一种积分球测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种积分球测试装置，该积分球测试装置包括：测试装置本体、调节机构、固定机构；测试装置本体上设有固定组件，固定组件包括固定框架以及固定支架，固定支架包括两限位梁以及固定限位块，限位梁的一端设有夹持部，固定限位块连接积分球，并通过两相对的夹持部的夹持固定积分球；固定机构包括锁止件，锁止件用于固定待测治具；调节机构包括移动组件以及调节组件，通过移动组件驱动调节组件至预设位置，并通过调节组件调节固定机构至待测试位置，以使待测治具运动至待测试位置对待测治具上的LED芯片进行测试，本实用新型专利技术能够解决现有技术中积分球不便于更换，无法对不同尺寸的LED芯片进行测试的技术问题。同尺寸的LED芯片进行测试的技术问题。同尺寸的LED芯片进行测试的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种积分球测试装置


[0001]本技术涉及光学测试
，具体涉及一种积分球测试装置。

技术介绍

[0002]发光二级管(light
‑
emitting diode，LED)，是一种常用的发光器件，通过电子与空穴复合释放能量发光，发光二极管可高效地将电能转化为光能，在现代社会具有广泛的用途，如照明、平板显示、医疗器件等。通常为了检测LED产品的质量问题，都需要在LED生产后需要进行光衰和寿命检测。
[0003]目前比较常见的LED光衰和寿命的检测一般将LED芯片置于治具上，采用积分球测试装置对治具上的LED芯片进行测试，但是目前的积分球测试装置的积分球不便于更换，无法对不同尺寸的LED芯片进行测试，兼容范围较小。
[0004]因此，现有的积分球测试装置普遍存在积分球不便于更换，无法对不同尺寸的LED芯片进行测试的技术问题。

技术实现思路

[0005]针对现有技术的不足，本技术的目的在于提供一种积分球测试装置，旨在解决现有技术中积分球不便于更换，无法对不同尺寸的LED芯片进行测试的技术问题。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种积分球测试装置，其特征在于，所述积分球测试装置包括：测试装置本体、设于所述测试装置本体上的调节机构，以及设于所述调节机构上的固定机构；所述测试装置本体上设有固定组件，所述固定组件包括固定框架以及与所述固定框架活动连接的固定支架，所述固定支架包括两可相对运动的限位梁以及与所述限位梁设置方向垂直的固定限位块，其中，所述限位梁的一端设有弧形的夹持部，另一端活动连接于所述固定框架上，所述固定限位块的一端活动连接于所述固定框架上，所述固定限位块远离所述固定框架的一端连接至用于测试待测治具上的LED芯片的积分球，并通过两相对的夹持部的夹持固定积分球；其中，所述固定机构用于固定待测治具，所述固定机构包括锁止件，所述锁止件用于固定待测治具；所述调节机构用于调节待测治具至一预设的待测试位置对待测治具上的LED芯片进行测试，所述调节机构包括移动组件以及设于移动组件之上的调节组件，所述锁止件设于所述调节组件上，通过所述移动组件驱动所述调节组件进行往复移动，带动所述调节组件至预设位置，并通过所述调节组件调节固定机构至待测试位置，以使所述待测治具运动至所述待测试位置对待测治具上的LED芯片进行测试。2.根据权利要求1所述的积分球测试装置，其特征在于，所述限位梁上设有若干间隔设置的限位孔，所述限位梁靠近所述固定框架的一侧设有若干连接件，所述连接件呈L型，其两侧分别设有第一连接孔以及第二连接孔，所述连接件通过紧固件穿过所述第一连接孔固定于所述固定框架的两侧，所述限位梁设于所述固定框架之上，紧固件分别穿过所述限位孔以及所述第二连接孔，以将所述限位梁固定于所述固定框架上，并通过调节所述紧固件穿入任意位置的所述限位孔，以适应不同尺寸的积分球。3.根据权利要求2所述的积分球测试装置，其特征在于，所述固定限位块上设有若干均匀间隔设置的固定孔，所述固定限位块靠近所述固定框架的一侧设有所述连接件，所述连接件通过紧固件穿过所述第一连接孔固定于所述固定框架的一侧，所述固定限位块设于所述固定框架之上，紧固件分别穿过所述固定孔以及所述第二连接孔，以将所述固定限位块...

【专利技术属性】
技术研发人员：骆乾峰，赵龙，金从龙，刘思，王春风，陈龙，
申请(专利权)人：江西兆驰半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：