一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板，包括：基板，所述基板划分为电源接口区和工作区，所述电源接口区包括漏极电源正极端、基极电源正极端和射极电源负极端，所述工作区包括m排n列个用于FCX458三极管测试的测试单元，所述测试单元通过基板顶层和/或底层的铜皮线路与所述集电极电源正极端、基极电源正极端和射极电源负极端连接。本实用新型专利技术的老炼板结构设计合理，可以进行1至20个器件之间任意数量器件的可靠的高温老炼试验，实现了同一性测试条件下大批量FCX458三极管的老炼试验。极管的老炼试验。极管的老炼试验。

【技术实现步骤摘要】
一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板


[0001]本技术涉及电子元器件可靠性测试
，尤其涉及一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板。

技术介绍

[0002]老炼试验是工程上常用来剔除早期失效产品，提高系统可靠性的方法。在较长的时间内对电子元器件连续施加一定的电应力，通过电
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热应力的综合作用来加速元器件内部各种物理、化学反应过程，促使元器件内部各种潜在缺陷及早暴露，从而达到剔除早期失效产品的目的。
[0003]老炼试验是一种非破坏性的试验，只是对有潜在缺陷的电路起到诱发作用，而不引起电路整体筛选后的新失效机理或改变它的失效分布。通过老炼试验只能改变电路的使用可靠性，而不会改变整个电路的固有可靠性，试验条件的选择主要是依据电路的可靠性要求程度其失效机理的特性。老炼试验实施时，将电子元器件置于老炼板上，并放入老炼箱中施加热应力和电应力，激发电路的早期失效。
[0004]批量生产的电子元器件,由于各种不确定因素,会导致同一批产品中各个元器件的可靠性不同。老炼试验对工艺制造过程中可能存在的一系列缺陷，如表面沾污、引线焊接不良、沟道漏电、硅片裂纹、氧化层缺陷、局部发热垫、二次击穿等都有较好的筛选效果，对于无缺陷的元器件，也可促使其电参数稳定，从而保证产品质量。
[0005]由于FCX458三极管采用SOT
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89封装，输出电流较大、功率耗散较高、封装形式特殊，因此，对FCX458三极管进行功率老炼难度较大，导致其一直处于缺项试验状态，该器件的使用可靠性无法满足实际需要。如图1所示，给出了FCX458三极管结构示意图。FCX458三极管具有四个引脚，具体为：与FCX458三极管的集电极引出的两个C端引脚，基极引出的B端引脚，射极引出的E端引脚。
[0006]传统的老炼板设计方法只能解决很小批量器件试验，且安装方式和操作方法繁琐、可靠性差，不适用于大批量FCX458三极管器件可靠性筛选与测试的要求，导致现有老炼试验载具并不具有对FCX458三极管器件进行高温反偏老炼试验的能力。

