一种管帽测试夹件、管帽测试工装及管帽测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种管帽测试夹件、管帽测试工装及管帽测试系统，包括侧部具有豁口的筒体；所述筒体包括有用于夹紧光电探测器的探测器接收端的下部筒体和用于夹紧管帽的上部筒体；所述上部筒体连接在所述下部筒体的上方，且所述下部筒体与所述上部筒体同轴配置；所述上部筒体的内径大于所述下部筒体的内径，所述下部筒体的顶端与所述上部筒体的下端之间形成有用于支撑所述管帽的支撑环。本实用新型专利技术提供的管帽测试夹件、管帽测试工装及管帽测试系统，在透光率测试时，管帽的透光球保持处于探测器接收端上的透光孔的正上方，管帽与芯片不接触，不会造成芯片损伤，有效降低了测试故障率，提高了测试效率。提高了测试效率。提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种管帽测试夹件、管帽测试工装及管帽测试系统


[0001]本技术涉及管帽测试
，尤其涉及一种管帽测试夹件、管帽测试工装及管帽测试系统。

技术介绍

[0002]二极管的管帽上具有玻璃球，需要测试其透光率，以确定其性能。
[0003]现有技术中，采用光电探测器来对管帽进行测试，光源发出的光被光接收器接收，并传输向管帽的玻璃球，光经玻璃球后被光电探测器的芯片接收，并转换为电流输出至测试盒，测试盒将电流转换为电压通过万用表进行显示，从而可判断出管帽的玻璃球的透光率。
[0004]现有的测试方式，为了实现玻璃球与光电探测器的芯片对准，光电探测器的芯片采用裸装方式，管帽直接扣在裸装的芯片上，容易造成芯片损伤或金丝碰断，故障率高。
[0005]现有技术中，缺少专门夹持管帽和光电探测器，以将其分开且能够进行透光率测试的管帽测试夹件。
[0006]有鉴于此，提供一种新型的管帽测试夹件、管帽测试工装及管帽测试系统成为必要。

