一种批量验证LED性能的设备制造技术

技术编号:35587987 阅读:14 留言:0更新日期:2022-11-16 15:03
本实用新型专利技术涉及LED验证技术领域,特别涉及一种批量验证LED性能的设备,包括自上而下平行设置的透光面板、光盒与电路板;所述光盒的厚度至多等于所述透光面板的厚度;所述电路板上形成有多种LED封装,且任一所述LED封装包括有多个安装位;所有所述安装位成行成列设置。本实用新型专利技术的提出现有变更LED时,需要在使用到的项目上进行一对一验证,涉及到的客户众多、项目众多的情况下,若每个项目都单独设计实验验证新旧LED的性能差异,会导致成本居高不下,以及测试人员数量较多,以及测试时间较长的问题。长的问题。长的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种批量验证LED性能的设备


[0001]本技术涉及LED验证
,特别涉及一种批量验证LED性能的设备。

技术介绍

[0002]LED被称为第四代照明光源或绿色光源,具有节能、环保、寿命长、体积小等特点,广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。根据使用功能的不同,可以将其划分为信息显示、信号灯、车用灯具、液晶屏背光源、通用照明五大类。
[0003]目前在LED厂商向我们发出LED变更时,无论是产地变更、设备变更或者是LED其他参数的变化,我们通常都会结合变更LED所使用到的项目进行一对一验证,涉及到的客户众多、项目众多的情况下,若每个项目都单独设计实验验证新旧LED的性能差异,会导致成本居高不下,以及测试人员数量较多,以及测试时间较长的问题。
[0004]因此,一种批量验证LED性能的设备应运而生。