技术实现思路

[0007]本技术的目的在于提供一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板，用于解决无法实现大批量对FCX458三极管器件进行高温反偏老炼试验的问题。
[0008]为了实现上述目的，本技术提供如下技术方案：
[0009]本技术提供一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板，包括：基板，所述基板划分为电源接口区和工作区，所述电源接口区包括漏极电源正极端、基极电源正极端和射极电源负极端，所述工作区包括m排n列个用于FCX458三极管测试的测试单元，所述测试单元通过基板顶层和/或底层的铜皮线路与所述集电极电源正极端、基极电源正极端和射极电源负极端连接；
[0010]所述测试单元包括保险管、检测电阻、集电极功率电阻、射极功率电阻、与FCX458三极管管脚匹配的器件工位，所述器件工位包括位于同一边的基极触点、射极触点、第一集电极触点以及位于另一边的第二集电极触点，所述第一集电极触点与第二集电极触点短路连接；
[0011]所述集电极电源正极端依次通过保险管、检测电阻、集电极功率电阻连接至所述第一集电极触点与第二集电极触点；所述基极电源正极端作为集电极电源负极端并与基极触点短路连接；所述射极电源负极端作为基极电源负极端并通过射极功率电阻连接至所述射极触点。
[0012]进一步地，所述电源接口区还包括为每一测试单元配置的多个第二集电极电源正极端，所述第二集电极电源正极端连接至检测电阻与集电极功率电阻之间。
[0013]优选地，所述集电极功率电阻和射极功率电阻分别布局配置在所述器件工位的两侧。
[0014]优选地，所述集电极电源正极端所引出的铜皮线路配置在基板底层中间位置，并通过导电穿孔与所述检测电阻一端相连接。
[0015]优选地，所述射极电源正极端所引出的铜皮线路沿工作区边缘呈凹型配置在基板顶层，并与射极功率电阻一端相连接。
[0016]优选地，所述基极电源正极端所引出的铜皮线路配置于基板底层的两侧，配置为两条位于所述射极电源正极端所引出的铜皮线路内侧的铜皮线路，该两条铜皮线路通过铜皮连接线联通。
[0017]优选地，所述集电极电源正极端所引出的铜皮线路配置在基板底层中间位置，并通过导电穿孔与所述检测电阻一端相连接；所述射极电源正极端所引出的铜皮线路沿工作区边缘呈凹型配置在基板顶层，并与射极功率电阻一端相连接；所述基极电源正极端所引出的铜皮线路配置于基板底层的两侧，配置为两条位于所述射极电源正极端所引出的铜皮线路内侧的铜皮线路，该两条铜皮线路通过铜皮连接线联通。
[0018]优选地，所述工作区中测试单元阵列的排数m的取值范围为1至4，列数的取值范围为4至20，所述测试单元的数目取值范围为4至80。较佳地，排数m＝2，列数n＝10。
[0019]优选地，所述老炼板基板的板材耐温度数应大于或等于170摄氏度；所述铜皮线路的厚度为大于或等于70微米，线宽取值范围为10mil至20mil的区间；所述基板上每个网络铜皮线路布线过孔数小于或等于3个，相邻铜皮线路布线间距大于或等于0.3mm。
[0020]与现有技术相比，本技术提供的适于FCX458三极管老炼试验的老炼板设计方案中，采用m排n列的测试单元阵列布局，可以同时对多个测试器件进行批量测试，提高了老炼测试能力，满足大批量FCX458三极管在同一试验条件情况下同时进行试验的要求，具有大批量测试能力且满足同一性测试要求。老炼板的基板板材耐温应大于或等于170摄氏度可以实现高温老炼测试。通过合理设计布线线宽及过孔数目，可以确保老炼板的电气性能满足测试要求。通过配置发热量高的射极功率电阻和集电极功率电阻在器件工位两侧，可以分散测试单元发热量。
[0021]本技术的老炼板结构设计合理，实际操作简单，运行可靠，同时可以实现4至20个器件之间任意数量器件的可靠的高温老炼试验，大大提高了产品批生产过程中试验效率，尤其可以实现了小批量、大批量、高可靠、操作简单的FCX458三极管高温老炼试验。
附图说明
[0022]此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
[0023]图1为FCX458三极管的结构示意图；
[0024]图2为本技术实施例中FCX458三极管老炼试验原理示意图；
[0025]图3为本技术实施例中适于FCX458三极管老炼试验的老炼板顶层设计示意图；
[0026]图4为本技术实施例中适于FCX458三极管老炼试验的老炼板底层设计示意图。
具体实施方式
[0027]为了便于清楚描述本技术实施例的技术方案，在本技术的实施例中，采用了“第一”、“第二”等字样对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分。例如，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板，其特征在于，包括：基板，所述基板划分为电源接口区和工作区，所述电源接口区包括漏极电源正极端、基极电源正极端和射极电源负极端，所述工作区包括m排n列个用于FCX458三极管测试的测试单元，所述测试单元通过基板顶层和/或底层的铜皮线路与所述集电极电源正极端、基极电源正极端和射极电源负极端连接；所述测试单元包括保险管、检测电阻、集电极功率电阻、射极功率电阻、与FCX458三极管管脚匹配的器件工位，所述器件工位包括位于同一边的基极触点、射极触点、第一集电极触点以及位于另一边的第二集电极触点，所述第一集电极触点与第二集电极触点短路连接；所述集电极电源正极端依次通过保险管、检测电阻、集电极功率电阻连接至所述第一集电极触点与第二集电极触点；所述基极电源正极端作为集电极电源负极端并与基极触点短路连接；所述射极电源负极端作为基极电源负极端并通过射极功率电阻连接至所述射极触点。2.根据权利要求1所述的老炼板，其特征在于，所述电源接口区还包括为每一测试单元配置的多个第二集电极电源正极端，所述第二集电极电源正极端连接至检测电阻与集电极功率电阻之间。3.根据权利要求2所述的老炼板，其特征在于，所述集电极功率电阻和射极功率电阻分别布局配置在所述器件工位的两侧。4.根据权利要求2所述的老炼板，其特征在于，所述集电极电源正极端所引出的铜皮线路配置在基板底层中间位置，并通过导电穿孔与所述检测电阻一端相连接。5.根据权利要求2所述的老炼板，其特征在于，所述射极电源正极端所引...

【专利技术属性】
技术研发人员：张凡，左洪涛，贾民杰，宁凯，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：新型
国别省市：