技术实现思路

[0007]本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种新型的管帽测试夹件、管帽测试工装及管帽测试系统。
[0008]本技术技术方案提供一种管帽测试夹件，包括侧部具有豁口的筒体；
[0009]所述筒体包括有用于夹紧光电探测器的探测器接收端的下部筒体和用于夹紧管帽的上部筒体；
[0010]所述上部筒体连接在所述下部筒体的上方，且所述下部筒体与所述上部筒体同轴配置；
[0011]所述上部筒体的内径大于所述下部筒体的内径，所述下部筒体的顶端与所述上部筒体的下端之间形成有用于支撑所述管帽的支撑环。
[0012]在其中一项可选技术方案中，所述豁口沿着所述筒体的轴向延伸，并贯穿所述筒体的上下两端。
[0013]在其中一项可选技术方案中，所述下部筒体的外径小于所述上部筒体的外径。
[0014]在其中一项可选技术方案中，所述下部筒体与所述上部筒体一体成型。
[0015]本技术技术方案还提供一种管帽测试工装，包括底座、光接收器、光电探测器、管帽和前述任一技术方案所述的管帽测试夹件；
[0016]所述底座上设置有平行布置的支撑立柱和支撑立杆，所述支撑立柱上连接有水平延伸的吊臂，所述支撑立杆上连接有水平延伸的夹臂，所述夹臂具有用于夹持所述管帽测试夹件的夹槽；
[0017]所述光接收器装配在所述吊臂上；
[0018]在垂直方向上，所述光接收器的输出端处于所述夹槽的上方；
[0019]所述光电探测器包括探测器壳体、设置在所述探测器壳体上的圆柱形的探测器接收端、设置在所述探测器壳体中的芯片和与所述芯片连接的输出电极，所述探测器接收端的中心具有透光孔，所述透光孔的下端朝向所述芯片；
[0020]所述管帽包括圆筒形的帽盖和设置在所述帽盖的顶部的中心的透光球；
[0021]所述筒体夹紧在所述夹槽中，所述帽盖夹紧所述上部筒体中，所述探测器接收端夹紧在所述下部筒体中。
[0022]在其中一项可选技术方案中，所述光接收器的接收器壳体与所述吊臂滑动连接；
[0023]所述吊臂与所述接收器壳体之间配置有用于驱动所述接收器壳体移动调节的第一驱动机构。
[0024]在其中一项可选技术方案中，所述支撑立杆的下端可枢转地安装在所述底座上；
[0025]所述底座与所述支撑立杆之间配置有用于驱动所述支撑立杆转动的第二驱动机构。
[0026]在其中一项可选技术方案中，所述夹臂包括固定臂、配置在所述固定臂的一端的活动臂和用于驱动所述活动臂伸缩移动的伸缩驱动元件；
[0027]所述固定臂的一端与所述支撑立杆连接，所述伸缩驱动元件连接在所述固定臂与所述活动臂之间；
[0028]所述夹槽包括设置在所述固定臂的端面上的固定臂凹槽和设置在所述活动臂的端面上的活动臂凹槽。
[0029]在其中一项可选技术方案中，所述活动臂与所述固定臂的左右两侧分别连接有一个所述伸缩驱动元件。
[0030]本技术技术方案还提供一种管帽测试系统，包括光源、电源、测试盒、万用表和前述任一技术方案所述的管帽测试工装；
[0031]所述电源与所述测试盒通过电线连接；
[0032]所述光源与所述光接收器的接收端通过光纤连接；
[0033]所述光接收器的输出端朝向所述管帽；
[0034]所述光电探测器的输出电极通过导线与所述测试盒连接；
[0035]所述测试盒通过导线与所述万用表连接。
[0036]采用上述技术方案，具有如下有益效果：
[0037]本技术提供的管帽测试夹件、管帽测试工装及管帽测试系统，管帽测试夹件的筒体由下部筒体和上部筒体组成，下部筒体和上部筒体的连接处具有支撑环以支撑管帽，光电探测器的圆柱形的探测器接收端放置在下部筒体中，筒体的侧部具有豁口，在筒体被夹臂夹持时，上部筒体和下部筒体收缩夹紧管帽和探测器接收端，并可使得管帽的透光球保持处于探测器接收端上的透光孔的正上方，管帽与芯片不接触，不会造成芯片损伤，有效降低了测试故障率，提高了测试效率。
附图说明
[0038]参见附图，本技术的公开内容将变得更易理解。应当理解：这些附图仅仅用于
说明的目的，而并非意在对本技术的保护范围构成限制。图中：
[0039]图1为本技术一实施例提供的管帽测试夹件的立体图；
[0040]图2为图1所示的管帽测试夹件的剖视图；
[0041]图3为本技术一实施例提供的管帽测试工装的示意图；
[0042]图4为管帽测试夹件夹持管帽和光电探测器的示意图；
[0043]图5为光电探测器的结构示意图；
[0044]图6为第一驱动机构的示意图；
[0045]图7为夹臂、支撑立杆、底座及第二驱动机构的布置示意图；
[0046]图8为夹臂的俯视图；
[0047]图9为本技术一实施例提供的管帽测试系统的示意图。
具体实施方式
[0048]下面结合附图来进一步说明本技术的具体实施方式。其中相同的零部件用相同的附图标记表示。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。
[0049]如图1
‑
2和图3
‑
4所示，本技术实施例提供的管帽测试夹件，包括侧部具有豁口11的筒体1。
[0050]筒体1包括有用于夹紧光电探测器4的探测器接收端42的下部筒体 12和用于夹紧管帽5的上部筒体13。
[0051]上部筒体13连接在下部筒体12的上方，且下部筒体12与上部筒体 13同轴配置。
[0052]上部筒体13的内径大于下部筒体12的内径，下部筒体12的顶端与上部筒体13的下端之间形成有用于支撑管帽5的支撑环14。
[0053]本技术实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种管帽测试夹件，其特征在于，包括侧部具有豁口的筒体；所述筒体包括有用于夹紧光电探测器的探测器接收端的下部筒体和用于夹紧管帽的上部筒体；所述上部筒体连接在所述下部筒体的上方，且所述下部筒体与所述上部筒体同轴配置；所述上部筒体的内径大于所述下部筒体的内径，所述下部筒体的顶端与所述上部筒体的下端之间形成有用于支撑所述管帽的支撑环。2.根据权利要求1所述的管帽测试夹件，其特征在于，所述豁口沿着所述筒体的轴向延伸，并贯穿所述筒体的上下两端。3.根据权利要求1所述的管帽测试夹件，其特征在于，所述下部筒体的外径小于所述上部筒体的外径。4.根据权利要求1所述的管帽测试夹件，其特征在于，所述下部筒体与所述上部筒体一体成型。5.一种管帽测试工装，其特征在于，包括底座、光接收器、光电探测器、管帽和权利要求1
‑
4中任一项所述的管帽测试夹件；所述底座上设置有平行布置的支撑立柱和支撑立杆，所述支撑立柱上连接有水平延伸的吊臂，所述支撑立杆上连接有水平延伸的夹臂，所述夹臂具有用于夹持所述管帽测试夹件的夹槽；所述光接收器装配在所述吊臂上；在垂直方向上，所述光接收器的输出端处于所述夹槽的上方；所述光电探测器包括探测器壳体、设置在所述探测器壳体上的圆柱形的探测器接收端、设置在所述探测器壳体中的芯片和与所述芯片连接的输出电极，所述探测器接收端的中心具有透光孔，所述透光孔的下端朝向所述芯片；所述管帽包括圆筒形的帽盖和设置在所述帽盖的顶...

【专利技术属性】
技术研发人员：钱艳维，郝辰君，
申请(专利权)人：北京世维通科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：