]所述第一U型最小极限图样设置在所述第一U型最大极限图样的内部，且在所述第一U型最大极限图样和所述第一U型最小极限图样之间形成标准缺口样板图样的第二公差带。
[0017]可选的，所述第一V型尺寸图样还包括：
[0018]第一中垂线，所述第一中垂线平分所述第一V型最小极限图样和第一V型最大极限图样。
[0019]可选的，所述第一U型尺寸图样还包括：
[0020]第二中垂线，所述第二中垂线平分所述第一U型最小极限图样和第一U型最大极限图样。
[0021]可选的，所述第一公差带和所述第二公差带做透光处理，所述第一区域上除所述第一公差带和所述第二公差带以外的部分做黑化处理。
[0022]可选的，所述第一V型最小极限图样和第一V型最大极限图样的线宽为预设值；
[0023]所述第一U型最小极限图样和第一U型最大极限图样的线宽为预设值。
[0024]可选的，所述第二极限尺寸图样包括：第二V型极限尺寸图样和/或第二U型极限尺寸图样；
[0025]所述第二标准尺寸图样包括：第二V型标准尺寸图样和第二U型标准尺寸图样。
[0026]可选的，所述第二V型极限尺寸图样包括：第二V型最小极限图样和第二V型最大极限图样；
[0027]所述第二U型极限尺寸图样包括：第二U型最小极限图样和第二U型最大极限图样。
[0028]可选的，所述第二V型最小极限图样、第二V型最大极限图样、所述第二V型标准尺寸图样、第二U型最小极限图样和第二U型最大极限图样以及所述第二U型标准尺寸图样做黑化处理；
[0029]所述第二区域上除所述第二V型最小极限图样、第二V型最大极限图样、所述第二V型标准尺寸图样、第二U型最小极限图样和第二U型最大极限图样以及所述第二U型标准尺寸图样以外的部分做透光处理。
[0030]本技术的上述方案至少包括以下有益效果：
[0031]本技术所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，包括：测量板，所述测量板包括第一区域和/或第二区域；所述第一区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第一极限尺寸图样；所述第二区域内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第二极限尺寸图样和多个第二标准尺寸图样；所述标准缺口样板图样为冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样；所述第一极限尺寸图样和所述第二极限尺寸图样均是利用标准缺口样板图样的最大允许误差形成的最大极限尺寸图样或最小极限尺寸图样。解决了现有冲击试样缺口投影仪上标准缺口样板图样的测量工序繁琐、效率低以及测量示值无法溯源的问题。实现了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的快速准确的测量，提高了对冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样的检测效率。
附图说明
[0032]图1是本技术的冲击试样缺口投影仪的测量装置的结构示意图；
[0033]图2是本技术的冲击试样缺口投影仪的测量装置的第一V型尺寸图样；
[0034]图3是本技术的冲击试样缺口投影仪的测量装置的第一V型尺寸图样的局部放大图；
[0035]图4是本技术的冲击试样缺口投影仪的测量装置的第一U型尺寸图样；
[0036]图5是本技术的冲击试样缺口投影仪的测量装置的第一V型尺寸图样的工作图；
[0037]图6是本技术的冲击试样缺口投影仪的测量装置的第一V型尺寸图样的工作图的局部放大图；
[0038]图7是本技术的光学型冲击试样缺口投影仪的投影屏上的标准样板示意图；
[0039]其中，1、测量板；2、第一区域；21、第一V型尺寸图样；22、第一U型尺寸图样；211、第一V型最小极限图样；212、第一V型最大极限图样；213、第一公差带；214、第一中垂线214；221、第一U型最小极限图样；222、第一U型最大极限图样；223、第二公差带；224、第二中垂线；3、第二区域；311、第二V型最小极限图样；312、第二V型最大极限图样；313、第二V型标准尺寸图样；321、第二U型最小极限图样；322、第二U型最大极限图样；323、第二U型标准尺寸图样；61、第一V型标准尺寸图样；62、第八V型标准尺寸图样；6本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，包括：测量板(1)，所述测量板(1)包括第一区域(2)和/或第二区域(3)；所述第一区域(2)内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第一极限尺寸图样；所述第二区域(3)内刻有与标准缺口样板图样相对应的多个第二极限尺寸图样和多个第二标准尺寸图样；所述标准缺口样板图样为冲击试样缺口投影仪上的标准缺口样板图样；所述第一极限尺寸图样和所述第二极限尺寸图样均是利用标准缺口样板图样的最大允许误差形成的最大极限尺寸图样或最小极限尺寸图样。2.根据权利要求1所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述测量板(1)的材料为光学玻璃或石英玻璃。3.根据权利要求1所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述第一极限尺寸图样包括：第一V型尺寸图样(21)和/或第一U型尺寸图样(22)；其中，所述第一V型尺寸图样(21)包括：第一V型最小极限图样(211)和第一V型最大极限图样(212)；所述第一V型最小极限图样(211)设置在所述第一V型最大极限图样(212)的内部，且在所述第一V型最大极限图样(212)和所述第一V型最小极限图样(211)之间形成标准缺口样板图样的第一公差带(213)；所述第一U型尺寸图样(22)包括：第一U型最小极限图样(221)和第一U型最大极限图样(222)；所述第一U型最小极限图样(221)设置在所述第一U型最大极限图样(222)的内部，且在所述第一U型最大极限图样(222)和所述第一U型最小极限图样(221)之间形成标准缺口样板图样的第二公差带(223)。4.根据权利要求3所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述第一V型尺寸图样(21)还包括：第一中垂线(214)，所述第一中垂线(214)平分所述第一V型最小极限图样(211)和第一V型最大极限图样(212)。5.根据权利要求3所述的冲击试样缺口投影仪的测量装置，其特征在于，所述第一U型尺...
【专利技术属性】
技术研发人员：余俊斌，王琨，纪红刚，李淑映，叶驭龙，郑爽，
申请(专利权)人：广东省珠海市质量计量监督检测所，
类型：新型
国别省市：
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