攻击检测方法和装置制造方法及图纸

本申请实施例提供攻击检测方法和装置，用于检测掉电时芯片是否受到攻击者攻击。方法包括：获取第一数据，第一数据用于校验第二数据；从存储模块读取第二数据，其中，存储模块是非掉电易失性存储设备，且存储模块中的数据在遇到外部加热时被改变；根据第一数据校验第二数据以得到校验结果，校验结果指示了存储模块所在的系统是否受到外部加热攻击。在的系统是否受到外部加热攻击。在的系统是否受到外部加热攻击。在的系统是否受到外部加热攻击。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘彭劼，肖勇军，季彦平，贾波，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：