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本发明实施例公开了一种存储设备自动测试方法、装置、存储设备及存储介质，该方法包括：当接通电源时，通过所述存储设备的MCU运行预先存入的测试程序，并检测在测试结果数据区域中是否有测试结果数据；若没有所述测试结果数据，则自动进行测试，并在测试结...
该专利属于深圳市德明利技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市德明利技术股份有限公司授权不得商用。

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