一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板制造技术

本实用新型专利技术公开了一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板，包括：基板，所述基板划分为电源接口区和工作区，所述电源接口区包括漏极电源正极端、基极电源正极端和射极电源负极端，所述工作区包括m排n列个用于FCX458三极管测试的测试单元，所述测试单元通过基板顶层和/或底层的铜皮线路与所述集电极电源正极端、基极电源正极端和射极电源负极端连接。本实用新型专利技术的老炼板结构设计合理，可以进行1至20个器件之间任意数量器件的可靠的高温老炼试验，实现了同一性测试条件下大批量FCX458三极管的老炼试验。极管的老炼试验。极管的老炼试验。

【技术实现步骤摘要】
一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板


[0001]本技术涉及电子元器件可靠性测试
，尤其涉及一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板。

技术介绍

[0002]老炼试验是工程上常用来剔除早期失效产品，提高系统可靠性的方法。在较长的时间内对电子元器件连续施加一定的电应力，通过电
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热应力的综合作用来加速元器件内部各种物理、化学反应过程，促使元器件内部各种潜在缺陷及早暴露，从而达到剔除早期失效产品的目的。
[0003]老炼试验是一种非破坏性的试验，只是对有潜在缺陷的电路起到诱发作用，而不引起电路整体筛选后的新失效机理或改变它的失效分布。通过老炼试验只能改变电路的使用可靠性，而不会改变整个电路的固有可靠性，试验条件的选择主要是依据电路的可靠性要求程度其失效机理的特性。老炼试验实施时，将电子元器件置于老炼板上，并放入老炼箱中施加热应力和电应力，激发电路的早期失效。
[0004]批量生产的电子元器件,由于各种不确定因素,会导致同一批产品中各个元器件的可靠性不同。老炼试验对工艺制造过程中可能存在的一系列缺陷，如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种适于FCX458三极管老炼试验的老炼板，其特征在于，包括：基板，所述基板划分为电源接口区和工作区，所述电源接口区包括漏极电源正极端、基极电源正极端和射极电源负极端，所述工作区包括m排n列个用于FCX458三极管测试的测试单元，所述测试单元通过基板顶层和/或底层的铜皮线路与所述集电极电源正极端、基极电源正极端和射极电源负极端连接；所述测试单元包括保险管、检测电阻、集电极功率电阻、射极功率电阻、与FCX458三极管管脚匹配的器件工位，所述器件工位包括位于同一边的基极触点、射极触点、第一集电极触点以及位于另一边的第二集电极触点，所述第一集电极触点与第二集电极触点短路连接；所述集电极电源正极端依次通过保险管、检测电阻、集电极功率电阻连接至所述第一集电极触点与第二集电极触点；所述基极电源正极端作为集电极电源负极端并与基极触点短路连接；所述射极电源负极端作为基极电源负极端并通过射极功率电阻连接至所述射极触点。2.根据权利要求1所述的老炼板，其特征在于，所述电源接口区还包括为每一测试单元配置的多个第二集电极电源正极端，所述第二集电极电源正极端连接至检测电阻与集电极功率电阻之间。3.根据权利要求2所述的老炼板，其特征在于，所述集电极功率电阻和射极功率电阻分别布局配置在所述器件工位的两侧。4.根据权利要求2所述的老炼板，其特征在于，所述集电极电源正极端所引出的铜皮线路配置在基板底层中间位置，并通过导电穿孔与所述检测电阻一端相连接。5.根据权利要求2所述的老炼板，其特征在于，所述射极电源正极端所引...

【专利技术属性】
技术研发人员：张凡，左洪涛，贾民杰，宁凯，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：新型
国别省市：