存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质，该方法包括：当接通电源时，通过所述存储设备的MCU运行预先存入的测试程序，并检测在测试结果数据区域中是否有测试结果数据；若没有所述测试结果数据，则自动进行测试，并在测试结束后，生成测试结果数据并存入所述测试结果数据区域；根据所述测试结果数据生成地址表，并将所述地址表存入所述存储设备中，所述地址表用于记录所述存储设备中的坏块地址。使得在对存储设备进行测试时，无需上位机运行测试程序，只需要存储设备自己存储测试代码，并进行对自身的测试，不需要依赖上位机，增加了测试效率。增加了测试效率。增加了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及测试领域，尤其涉及一种存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质。

技术介绍

[0002]原有的存储器的生产流程，通常是利用一台电脑实现一拖几的测试方案，在测试期间，需要一直占用电脑，而且每次测试都只能一个个依次测试及接收测试结果数据，耗时间。在存储设备测试过程中，算计完全依耐于电脑本身，电脑的算力是有限的，大规模的存储器测试的生产中，也会导致需要很大数量的电脑，并且一个存储器的测试过程，跟存储容量的大小来区分，可能需要2
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8小时的时间进行测试；这样会导致生产效率低下，因为由电脑的数量，决定了可以同时并行测试的存储数量，电脑的数量，也会导致需要生产车间的空间要求和电力，制冷的要求。

