一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架制造技术

本发明专利技术提供了一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架，包括筒身、支撑、支点以及锁紧结构，所述筒身是支架的主体部分，用于容纳微波探头，并将所述支撑和锁紧结构连成一体；所述筒身前端延伸出多个所述支撑；所述支点位于每个支撑的顶端，支点底部为光滑球形；所述锁紧结构位于筒身的后端，用于固定微波探头。本支架是装备吸波涂层反射率现场测量的辅助装置，可适应复杂表面形状，并确保对同一部位进行多次测量时的姿态一致，极大地便利了现场测试设备微波探头的操作使用，提高了吸波涂层反射率测量结果精度。层反射率测量结果精度。

【技术实现步骤摘要】
一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架


[0001]本专利技术涉及吸波涂层反射率测试领域，更具体的说，涉及一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架。

技术介绍

[0002]吸波涂层常涂敷于装备表面用于降低装备表面的雷达波散射特性。吸波涂层涂敷到装备表面后，随着使用、自然磨损及腐蚀等原因，其性能会不断下降。因此，需要对装备的表面进行定期维护，确保其满足指标要求。为验证维护效果，需对维护后的吸波涂层的吸波性能进行检测。而装备的使用环境往往不具备吸波涂层反射率测量所需的实验室测试环境。装备吸波涂层反射率现场测量需采用专用的吸波涂层反射率测试设备进行测试。
[0003]现有的吸波涂层反射率现场测试设备，其微波探头无固定支架，使用过程中，需测试人员手持探头对准装备被测部位，存在随意性大、测量结果重复性差等问题，致使测量结果精度低，无法满足使用需求。

