【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子元器件检测，尤其涉及一种电子元器件快速检验方法及电子元器件采购管理系统。
技术介绍
1、电子元器件是元件和器件的总称，简称元器件。是电子元件和小型机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用。常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，如电容、晶体管、游丝、发条等子器件的总称。
2、元器件筛选实验是指提出早期失效的产品而进行的实验。它是一种对产品进行全数检验的非破坏性实验，通过按照一定的程序施加环境应力，激发出产品潜在的设计和制造缺陷，以便提出早期失效产品，降低失效率。
3、元器件质量检验一般包括厂家检验和补充检验。一般由元器件生产方进行的筛选称为厂家检验，主要包括按照国家规范要求元器件必须进行的质量筛选项目，如一次筛选、鉴定检验和一致性检验等。补充检验一般由使用方或第三方检测机构进行，以满足使用方规定的质量要求。
4、相关技术中，厂家检验和补充检验分别由生产方和使用方(或第三方检测机构)执行。因此厂家检验和补充检验的数据无法共享，且两次筛选时间相隔较长。基于上述情况，相关技术存在资源浪费、质量检验效率低的问题
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请的目的在于解决
技术介绍
提出的技术问题，提出一种电子元器件快速检验方法及电子元器件采购管理系统。
2、基于上述目的，本申请提供了电子元器件快速检验方法，应用于电子元器件采购管理系统，所述电子元器件采购管理系统包括电子元器件采购管理平台、电子元器件生产单元、电子元器
3、所述方法包括：
4、所述电子元器件采购管理平台根据选用单位第一指令生成电子元器件采购单，并根据所述电子元器件采购单和选用单位第二指令生成电子元器件检验方案；
5、所述电子元器件生产单元根据所述电子元器件采购单生产目标电子元器件；
6、所述电子元器件检测单元根据所述电子元器件检验方案对所述目标电子元器件进行检验并将检验结果上传至所述电子元器件采购管理平台；
7、其中，所述根据所述电子元器件采购单和选用单位第二指令生成电子元器件检验方案，包括：
8、根据所述电子元器件采购单确定所述目标电子元器件对应的规范要求，并根据所述规范要求确定所述目标电子元器件的基础检验项目；
9、根据所述选用单位第二指令确定所述目标电子元器件的额外检验项目；
10、对所述基础检验项目和所述额外检验项目进行合并，得到目标检验项目；
11、根据所述目标检验项目的检验要求确定满足最小损耗要求的目标检验样品；
12、根据所述目标检验项目以及对应的目标检验样品，生成所述电子元器件检验方案。
13、可选地，所述对所述基础检验项目和所述额外检验项目进行合并，得到目标检验项目，包括：
14、基于项目内容及检验要求对所述基础检验项目和所述额外检验项目进行对比，确定多个项目内容和检验要求均相同的重复检验项目；
15、将所述重复检验项目去重，得到合并检验项目。
16、可选地，所述对所述基础检验项目和所述额外检验项目进行合并，得到目标检验项目，还包括：
17、基于项目内容及检验要求对所述基础检验项目和所述额外检验项目进行对比，确定多个检验项目相同但检验要求不同的重复检验项目；
18、对同一检验项目的不同检验要求进行对比，确定检验范围最大的最高检验要求；
19、保留最高检验要求对应的重复检验项目为合并检验项目，并删除其他重复检验项目。
20、可选地，所述重复检验项目包括外观复查、老炼。
21、可选地，所述重复检验项目包括温度循环和高温贮存、质量一致性检验的第一部分实验和补充筛选。
22、可选地，所述根据所述目标检验项目的检验要求确定满足最小损耗要求的目标检验样品，包括：
23、确定所有样品功能无损检验项目所需的检验样品数，并将最大检验样品数作为第一检验样品数；所述样品功能无损检验项目指示对检验样品不会造成功能性破坏的检验项目；
24、确定所有样品功能有损检验项目所需的检验样品数，并将该检验样品数相加得到第二检验样品数；所述样品功能有损检验项目指示对检验样品会造成功能性破坏的检验项目；
25、响应于确定所述第一检验样品数小于或等于所述第二检验样品数，选取第二检验样品数的检验样本作为目标检验样本；
26、响应于确定所述第一检验样品数大于所述第二检验样品数，选取第一检验样品数的检验样本作为目标检验样本。
27、可选地，所述根据所述电子元器件检验方案对所述目标电子元器件进行检验，包括：
28、根据所述电子元器件检验方案和所述目标检验样品，对所述目标检验样本进行样品功能无损检验项目；
29、根据所述电子元器件检验方案和功能性未被破坏的目标检验样品，对所述目标检验样本进行样品功能有损检验项目。
