一种工业液体杂质含量检测装置及检测系统制造方法及图纸

技术编号:35689062 阅读:18 留言:0更新日期:2022-11-23 14:36
本发明专利技术提供了一种工业液体杂质含量检测装置及检测系统,该工业液体杂质含量检测装置包括:具通液腔的透光管,配置于所述透光管外表面的激光发射装置,以及激光接收装置;所述激光发射装置包括:周向配置于所述透光管外表面的多个激光发射单元;所述激光接收装置包括:周向配置于所述透光管外表面并与所述激光发射单元相对设置的激光接收单元;周向配置于所述透光管并一一对应于所述激光发射单元与所述激光接收单元的多个清除装置,以通过所述清除装置清除所述透光管内表面的杂质。通过本申请,实现了工业液体杂质含量检测装置实时监测工业液体中的杂质含量,以便于在工业液体中的杂质含量超标时及时处理。的杂质含量超标时及时处理。的杂质含量超标时及时处理。

【技术实现步骤摘要】
一种工业液体杂质含量检测装置及检测系统


[0001]本专利技术涉及激光检测
,尤其涉及一种工业液体杂质含量检测装置及检测系统。

技术介绍

[0002]工业液体(例如切屑液、清洗液、冷却液等)在使用的过程中会混合各种杂质,其中,杂质大致可以分为两类:固体颗粒物和胶状物。若工业液体中杂质含量超标,其功能(例如润滑、冷却等)会受到影响,甚至会引发机械故障。因此,实时监测杂质的含量成为一种需求和必要。并且工业液体中的杂质,特别是胶状物杂质容易沉积于管路的内表面。
[0003]然而,现有技术中的工业液体杂质含量检测装置存在难以实时监测工业液体中的杂质含量的缺陷,从而难以在工业液体中的杂质含量超标时及时处理。
[0004]有鉴于此,有必要对现有技术中的工业液体杂质含量检测装置予以改进,以解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于揭示一种工业液体杂质含量检测装置及检测系统,用于解决现有技术中的工业液体杂质含量检测装置所存在的诸多缺陷,尤其是为了实现实时监测工业液体中的杂质含量,以便于在工业液体中的杂质含量超标时及时处理。
[0006]为实现上述目的,本专利技术提供了一种工业液体杂质含量检测装置及检测系统,包括:具通液腔的透光管,配置于所述透光管外表面的激光发射装置,以及激光接收装置;
[0007]所述激光发射装置包括:周向配置于所述透光管外表面的多个激光发射单元;
[0008]所述激光接收装置包括:周向配置于所述透光管外表面并与所述激光发射单元相对设置的激光接收单元;
[0009]周向配置于所述透光管并一一对应于所述激光发射单元与所述激光接收单元的多个清除装置,以通过所述清除装置清除所述透光管内表面的杂质。
[0010]作为本专利技术的进一步改进,所述清除装置包括:
[0011]周向抵持于所述透光管内表面的活动单元,以及驱动所述活动单元在所述通液腔内横向运动的驱动单元。
[0012]作为本专利技术的进一步改进,所述驱动单元被构造出压缩腔,所述压缩腔容置与所述驱动单元分离设置的第一磁铁,配置于所述透光管外表面以供所述第一磁铁横向运动的第一导轨,以及为压缩腔提供压缩气体的供气模块。
[0013]作为本专利技术的进一步改进,所述活动单元内嵌第二磁铁,以及配置于所述透光管内表面以供所述第二磁铁横向运动的第二导轨;
[0014]所述活动单元靠近所述激光接收装置的自由端形成斜面。
[0015]作为本专利技术的进一步改进,所述第二磁铁与所述第一磁铁相对设置;
[0016]所述第二磁铁径向向外的一侧磁极为S极或N极;
[0017]所述第一磁铁径向向内的一侧磁极为S极或N极。
[0018]作为本专利技术的进一步改进,以通过所述第一磁铁与所述第二磁铁磁极之间的磁场作用力驱动所述第二磁铁同步带动所述活动单元在所述通液腔内横向运动。
[0019]基于相同专利技术思想,本专利技术还揭示了一种检测系统,包括:上位机PC,电性连接所述上位机PC的总控制模块,以及受控于所述总控制模块的如前述任一项专利技术创造所揭示的工业液体杂质含量检测装置;
[0020]总供电模块,所述总供电模块用于为所述激光发射装置、所述激光接收装置、所述供气模块与所述总控制模块提供电源。
[0021]作为本专利技术的进一步改进,所述总控制模块用于控制所述供气模块与所述清除装置,以通过所述供气模块与所述清除装置对所述透光管内表面沉积的杂质进行清理。
[0022]作为本专利技术的进一步改进,所述总控制模块包括:
[0023]第一控制模块,所述第一控制模块用于控制所述激光发射装置发射激光;
[0024]第二控制模块,所述第二控制模块用于控制所述激光接收装置接收激光;
[0025]校准模块,所述校准模块用于确定工业液体杂质含量的基准数据;
[0026]在线监测模块,所述在线监测模块用于监测使用中的工业液体的透光率;
