【技术实现步骤摘要】
物料传送盒的清洁成果检测方法及其装置
[0001]本专利技术涉及在不同加工区站之间装填及移载物料用的传送盒,还涉及该传送盒在完成湿清洁的后包含湿度及落尘量在内的清洁成果检测技术,尤其是一种物料传送盒的清洁成果检测方法及其装置。
技术介绍
[0002]现有技术中,最接近本专利技术的物料传送盒的,是一种用于载运半导体晶元的前开式晶元传送盒(Front Opening Unified Pod,FOUP,以下简称晶元传送盒)。
[0003]半导体晶元在产制过程中,特别是在各个加工区站内,以及在各个加工区站之间载运晶元的过程中,对于洁净度的要求甚高,特别是避免环境中出现落尘微粒,而影响晶元的产制合格率。
[0004]且知,半导体晶元的载运,常见使用上述晶元传送盒,通过自动化搬运系统的运作,使多个晶元传送盒能分别在各个加工区站中撷取、容置晶元,并且能在各个加工区站之间移送晶元,而后在到达目标地的加工区站时卸载晶元。
[0005]晶元传送盒是由一可开启式的前盖和一盒体相互组扣而成,该盒体内部的双侧壁面上具有凸伸成梳状的肋片,用于支撑容置于内的晶元,使得每一晶元传送盒内都可容置多数片晶元。
[0006]基于洁净度的高标准要求,晶元传送盒在使用一段特定时间的后必须要进行自动化清洁。目前,已知的对晶元传送盒进行自动化清洁的较先进技术,可见于CN102804332B、TW201400202A(中国台湾专利)、CN1082222A、US20140069467A1等专利,所述的这些专利公开教示于晶元的生产线中设 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种物料传送盒的清洁成果检测方法,实施于一清洁加工区站中,其特征在于,该清洁加工区站能依序执行包括下列清洁物料传送盒的步骤(1)至步骤(4):步骤(1),分离清洁前的物料传送盒成为一前盖及一盒体;步骤(2),湿清洗该前盖及该盒体;步骤(3),干燥该前盖及该盒体,其中至少该盒体在真空环境下进行干燥,所述真空环境由该清洁加工区站中的至少一干燥腔室内生成负压而形成;及步骤(4),结合该前盖及该盒体,成为清洁后的物料传送盒;其中,所述清洁成果的检测方法,包括执行下列工序(3
‑
1)至工序(3
‑
4):工序(3
‑
1),选定能生成真空的该干燥腔室作为检测场所,并以该干燥腔室内完成干燥的该前盖、该盒体的至少其中之一作为检测物件;工序(3
‑
2),导入洁净的干燥空气进入该干燥腔室内解除真空,并于该干燥腔室内生成一正压干燥空气接触该检测物件四周的内表面及外表面,令正压干燥空气吸收干燥后残留于该检测物件四周的内表面及外表面的至少一清洁成果判断因子;工序(3
‑
3),撷取该干燥腔室内的正压干燥空气;及工序(3
‑
4),使用至少一检测元件检知该正压干燥空气中的所述清洁成果判断因子的含量。2.如权利要求1所述物料传送盒的清洁成果检测方法,其特征在于:所述检测元件为一湿度传感器,所述清洁成果判断因子为该正压干燥空气所吸收的水分子。3.如权利要求1所述物料传送盒的清洁成果检测方法,其特征在于:所述检测元件为一微粒子计数器,所述清洁成果判断因子为该正压干燥空气所吸收的落尘微粒。4.如权利要求1、2或3所述物料传送盒的清洁成果检测方法,其特征在于:该检测物件为该盒体,该盒体的底部凸伸有至少一悬状支撑杆,该检测物件四周的内表面包含该悬状支撑杆的四周表面。5.一种物料传送盒的清洁成果检测装置,设置于物料传送盒的一清洁加工区站中,该物料传送盒能在该清洁加工区站中分离成一前盖及一盒体,该前盖、该盒体并能各自或一起接受该加工区站中多个腔室的清洁加工,而后结合成清洁后的物料传送盒,其特征在于,该清洁加工区站配置包括:至少一清洗腔室,设有多个能喷撒清洗液的喷液嘴,对该前盖、该盒体进行湿清洗;至少一干燥腔室,设有一负压通道及多个热能元件,该负压通道连通于至少一所述干燥腔室和一抽气泵之间,用以撷取至少一所述干燥腔室内的空气而生成真空环境,多个所述热能元件能对该前盖、该盒体进行干燥;其中,该检测装置系以该前盖、该盒体的至少其中之一作为检测物件,该检测装置安装于至少一所述干燥腔室,包括:一进气孔,设于至少一所述干燥腔室的一侧并且连接一供气机,该进气孔能导引洁净的干燥空气进入至少一所述干燥腔室内解除真空,并生成能接触该检测物件四周的内表面及外表面的正压干燥空气,用以吸收干燥后残留于该检测物件上的至少一清洁成果判断因子;一正压通道,由一多通管连接至少一所述干燥腔室而建构形成,用以排放至少一所述干燥腔室内的正压干燥空气;及
至少一检测元件,安装于该多通管上,用以检知正压干燥空气...
【专利技术属性】
技术研发人员:叶步章,林经渊,
申请(专利权)人:科峤工业股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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