技术实现思路

[0005]本技术的
技术实现思路
在于提出一种批量验证LED性能的设备,主要解决了现有变更LED时,需要在使用到的项目上进行一对一验证,涉及到的客户众多、项目众多的情况下,若每个项目都单独设计实验验证新旧LED的性能差异,会导致成本居高不下,以及测试人员数量较多,以及测试时间较长的问题。
[0006]本技术提出了一种批量验证LED性能的设备,包括自上而下平行设置的透光面板、光盒与电路板;所述光盒的厚度至多等于所述透光面板的厚度;所述电路板上形成有多种LED封装,且任一所述LED封装包括有多个安装位;所有所述安装位成行成列设置。
[0007]优选地,任一所述LED封装下的多个安装位成列设置,且不同的所述LED封装的所述安装位互为并列设置。
[0008]优选地,任一所述LED封装包括至少两列所述安装位,且不同列的所述安装位分别用于安装新旧LED。
[0009]优选地,任一所述LED封装的两个所述安装位相邻设置。
[0010]优选地,所述透光面板上形成有多个透光孔,且任一所述透光孔对应任一所述安装位。
[0011]优选地,所述光盒上形成多个光路通道,且任一所述光路通道的两端全覆盖任一所述安装位以及任一所述透光孔。
[0012]优选地,所述光路通道的侧壁由不透光材料构成。
[0013]优选地,所述光盒与电路板间通过外部紧固件固定,且所述光盒与电路板上的紧固孔紧靠各自边沿设置。
[0014]优选地,所述透光面板上形成有透光层,且所述透光层上对应每一透光孔设置有透光字符。
[0015]优选地,所述透光孔为圆形,且每一所述透光字符为圆圈字符。
[0016]由上可知,应用本技术提供的技术方案可以得到以下有益效果:
[0017]本技术提出的技术方案,在一个设备上实现了LED变更时对新旧LED进行有效对比,节省了高昂的费用,提高了验证效率。最终将提升自身在客户心中的品牌效益。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本技术实施例1与实施例2中电路板的结构示意图;
[0020]图2为本技术实施例2中设备的爆炸图。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然,所描述的实施例仅仅是本技术部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0022]现有变更LED时,需要在使用到的项目上进行一对一验证,涉及到的客户众多、项目众多的情况下,若每个项目都单独设计实验验证新旧LED的性能差异,会导致成本居高不下,以及测试人员数量较多,以及测试时间较长的问题。
[0023]实施例1
[0024]如图1所示,为了解决上述问题,本实施例提出了一种电路板10,该电路板10上形成有多种LED封装,且任一LED封装包括有多个安装位11;所有安装位11成行成列设置。
[0025]优选但不限定的是,本实施例中多种LED封装包括TOP、Side、mini TOP、chip。
[0026]在本实施例中,相邻的LED封装间的距离不限,保证LED在各自安装位11可固定即可。
[0027]更具体地,任一LED封装下的多个安装位11成列设置,且不同的LED封装的安装位11互为并列设置。
[0028]优选但不限定的是,每一LED封装对应的安装位11的数量相等。
[0029]更具体地,任一LED封装包括至少两列安装位11,且不同列的安装位11分别用于安装新旧LED。
[0030]优选地,任一LED封装的两个安装位11相邻设置。
[0031]实施例2
[0032]如图1与图2所示,为了解决前述问题,本实施例提出了一种批量验证LED性能的设备,其主要包括自上而下平行设置的透光面板20、光盒30与电路板10;光盒30的厚度至多等于透光面板20的厚度。本实施例中的电路板10为实施例1中的电路板10。
[0033]优选但不限定的是,本实施例中透光面板20形成有直角折边,且该直角折边形成有自身的高度,该高度作为透光面板20的厚度;光盒30与电路板10均可内置与透光面板20内。
[0034]更具体地,透光面板20上形成有多个透光孔21,且任一透光孔21对应任一安装位11。
[0035]优选但不限定的是,本实施例中透光孔21与安装位11属于正对关系,也即透光孔21应全覆盖安装位11,以便安装位11上的LED发出的光线可透过透光孔21。
[0036]更具体地,光盒30上形成有多个光路通道31,且任一光路通道31的两端全覆盖任一安装位11以及任一透光孔21。
[0037]优选地,光路通道31的侧壁由不透光材料构成。
[0038]优选但不限定的是,本实施例中光盒30上的多个光路通道31的尺寸相等,且密集分布于光盒30上;甚至光盒30由多个光路通道31相邻分布构成,也即光盒30为格栅网结构。
[0039]优选地,光盒30与电路板10间通过外部紧固件固定,且光盒30与电路板10上的紧固孔40紧靠各自边沿设置。
[0040]优选但不限定的是,本实施例中光盒30与电路板10上的紧固孔40至设置于对称侧,且在任一边沿上均匀分布有多个紧固孔40。
[0041]更具体地,透光面板20上形成有透光层,且透光层上对应每一透光孔21设置有透光字符。
[0042]优选地,透光孔21为圆形,且每一透光字符为圆圈字符。
[0043]在本实施例中,通过测试变更前后LED所对应的圆圈字符的灯光特性,即可本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种批量验证LED性能的设备,其特征在于:包括自上而下平行设置的透光面板、光盒与电路板;所述光盒的厚度至多等于所述透光面板的厚度;所述电路板上形成有多种LED封装,且任一所述LED封装包括有多个安装位;所有所述安装位成行成列设置。2.根据权利要求1所述的一种批量验证LED性能的设备,其特征在于:任一所述LED封装下的多个安装位成列设置,且不同的所述LED封装的所述安装位互为并列设置。3.根据权利要求2所述的一种批量验证LED性能的设备,其特征在于:任一所述LED封装包括至少两列所述安装位,且不同列的所述安装位分别用于安装新旧LED。4.根据权利要求3所述的一种批量验证LED性能的设备,其特征在于:任一所述LED封装的两个所述安装位相邻设置。5.根据权利要求1~4任一项所述的一种批量验证LED性能的设备,其特征在于:所述透光...

【专利技术属性】
技术研发人员:翟文涛李益潮郭泽彬吴岳阳邱传濠李少璇
申请(专利权)人:惠州市德赛西威汽车电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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