30、可选地，所述样品功能无损检验项目包括补充筛选、质量一致性检验，所述质量一致性检验包括第一部分实验和第二部分实验，所述样品功能有损检验项目包括破坏性物理分析；所述第一部分实验与所述补充筛选为重复检验项目；
31、所述方法包括：
32、对所述目标检验样本进行所述补充筛选，并将实验结果作为补充筛选和第一部分实验的结果；
33、对所述目标检验样本继续进行所述第二部分实验；
34、响应于确定所述目标检验样本的功能性未被破坏，对所述目标检验样本进行破坏性物理分析实验。
35、可选地，所述根据所述电子元器件采购单和选用单位第二指令生成电子元器件检验方案，包括：
36、根据所述电子元器件采购单，确定所述电子元器件级别和对应的规范；
37、根据所述规范，确定所述基础检验项目和对应的检验要求；
38、根据所述第二指令和所述规范，确定所述额外检验项目和对应的检验要求；
39、根据所述基础检验项目、所述额外检验项目和对应的检验要求，得到所述电子元器件检验方案。
40、基于同一专利技术构思，本申请一个或多个实施例还提供了一种电子元器件采购管理系统，包括：
41、包括：电子元器件采购管理平台、电子元器件生产单元、电子元器件检测单元；
42、所述电子元器件采购管理平台，被配置为根据选用单位第一指令生成电子元器件采购单，并根据所述电子元器件采购单和选用单位第二指令生成电子元器件检验方案；
43、所述电子元器件生产单元，被配置为根据所述电子元器件采购单生产目标电子元器件；
44、所述电子元器件检测单元，被配置为根据所述电子元器件检验方案对所述目标电子元器件进行检验并将检验结果上传至所述电子元器件采购管理平台；
45、其中，所述根据所述电子元器件采购单和选用单位第二指令生成电子元器件检验方案，包括：
46、本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种电子元器件快速检验方法，其特征在于，应用于电子元器件采购管理系统，所述电子元器件采购管理系统包括电子元器件采购管理平台、电子元器件生产单元、电子元器件检测单元；
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述基础检验项目和所述额外检验项目进行合并，得到目标检验项目，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述基础检验项目和所述额外检验项目进行合并，得到目标检验项目，还包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述重复检验项目包括外观复查、老炼。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述重复检验项目包括温度循环和高温贮存、质量一致性检验的第一部分实验和补充筛选。
6.根据权利要求2或3中任一所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标检验项目的检验要求确定满足最小损耗要求的目标检验样品，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述根据所述电子元器件检验方案对所述目标电子元器件进行检验，包括：
8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述样品功能无损
9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述电子元器件采购单和选用单位第二指令生成电子元器件检验方案，包括：
10.一种电子元器件采购管理系统，其特征在于，包括：电子元器件采购管理平台、电子元器件生产单元、电子元器件检测单元；
...【技术特征摘要】
1.一种电子元器件快速检验方法，其特征在于，应用于电子元器件采购管理系统，所述电子元器件采购管理系统包括电子元器件采购管理平台、电子元器件生产单元、电子元器件检测单元；
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述基础检验项目和所述额外检验项目进行合并，得到目标检验项目，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述基础检验项目和所述额外检验项目进行合并，得到目标检验项目，还包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述重复检验项目包括外观复查、老炼。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述重复检验项目包括温度循环和高温贮存、质量一致性检验的第一部分实验和补充筛选。
6.根据权利要求2或3中任一所述的方法，其特征...
【专利技术属性】
技术研发人员：武荣荣，梅亮，曹阳，庞明奇，刘净月，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。