一种QSFP光模块EMI恒温测试系统及测试方法技术方案

技术编号:35584026 阅读:16 留言:0更新日期:2022-11-12 16:17
本发明专利技术公开了一种QSFP光模块EMI恒温测试系统及测试方法,QSFP光模块EMI恒温测试系统包括QSFP光模块和电路测试板,还包括屏蔽盒和水冷散热单元;所述电路测试板安装在所述屏蔽盒的内部,所述水冷散热单元包括水冷散热板和水冷散热管,所述温度传感器连接至所述水泵。本发明专利技术中,利用QSFP光模块、电路测试板和屏蔽盒模拟光模块在交换机中工作的状况,增设水冷散热单元实现EMI测试过程中屏蔽盒内实时温度的自动调控,结构简单、易于实现,不仅可实现自动快速的温度调节,无需人工调整,更加便捷高效,还可实现对屏蔽盒内测试环境的散热保护,避免影响EMI测试的精确性,维持光模块的正常运行。运行。运行。

【技术实现步骤摘要】
一种QSFP光模块EMI恒温测试系统及测试方法


[0001]本专利技术涉及光模块EMI
,具体地说涉及一种QSFP光模块EMI恒温测试系统及测试方法。

技术介绍

[0002]随着科学技术和电子工业的高速发展,各种数字化、高频化的电子电器设备在工作时向空间辐射了大量不同波长的频率的电磁波,从而导致了新的环境污染:电磁波干扰(EMI)。电子设备工作时,既不希望被外界电磁波干扰,又不希望自身辐射出电磁波干扰外界设备或对人体产生辐射危害,这就需要了解并掌握电磁波干扰因素。
[0003]随着光通信领域的高速发展,光模块的通信速率越来越快,功耗越来越大,市场对光模块的EMI性能要求也越来越严格。在现有的光模块EMI测试技术中,往往欠缺对温度这一因素的考虑,然而,在无散热环境下,光模块历经长时间工作会导致自身温度升高,温度的升高会引发电流的改变,辐射出的电磁波也会随之发生改变,进而影响EMI测试的精确性,而且过高的温度还会影响光模块自身的正常工作。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种具备散热功能、保持测试稳定进行的QSFP光模块EMI恒温测试系统及测试方法。
[0005]为了解决上述技术问题,本专利技术采用如下技术方案:一种QSFP光模块EMI恒温测试系统,包括QSFP光模块和电路测试板,还包括屏蔽盒和水冷散热单元;
[0006]所述电路测试板安装在所述屏蔽盒的内部,所述QSFP光模块插接在所述电路测试板上,所述电路测试板上安装有温度传感器;
[0007]所述水冷散热单元包括水冷散热板和水冷散热管,所述水冷散热板覆盖在所述屏蔽盒的顶部,所述水冷散热管内填注有冷却液,所述水冷散热管连通至用于控制冷却液流速的水泵,所述温度传感器连接至所述水泵。
[0008]进一步地,所述屏蔽盒由电磁波屏蔽材质制成,所述屏蔽盒上开设有插接口,所述电路测试板上焊接有QSFP接口,所述插接口与所述QSFP接口保持同等高度,所述QSFP光模块穿过所述插接口并插接至所述QSFP接口内。
[0009]进一步地,所述水冷散热板与所述屏蔽盒顶部的盒口吻合装配,所述水冷散热板的侧部设置有进水接口和出水接口,所述水冷散热管盘绕并镶嵌在所述水冷散热板内部开设的夹层中,且所述水冷散热管的进水口端、出水口端分别穿过所述进水接口、出水接口。
[0010]进一步地,所述水冷散热板的顶面安装有显示屏,所述温度传感器连接至所述显示屏,且两者之间还连接有A/D转换器。
[0011]进一步地,所述水冷散热单元还包括所述水泵,所述水泵包括用于调节冷却液流速的流速调节器,所述流速调节器与所述温度传感器无线连接。
[0012]进一步地,还包括供电电源,所述供电电源经由DC/DC转换器连接至所述电路测试
板。
[0013]一种QSFP光模块EMI恒温测试系统的测试方法,包括以下步骤:
[0014]S1:向所述电路测试板上焊接的单片机输入预设的温度阈值;
[0015]S2:将所述QSFP光模块插入至所述QSFP接口内,并启动所述QSFP光模块;
[0016]S3:所述温度传感器实时监测所述屏蔽盒内的温度,并将测得的模拟量经由所述A/D转换器转换成数字量后,呈现在所述显示屏上;
[0017]S4:当所述温度传感器测得当前所述屏蔽盒内的温度高于预设温度阈值时,所述温度传感器向所述流速调节器传递电信号,所述流速调节器调快冷却液的流速,直至所述屏蔽盒内的实时温度满足温度阈值;
[0018]S5:当所述温度传感器测得当前所述屏蔽盒内的温度低于预设温度阈值时,所述温度传感器向所述流速调节器传递电信号,所述流速调节器调慢冷却液的流速,直至所述屏蔽盒内的实时温度满足温度阈值。
[0019]本专利技术的有益效果体现在:
[0020]本专利技术中,利用QSFP光模块、电路测试板和屏蔽盒模拟光模块在交换机中工作的状况,增设水冷散热单元实现EMI测试过程中屏蔽盒内实时温度的自动调控,结构简单、易于实现,不仅可实现自动快速的温度调节,无需人工调整,更加便捷高效,还可实现对屏蔽盒内测试环境的散热保护,避免影响EMI测试的精确性,维持光模块的正常运行。
附图说明
[0021]图1是本专利技术一实施例的局部结构爆炸图。
[0022]图2是本专利技术一实施例的水冷散热单元轴侧图。
[0023]图3是本专利技术一实施例的水冷散热板内部结构透视图。
[0024]图4是本专利技术一实施例的结构框图。
[0025]附图中各部件的标记为:1、屏蔽盒;101、插接口;2、QSFP光模块;3、电路测试板;301、QSFP接口;4、温度传感器;5、水冷散热单元;6、水冷散热板;601、进水接口;605、出水接口;7、水冷散热管;8、水泵;9、显示屏;10、A/D转换器;11、供电电源;12、DC/DC转换器。
具体实施方式
[0026]下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。需要说明,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本专利技术要求的保护范围之内。另外,本专利技术中涉及到的各项电气元件及设备均为现有技术中可通过购买途径获得的。
[0027]参见图1