技术实现思路

[0003]第一方面，本申请提供一种存储设备自动测试方法，包括：
[0004]当接通电源时，通过所述存储设备的MCU运行预先存入的测试程序，并检测在测试结果数据区域中是否有测试结果数据；
[0005]若没有所述测试结果数据，则自动进行测试，并在测试结束后，生成测试结果数据并存入所述测试结果数据区域；
[0006]根据所述测试结果数据生成地址表，并将所述地址表存入所述存储设备中，所述地址表用于记录所述存储设备中的坏块地址。
[0007]进一步的，所述地址表为mask掩码表，所述mask掩码表用于使所述存储设备根据所述mask掩码表中记录的坏块地址，规划有效存储区域。
[0008]进一步的，所述预先写入测试程序，包括：
[0009]通过将所述存储设备和上位机连接，从所述上位机中下载测试程序到所述存储设备；
[0010]所述测试程序包括测试项目的具体流程。
[0011]进一步的，所述从上位机上下载测试程序到所述存储设备时包括：
[0012]所述上位机对所述存储设备的预设存储空间进行快捷测试，获取稳定的存储区域，在所述稳定的存储区域中划分测试结果数据区域和程序区域；
[0013]所述程序区域用于储存所述测试程序，所述测试结果数据区域用于储存所述测试结果数据。
[0014]进一步的，还包括：将所述测试结果数据进行加密后存储在所述测试结果数据区域。
[0015]进一步的，生成测试结果数据包括：
[0016]在进行测试时，实时记录测试过程中产生的日志，并根据关键字，从所述日志中获
取对应的测试数据；
[0017]在测试结束后，根据所述测试数据和所述测试的种类，得到所述测试结果数据。
[0018]进一步的，所述测试的种类包括数据读写压力测试、质量测试和覆盖测试中的一种。
[0019]第二方面，本申请还提供一种存储设备自动测试装置，包括：
[0020]启动模块，用于当接通电源时，通过所述存储设备的MCU运行预先存入的测试程序，并检测在测试结果数据区域中是否有测试结果数据；
[0021]自动测试模块，用于若没有所述测试结果数据，则自动进行测试，并在测试结束后，生成测试结果数据并存入所述测试结果数据区域；
[0022]解析模块，用于根据所述测试结果数据生成地址表，并将所述地址表存入所述存储设备中，所述地址表用于记录所述存储设备中的坏块地址。
[0023]第三方面，本申请还提供一种存储设备，包括处理器和存储器，所述存储设备存储有计算机程序，所述计算机程序在所述处理器上运行时执行所述的储设备自动测试方法。
[0024]第四方面，本申请还提供一种可读存储介质，其存储有计算机程序，所述计算机程序在处理器上运行时执行所述的储设备自动测试方法。
[0025]本专利技术实施例公开了一种存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质，该方法包括：当接通电源时，通过所述存储设备的微处理器运行预先存入的测试程序，并检测在测试结果数据区域中是否有测试结果数据；若没有所述测试结果数据，则自动进行测试，并在测试结束后，生成测试结果数据并存入所述测试结果数据区域；根据所述测试结果数据生成地址表，并将所述地址表存入所述存储设备中，所述地址表用于记录所述存储设备中的坏块地址。使得在对存储设备进行测试时，无需上位机运行测试程序，只需要存储设备自己存储测试代码，并进行对自身的测试，不需要依赖上位机，同一时间测试的设备数量大大增加，因此增加了测试效率。
附图说明
[0026]为了更清楚地说明本专利技术的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对本专利技术保护范围的限定。在各个附图中，类似的构成部分采用类似的编号。
[0027]图1示出了本申请实施例一种存储设备自动测试方法流程示意图；
[0028]图2示出了本申请实施例一种存储设备结构示意图；
[0029]图3示出了本申请实施例一种存储设备自动测试装置结构示意图。
具体实施方式
[0030]下面将结合本专利技术实施例中附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0031]通常在此处附图中描述和示出的本专利技术实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本专利技术的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本专利技术的范围，而是仅仅表示本专利技术的选定实施例。基于本专利技术的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范
围。
[0032]在下文中，可在本专利技术的各种实施例中使用的术语“包括”、“具有”及其同源词仅意在表示特定特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合，并且不应被理解为首先排除一个或更多个其它特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的存在或增加一个或更多个特征、数字、步骤、操作、元件、组件或前述项的组合的可能性。
[0033]此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0034]除非另有限定，否则在这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)具有与本专利技术的各种实施例所属领域普通技术人员通常理解的含义相同的含义。所述术语(诸如在一般使用的词典中限定的术语)将被解释为具有与在相关
中的语境含义相同的含义并且将不被解释为具有理想化的含义或过于正式的含义，除非在本专利技术的各种实施例中被清楚地限定。
[0035]本申请的技术方案应用于对存储设备的自动化测试，通过将运行测试程序的主体由上位机变为被测试的存储设备，使得可以同时进行测试的存储设备数量不再受限制于上位机的连接接口数量，并且解放了上位机，即不用一直占用上位机，而是存储设备进行自我测试，大大增大了测试效率。
[0036]接下来以具体实施例来说明本申请的技术方案。
[0037]实施例1
[0038]如图1所示，本申请的存储设备的自动化测试方本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储设备自动测试方法，其特征在于，包括：当接通电源时，通过所述存储设备的MCU运行预先存入的测试程序，并检测在测试结果数据区域中是否有测试结果数据；若没有所述测试结果数据，则自动进行测试，并在测试结束后，生成测试结果数据并存入所述测试结果数据区域；根据所述测试结果数据生成地址表，并将所述地址表存入所述存储设备中，所述地址表用于记录所述存储设备中的坏块地址。2.根据权利要求1所述的存储设备自动测试方法，其特征在于，所述地址表为mask掩码表，所述mask掩码表用于使所述存储设备根据所述mask掩码表中记录的坏块地址，规划有效存储区域。3.根据权利要求1所述的存储设备自动测试方法，其特征在于，所述预先写入测试程序，包括：通过将所述存储设备和上位机连接，从所述上位机中下载测试程序到所述存储设备；所述测试程序包括测试项目的具体流程。4.根据权利要求3所述的存储设备自动测试方法，其特征在于，所述从所述上位机上下载测试程序到所述存储设备时包括：所述上位机对所述存储设备的预设存储空间进行快捷测试，获取稳定的存储区域，在所述稳定的存储区域中划分测试结果数据区域和程序区域；所述程序区域用于储存所述测试程序，所述测试结果数据区域用于储存所述测试结果数据。5.根据权利要求1所述的存储设备自动测试方法，其特征在于，还包括：将所述测试结果数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭四方，
申请(专利权)人：深圳市德明利技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：