技术实现思路

[0004]为解决上述问题，本专利技术提供一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架，包括筒身、支撑、支点以及锁紧结构，其特征在于：所述筒身是支架的主体部分，用于容纳微波探头，并将所述支撑和锁紧结构连成一体；所述筒身前端延伸出多个所述支撑，可将微波探头稳定置于不同曲率的装备表面；所述支点位于每个支撑的顶端，支点底部为光滑球形；所述锁紧结构位于筒身的后端，用于固定微波探头。
[0005]进一步，所述微波探头支架由非金属透波材料制成。
[0006]进一步，所述筒身为圆筒形，并做镂空处理。
[0007]进一步，所述支撑的个数为3个或多于3个。
[0008]进一步，所述多个支撑构成的横截面的尺寸不小于所述筒身的横截面尺寸。
[0009]进一步，所述支撑的形状、厚度以及宽度从根部逐渐收缩至所述支点。
[0010]进一步，所述支点表面包覆橡胶套。
[0011]进一步，所述支点为隔热耐高温的气凝胶或硅酸铝泡沫材料制成。
[0012]进一步，所述支点的个数为3个，且位于同一平面的圆上，且三等分此圆，3个支点两两间夹角为120度。
[0013]本专利技术带来的有益效果是，本支架可适应装备的不同表面形状，并确保对同一部位进行多次测量时的姿态一致，提高现场测试设备曲面适应性及测量稳定性，极大地便利了现场测试设备微波探头的操作使用，提高了吸波涂层反射率测量结果精度。
附图说明
[0014]图1是本专利技术的微波探头支架结构示意图。
[0015]图2是本专利技术的微波探头支架测试状态剖视图。
[0016]图3是本专利技术的微波探头支架结构示意图俯视图。
[0017]其中，1.筒身，2.支撑，3.支点，4.锁紧结构。
具体实施方式
[0018]下面通过实施例，并结合附图，对本专利技术的技术方案作进一步具体的说明。
[0019]本实施例的一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架结构示意图如图1所示，微波探头支架包括：筒身1、支撑2、支点3以及锁紧结构4。
[0020]微波探头支架由具有一定机械强度、重量轻的非金属透波材料制成，以减小支架本身对电磁波的反射，提高测量精度。微波探头支架的总长度，可根据测试系统发射信号的功率及微波探头的波束角度大小进行设计。筒身1 与支撑2的长度分配比例，可根据探头支架材质的机械强度和设备整体工业造型进行合理分配。
[0021]筒身1是微波探头支架的主体部分，可以为圆筒形，但不限于圆筒结构，可根据测试设备整机外观进行工业造型设计，用于容纳微波探头，并将支撑2和锁紧结构4连成一体。在保证机械强度的前提下，筒身1侧面可以做镂空处理，以减轻支架重量。
[0022]在筒身1的前端延伸出多个支撑2，多个支撑2构成的横截面的尺寸不小于筒身1的横截面尺寸，支撑2的形状(厚度，宽度)可以从根部逐渐收缩至支点3，以降低或消除支撑2对测量结果的影响。具体地，可以设置3 个支撑2，一方面3个支撑2可将微波探头稳定设置于不同曲率的装备表面，另外避免支撑2和支点3对微波探头发射/接收信号的遮挡，减轻引入微波探头支架对测量结果的影响。
[0023]支点3位于支撑2的顶端，两者之间采用分体设计，同时，支撑2分别与对应的支点3可靠连接。支点3底部为光滑球形，以避免划伤被测面吸波涂层。支点3表面可以包覆橡胶套，以增大支点3与被测装备表面间的摩擦力，提高测试姿态稳定性。为了满足微波探头支架多测量场景应用需求，如微波探头支架用于测量高温吸波涂层反射率时，支点3可更换为气凝胶或硅酸铝泡沫等隔热耐高温材料制作的支点3。具体地，支点数量为3个，如果支点数少于3个，则不能稳定探头姿态；如果支点数大于3个，则会增加探头与被测装备表面间的接触点数量，增加支架姿态调整的难度。而且，微波探头支架的3个支点3位于同一平面的圆上，且三等分此圆，3个支点3两两间夹角为120度。
[0024]微波探头支架锁紧结构4位于支架后端，用于固定微波探头。
[0025]图2示出了一种微波探头支架测试状态剖视图。微波探头通过支架锁紧结构4与微波探头支架可靠连接，微波探头位于微波探头支架内部；微波探头支架前端延伸出的3个支撑2，通过3个支点3可将微波探头稳定设置于不同曲率的装备表面。
[0026]图3示出了一种微波探头支架结构示意图俯视图，支撑2的横截面尺寸略大于筒身1的横截面尺寸，确保3个支撑2和3个支点3不会遮挡微波探头发射/接收信号，使得支撑2和支点3对测量结果的影响最小。微波探头支架的3个支点3位于同一平面的圆上，且三等分此圆，3个支点3两两间夹角为120度。
[0027]使用时，首先根据测试方案选择合适规格尺寸的微波探头支架，如微波探头支架用于测量高温吸波涂层反射率时，支点3应更换为气凝胶或硅酸铝泡沫等隔热耐高温材料，将微波探头与微波探头支架可靠联接；然后将连接好的微波探头支架放置于被测装备表面，需确保被测吸波涂层全部落在微波探头支架的3个支点3所在的区域内；保持微波探头
支架姿态不变，启动吸波涂层反射率现场测量设备，开始测量；测量完毕后，关闭吸波涂层反射率现场测量设备，将微波探头支架移离被测装备表面，将微波探头与微波探头支架分离，至此完成整个测试过程。
[0028]本文中所描述的具体实施例仅仅是对本专利技术精神作举例说明。本专利技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本专利技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。
[0029]尽管本文较多地使用了支撑、支点等术语，但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本专利技术的本质；把它们解释成任何一种附加的限制都是与本专利技术精神相违背的。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于吸波涂层反射率现场测量的微波探头支架，包括筒身、支撑、支点以及锁紧结构，其特征在于：所述筒身是支架的主体部分，用于容纳微波探头，并将所述支撑和锁紧结构连成一体；所述筒身前端延伸出多个所述支撑，可将微波探头稳定置于不同曲率的装备表面；所述支点位于每个支撑的顶端，支点底部为光滑球形；所述锁紧结构位于筒身的后端，用于固定微波探头。2.根据权利要求1所述的微波探头支架，其特征是：所述微波探头支架由非金属透波材料制成。3.根据权利要求1所述的微波探头支架，所述筒身为圆筒形，并做镂空处理。4.根据权利要求1所述的微...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛昀，彭刚，
申请(专利权)人：重庆测威科技有限公司，
类型：发明
国别省市：