本发明专利技术公开了一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置，包括排气组件、测试组件、承压组件和硬盘测试系统，其中，所述测试组件包括测试箱，所述测试箱的内部底面上固定有支撑盘，所述支撑盘中间固定有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的顶端处轴承连接有转盘，所述转盘的外圈上均匀固定有若干连杆，若干所述连杆外端安装有夹持部，所述夹持部的上端开设有连接口，所述夹持部的内部安装有老化测试仪，所述老化测试仪与连接口间导线连接，所述连接口一侧固定有温度传感器，所述老化测试仪和温度传感器均与硬盘测试系统无线连接，该装置解决了当前如何在硬盘老化测试中提高结果精准性的问题。问题。
【技术实现步骤摘要】
一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置
[0001]本专利技术涉及硬盘测试
，具体为一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置。
技术介绍
[0002]硬盘是由负责存储的机械系统和负责控制及通信的电路系统组成的，硬盘长时间使用后，出现老化，其影响也主要表现在这两个方面，一是机械系统的老化，为磁头老化和电机老化，二是电路系统的老化，当硬盘的电路系统老化时，最容易出现的故障就是硬盘识别不正常，其表现为硬盘工作中突然就不能正常识别了，重启或放置一段时间后，又可以正常工作，且故障反复发作。
[0003]当进行硬盘投入批量生产时，应进行硬盘的老化测试，但现有的老化测试通常采用密封装置下的高温检测，这样并不能完全模拟硬盘在真正使用过程中出现的老化问题，因此测试出的结果具有明显偏差，因此如何高度模拟硬盘使用时老化环境，以提高测试结果精准性是本领域人员应当解决的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置，包括排气组件、测试组件、承压组件和硬盘测试系统，其中：
[0006]所述测试组件包括测试箱，所述测试箱的内部底面上固定有支撑盘，所述支撑盘中间固定有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的顶端处轴承连接有转盘，所述转盘的外圈上均匀固定有若干连杆，若干所述连杆外端安装有夹持部，所述夹持部的上端开设有连接口，所述夹持部的内部安装有老化测试仪，所述老化测试仪与连接口间导线连接，所述连接口一侧固定有温度传感器，所述老化测试仪和温度传感器均与硬盘测试系统无线连接，所述测试箱的一侧转动连接有箱门。
[0007]本专利技术进一步说明，所述排气组件包括风机、加热管和排气口，其中：
[0008]所述测试箱的左壁上安装有加热电源，所述加热电源与加热管电连接，所述风机位于测试箱上方，所述风机与测试箱内部管道连接，且管道上安装有控制阀，所述排气口开设于测试箱的底部。
[0009]本专利技术进一步说明，所述承压组件包括测压元件和承压板，其中：
[0010]所述测压元件上端与承压板的底部相固定，所述测压元件的下端与电动伸缩杆的顶部相固定，所述测试箱的内壁上安装有摄像头；
[0011]所述硬盘测试系统包括控制模块、分析模块和调试模块。
[0012]本专利技术进一步说明，所述硬盘测试系统的运行方法如下：
[0013]S1：测试箱为开放式结构，打开箱门，将待测硬盘依次安装在夹持部上，并且接通
连接口，随后关闭箱门，硬盘测试系统启动；
[0014]S2：硬盘测试系统进行待测硬盘的老化测试，设定初始加热温度为125℃，且初始检测时间为T0，排气组件运行，进行内部老化环境模拟；
[0015]S3：测试组件与排气组件同步运行，控制待测硬盘在模拟环境中达到预设效果状态，实现受热均匀，以提高老化检测过程中数据的精准性；
[0016]S4：在待测硬盘达到预设效果后，承压组件以及温度传感器将检测的压力数据以及温度数据传输至分析模块，分析模块对硬盘的实际检测时间进行自动调整，进而使得老化测试仪接收到的数据精准。
[0017]本专利技术进一步说明，所述S2的具体步骤为：
[0018]S21：加热电源启动，使内部的加热管的温度达到125℃；
[0019]S22：风机启动，外部气流经控制阀进入测试箱内部，并从排气口排出，使得内部进行暖气流流动，进行硬盘投入使用状态下的高温环境模拟。
[0020]本专利技术进一步说明，所述S3的具体内容为：
[0021]在内部气流流动时，摄像头对转盘的运行状态进行监测，设定预设效果的检测状态为转盘在内部气流作用下，带动待测硬盘发生转动，转速记为R，且0<R≤0.1r/s；
[0022]当摄像头检测到转盘未发生转动时，说明转盘所处的高度偏低，导致气流分散，不足以带动转盘旋转，因此控制模块控制电动伸缩杆以v0的移速带动转盘缓慢上移，当摄像头检测到转盘受气流作用发生转动时，控制模块控制电动伸缩杆停止上移并保持现有高度，进行老化测试；
[0023]设定测试箱内部空间足够大，当电动伸缩杆带动转盘上移到最高距离，且未达到转动状态时，控制模块通过调节控制阀的阀口大小使得内部进气量增大，使得内部气流增多，以促使转盘发生转动。
[0024]本专利技术进一步说明，所述S4中的承压组件对气流压力以及灰尘积聚的压力进行检测，并将转盘刚进行转动时承压板的承受压力记为f，在装置稳定运行固定时间段后的压力记为f1，设定测压元件11所承受气压的最大压力值记为f
max
。
