存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质，该方法包括：当接通电源时，通过所述存储设备的MCU运行预先存入的测试程序，并检测在测试结果数据区域中是否有测试结果数据；若没有所述测试结果数据，则自动进行测试，并在测试结束后，生成测试结果数据并存入所述测试结果数据区域；根据所述测试结果数据生成地址表，并将所述地址表存入所述存储设备中，所述地址表用于记录所述存储设备中的坏块地址。使得在对存储设备进行测试时，无需上位机运行测试程序，只需要存储设备自己存储测试代码，并进行对自身的测试，不需要依赖上位机，增加了测试效率。增加了测试效率。增加了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及测试领域，尤其涉及一种存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质。

技术介绍

[0002]原有的存储器的生产流程，通常是利用一台电脑实现一拖几的测试方案，在测试期间，需要一直占用电脑，而且每次测试都只能一个个依次测试及接收测试结果数据，耗时间。在存储设备测试过程中，算计完全依耐于电脑本身，电脑的算力是有限的，大规模的存储器测试的生产中，也会导致需要很大数量的电脑，并且一个存储器的测试过程，跟存储容量的大小来区分，可能需要2
‑
8小时的时间进行测试；这样会导致生产效率低下，因为由电脑的数量，决定了可以同时并行测试的存储数量，电脑的数量，也会导致需要生产车间的空间要求和电力，制冷的要求。

技术实现思路

[0003]第一方面，本申请提供一种存储设备自动测试方法，包括：
[0004]当接通电源时，通过所述存储设备的MCU运行预先存入的测试程序，并检测在测试结果数据区域中是否有测试结果数据；
[0005]若没有所述测试结果数据，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储设备自动测试方法，其特征在于，包括：当接通电源时，通过所述存储设备的MCU运行预先存入的测试程序，并检测在测试结果数据区域中是否有测试结果数据；若没有所述测试结果数据，则自动进行测试，并在测试结束后，生成测试结果数据并存入所述测试结果数据区域；根据所述测试结果数据生成地址表，并将所述地址表存入所述存储设备中，所述地址表用于记录所述存储设备中的坏块地址。2.根据权利要求1所述的存储设备自动测试方法，其特征在于，所述地址表为mask掩码表，所述mask掩码表用于使所述存储设备根据所述mask掩码表中记录的坏块地址，规划有效存储区域。3.根据权利要求1所述的存储设备自动测试方法，其特征在于，所述预先写入测试程序，包括：通过将所述存储设备和上位机连接，从所述上位机中下载测试程序到所述存储设备；所述测试程序包括测试项目的具体流程。4.根据权利要求3所述的存储设备自动测试方法，其特征在于，所述从所述上位机上下载测试程序到所述存储设备时包括：所述上位机对所述存储设备的预设存储空间进行快捷测试，获取稳定的存储区域，在所述稳定的存储区域中划分测试结果数据区域和程序区域；所述程序区域用于储存所述测试程序，所述测试结果数据区域用于储存所述测试结果数据。5.根据权利要求1所述的存储设备自动测试方法，其特征在于，还包括：将所述测试结果数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭四方，
申请(专利权)人：深圳市德明利技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：