图4。
[0028]本专利技术提供了一种QSFP光模块EMI恒温测试系统,包括QSFP光模块2和电路测试板3,还包括屏蔽盒1和水冷散热单元5;
[0029]所述电路测试板3安装在所述屏蔽盒1的内部,所述QSFP光模块2插接在所述电路测试板3上,所述电路测试板3上安装有温度传感器4;
[0030]所述水冷散热单元5包括水冷散热板6和水冷散热管7,所述水冷散热板6覆盖在所述屏蔽盒1的顶部,所述水冷散热管7内填注有冷却液,所述水冷散热管7连通至用于控制冷却液流速的水泵8,所述温度传感器4连接至所述水泵8。
[0031]本专利技术中,利用QSFP光模块、电路测试板和屏蔽盒模拟光模块在交换机中工作的状况,增设水冷散热单元实现EMI测试过程中屏蔽盒内实时温度的自动调控,结构简单、易于实现,不仅可实现自动快速的温度调节,无需人工调整,更加便捷高效,还可实现对屏蔽盒内测试环境的散热保护,避免影响EMI测试的精确性,维持光模块的正常运行。
[0032]在一实施例中,所述屏蔽盒1由电磁波屏蔽材质制成,所述屏蔽盒1上开设有插接口101,所述电路测试板3上焊接有QSFP接口301,所述插接口101与所述QSFP接口301保持同等高度,所述QSFP光模块2穿过所述插接口101并插接至所述QSFP接口301内。这样设计,所述屏蔽盒1可屏蔽光模块泄漏的电磁波,所述QSFP光模块2插接在所述屏蔽盒1,模拟光模块在交换机中正常工作的状况,使用简单的结构组成有助于本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种QSFP光模块EMI恒温测试系统,包括QSFP光模块(2)和电路测试板(3),其特征在于:还包括屏蔽盒(1)和水冷散热单元(5);所述电路测试板(3)安装在所述屏蔽盒(1)的内部,所述QSFP光模块(2)插接在所述电路测试板(3)上,所述电路测试板(3)上安装有温度传感器(4);所述水冷散热单元(5)包括水冷散热板(6)和水冷散热管(7),所述水冷散热板(6)覆盖在所述屏蔽盒(1)的顶部,所述水冷散热管(7)内填注有冷却液,所述水冷散热管(7)连通至用于控制冷却液流速的水泵(8),所述温度传感器(4)连接至所述水泵(8)。2.如权利要求1所述的QSFP光模块EMI恒温测试系统,其特征在于:所述屏蔽盒(1)由电磁波屏蔽材质制成,所述屏蔽盒(1)上开设有插接口(101),所述电路测试板(3)上焊接有QSFP接口(301),所述插接口(101)与所述QSFP接口(301)保持同等高度,所述QSFP光模块(2)穿过所述插接口(101)并插接至所述QSFP接口(301)内。3.如权利要求1所述的QSFP光模块EMI恒温测试系统,其特征在于:所述水冷散热板(6)与所述屏蔽盒(1)顶部的盒口吻合装配,所述水冷散热板(6)的侧部设置有进水接口(601)和出水接口(602),所述水冷散热管(7)盘绕并镶嵌在所述水冷散热板(6)内部开设的夹层中,且所述水冷散热管(7)的进水口端、出水口端分别穿过所述进水接口(601)、出水接口(602)。4.如权利要求1所述的QSFP光模块EMI恒温测试系统,其特征在于:所述水冷散热板(6)的顶面安装...

【专利技术属性】
技术研发人员:余忆李林科吴天书杨现文张健
申请(专利权)人:武汉联特科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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