[0025]本专利技术进一步说明，所述分析模块结合f1和f建立压力变化系数α，且和f建立压力变化系数α，且其中设定灰尘施加的压力小于气流施加压力，因此0≤α<1。
[0026]本专利技术进一步说明，所述老化测试仪对硬盘处的温度传感器所检测的温度进行采集，并检测接收信号的稳定性，设定接收频率处于平稳状态时，传输信号为0，接收频率处于波动状态时，传输信号为1。
[0027]所述调试模块根据温度传感器以及信号稳定性数据进行实际检测时间T的计算。
[0028]本专利技术进一步说明，所述实际检测时间T的计算公式如下：
[0029][0030]其中，T为初始检测时间，α为压力变化系数，i为测试箱内为达到受热均匀效果下固定时间段的使用次数。
[0031]与现有技术相比，本专利技术所达到的有益效果是：本专利技术，采用测试箱、排气组件和测试组件，为硬盘的老化测试提供开放式检测设备，模拟出硬盘在老化测试中通风状态下
的高温环境，更加贴合硬盘的实际使用情况，同时在测试过程中，实现多个硬盘的均匀受热，提高测试结果的精准性。
附图说明
[0032]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：
[0033]图1是本专利技术的整体正面剖视结构示意图；
[0034]图2是本专利技术的整体内部示意图；
[0035]图中：1、测试箱；2、风机；3、控制阀；4、加热电源；5、箱门；6、加热管；7、排气口；8、支撑盘；9、电动伸缩杆；10、转盘；11、测压元件；12、承压板；13、连杆；14、夹持部；15、连接口。
具体实施方式
[0036]以下结合较佳实施例及其附图对本专利技术技术方案作进一步非限制性的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0037]实施例一
[0038]请参阅图1
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2，本专利技术提供技术方案：一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置，包本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置，包括排气组件、测试组件、承压组件和硬盘测试系统，其中：所述测试组件包括测试箱(1)，所述测试箱(1)的内部底面上固定有支撑盘(8)，所述支撑盘(8)中间固定有电动伸缩杆(9)，所述电动伸缩杆(9)的顶端处轴承连接有转盘(10)，所述转盘(10)的外圈上均匀固定有若干连杆(13)，若干所述连杆(13)外端安装有夹持部(14)，所述夹持部(14)的上端开设有连接口(15)，所述夹持部(14)的内部安装有老化测试仪，所述老化测试仪与连接口(15)间导线连接，所述连接口(15)一侧固定有温度传感器，所述老化测试仪和温度传感器均与硬盘测试系统无线连接，所述测试箱(1)的一侧转动连接有箱门(5)。2.根据权利要求1所述的一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置，所述排气组件包括风机(2)、加热管(6)和排气口(7)，其中：所述测试箱(1)的左壁上安装有加热电源(4)，所述加热电源(4)与加热管(6)电连接，所述风机(2)位于测试箱(1)上方，所述风机(2)与测试箱(1)内部管道连接，且管道上安装有控制阀(3)，所述排气口(7)开设于测试箱(1)的底部。3.根据权利要求2所述的一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置，所述承压组件包括测压元件(11)和承压板(12)，其中：所述测压元件(11)上端与承压板(12)的底部相固定，所述测压元件(11)的下端与电动伸缩杆(9)的顶部相固定，所述测试箱(1)的内壁上安装有摄像头；所述硬盘测试系统包括控制模块、分析模块和调试模块；所述控制模块用于控制排气组件、测试组件以及承压组件的运行，所述排气组件用于控制测试装置内部通热气，提供老化测试中的高温环境，所述测试组件结合摄像头对内部硬盘的测试状态进行调整，使之达到待测硬盘连接在连接口(15)处能够发生缓慢转动达到受热均匀的预设效果，所述承压组件用于进行内部压力检测，并将检测数据传输至分析模块，所述分析模块用于根据承压组件数据以及老化测试仪数据进行分析是否受热均匀以及内部检测数据的稳定性，所述调试模块用于根据温度传感器的实时数据进行内部加热时间调整。4.根据权利要求3所述的一种智能高效的服务器主板接口的硬盘测试装置，其中：所述硬盘测试系统的运行方法如下：S1：测试箱(1)为开放式结构，打开箱门(5)，将待测硬盘依次安装在夹持部(14)上，并且接通连接口(15)，随后关闭箱门(5)，硬盘测试系统启动；S2：硬盘测试系统进行待测硬盘的老化测试，设定初始加热温度为125℃，且初始检测时间为T0，排气组件运行，进行内部老化环境模拟；S3：测试组件与排气组件同步运行，控制待测硬盘在模拟环境中达到预设效果状态，实现受热均匀，以提高老化检测过程中数据的精准性；S4：...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈超，刘海波，
申请(专利权)人：江苏特创科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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