[0027]通讯模块,所述通讯模块用于向所述上位机PC发出报警信息。
[0028]作为本专利技术的进一步改进,所述总供电模块包括:
[0029]第一供电模块,所述第一供电模块用于为所述激光发射单元提供电源;
[0030]第二供电模块,所述第二供电模块为所述激光接收单元提供电源。
[0031]与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:
[0032]通过多个激光发射单元与激光接收单元能够对透光管内流通的工业液体的杂质含量进行实时监测,再通过清除装置对透光管内表面沉积的杂质进行清理,从而避免激光发射单元所发射的激光在穿过透光管时因内表面沉积的杂质降低激光的透光强度,进而提高了该工业液体杂质含量检测装置对工业液体中的杂质含量的测量精度,以便于在工业液体中的杂质含量超标时及时处理。
附图说明
[0033]图1为本专利技术工业液体杂质含量检测装置的正视图;
[0034]图2为工业液体杂质含量检测装置的侧视图;
[0035]图3为图2中所示的活动单元沿箭头d所示方向横向运动后的状态示意图;
[0036]图4为图3中所示的活动单元复位后的状态示意图;
[0037]图5为本专利技术总控制模块与工业液体杂质含量检测装置的拓扑图;
[0038]图6为总控制模块与总供电模块的拓扑图;
[0039]图7为总控制模块与上位机PC的拓扑图。
具体实施方式
[0040]下面结合附图所示的各实施方式对本专利技术进行详细说明,但应当说明的是,这些实施方式并非对本专利技术的限制,本领域普通技术人员根据这些实施方式所作的功能、系统、或者结构上的等效变换或替代,均属于本专利技术的保护范围之内。
[0041]需要理解的是,在本申请中,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“轴向”、“径向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术方案和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术方案的限制。
[0042]尤其需要说明的是,在下述的实施例中,术语“轴向”是指图4中轴线c所在方向。术语“横向”是指平行于轴线c并平行于水平面的方向。
[0043]请参图1至图4所揭示的一种工业液体杂质含量检测装置的一种具体实施方式。
[0044]参图1至图4所示,在本实施方式中,该工业液体杂质含量检测装置包括:具通液腔103的透光管10,配置于透光管10外表面101的激光发射装置20,以及激光接收装置30;激光发射装置20包括:周向配置于透光管10外表面101的多个激光发射单元21;激光接收装置30包括:周向配置于透光管10外表面101并与激光发射单元21相对设置的激光接收单元31;周向配置于透光管10并一一对应于激光发射单元21与激光接收单元31的多个清除装置40;本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种工业液体杂质含量检测装置,其特征在于,包括:具通液腔的透光管,配置于所述透光管外表面的激光发射装置,以及激光接收装置;所述激光发射装置包括:周向配置于所述透光管外表面的多个激光发射单元;所述激光接收装置包括:周向配置于所述透光管外表面并与所述激光发射单元相对设置的激光接收单元;周向配置于所述透光管并一一对应于所述激光发射单元与所述激光接收单元的多个清除装置,以通过所述清除装置清除所述透光管内表面的杂质。2.根据权利要求1所述的工业液体杂质含量检测装置,其特征在于,所述清除装置包括:周向抵持于所述透光管内表面的活动单元,以及驱动所述活动单元在所述通液腔内横向运动的驱动单元。3.根据权利要求2所述的工业液体杂质含量检测装置,其特征在于,所述驱动单元被构造出压缩腔,所述压缩腔容置与所述驱动单元分离设置的第一磁铁,配置于所述透光管外表面以供所述第一磁铁横向运动的第一导轨,以及为压缩腔提供压缩气体的供气模块。4.根据权利要求3所述的工业液体杂质含量检测装置,其特征在于,所述活动单元内嵌第二磁铁,以及配置于所述透光管内表面以供所述第二磁铁横向运动的第二导轨;所述活动单元靠近所述激光接收装置的自由端形成斜面。5.根据权利要求4所述的工业液体杂质含量检测装置,其特征在于,所述第二磁铁与所述第一磁铁相对设置;所述第二磁铁径向向外的一侧磁极为S极或N极;所述第一磁铁径向向内的一侧磁极为S极或N极...

【专利技术属性】
技术研发人员:张天友
申请(专利权)人:无锡科技职业学院
类型:发明
国别省市:

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