本发明专利技术公开了一种X射线源测试装置，涉及到X射线源测试装置技术领域，包括水平放置的底座，所述底座的顶部左端固定安装有定位板，所述底座的顶部右端固定安装有用于遮挡自然光和屏蔽X射线辐射的铅室；固定在铅室内底壁的X射线源，且X射线源与铅室偏心设置；位于X射线源上方的准直铅板，所述准直铅板的中心开始有上下贯通的准直通孔，所述准直铅板的底部开始有内环形槽和外环形槽；本发明专利技术利用螺旋叶片的旋转通过凸起带动方形铅板沿导向通孔移动，使方形铅板向导向通孔移动或远离，从而对导向通孔的大小进行调整，从而对扇形X射线束的大小进行调整，从而实现对扇形X射线束的局部进行测试。行测试。行测试。
【技术实现步骤摘要】
一种X射线源测试装置
[0001]本专利技术涉及X射线源测试装置
，特别涉及一种X射线源测试装置。
技术介绍
[0002]目前，X射线源已广泛应用于安全检查、医疗健康、无损检测等领域。X射线源不太方向的均匀性和时间响应特性，对实际使用效果有明显影响。目前的X射线源不同方向的均匀性和时间响应特性测试还比较困难。
[0003]因此，专利技术一种X射线源测试装置来解决上述问题很有必要。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种X射线源测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的X射线源不同方向的均匀性和时间响应特性测试还比较困难的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种X射线源测试装置，包括水平放置的底座，所述底座的顶部左端固定安装有定位板，所述底座的顶部右端固定安装有用于遮挡自然光和屏蔽X射线辐射的铅室；固定在铅室内底壁的X射线源，且X射线源与铅室偏心设置；位于X射线源上方的准直铅板，所述准直铅板的中心开始有上下贯通的准直通孔，所述准直铅板的底部开始有内环形槽和外环形槽，且内环形槽的深度大于外环形槽的深度；位于准直铅板上方的线阵列探测器，所述线阵列探测器通过高度调节装置与X射线源连接。
[0006]用于调整准直通孔大小的遮挡件，所述准直铅板的内部开设有可对遮挡件导向的导向通孔，所述导向通孔与内环形槽和准直通孔连通；所述内环形槽和外环形槽的内部分别转动安装有用于驱动遮挡件和高度调节装置的第一导动件和第二导动件；驱动第一导动件和第二导动件转动的驱动件，所述驱动件延伸到铅室的外侧并与定位板连接。
[0007]可选的，所述第一导动件包括转动安装在内环形槽内部的第一端面齿轮，所述第一端面齿轮的顶部固定安装有螺旋叶片；所述第二导动件转动包括转动安装在外环形槽内部的第二端面齿轮，所述第二端面齿轮的顶部固定安装有驱动板，所述驱动板的顶部开始有与高度调节装置啮合的螺旋槽；所述螺旋叶片的高度大于驱动板的高度。
[0008]可选的，所述第一端面齿轮与内环形槽的内壁接触面形成有第一摩擦面，所述第二端面齿轮与外环形槽的内壁接触面形成有第二摩擦面，形成第一端面齿轮旋转时，第一摩擦面的摩擦力小于第二摩擦面的摩擦力与准直铅板旋转受到阻力之和，使第一端面齿轮
相对于准直铅板旋转驱动遮挡件移动的结构；形成第二端面齿轮旋转时，第二摩擦面的摩擦力小于第一摩擦面的摩擦力与准直铅板旋转受到阻力之和，使第二端面齿轮相对于准直铅板旋转驱动遮挡件移动的结构高度调节装置调整X射线源高度的结构，形成第一端面齿轮和第二端面齿轮同时被驱动时，第二摩擦面与第一摩擦面的摩擦力之和就会大于准直铅板旋转受到阻力，使准直铅板旋转，调整测试不同位置X射线。
[0009]可选的，所述遮挡件包括可滑动的插接在导向通孔内部的方形铅板，所述方形铅板的固定安装有多个与螺旋叶片相适配的凸起，且螺旋叶片内部始终保持最少有一个凸起，形成螺旋叶片在旋转时驱动凸起带动方形铅板在导向通孔的内部移动，对准直通孔的长度进行调节。
[0010]可选的，所述高度调节装置包括开设在准直铅板上的凹槽，所述凹槽与外环形槽连通且内部转动安装有第一齿轮和第一摆动杆，所述第一齿轮和第一摆动杆同步旋转，且第一齿轮与驱动板的顶部的螺旋槽啮合，所述第一摆动杆的顶部与线阵列探测器之间铰接有第二摆动杆，形成驱动板在旋转时就会在螺旋槽的驱动下带动第一齿轮旋转，时第一齿轮带动第一摆动杆和第二摆动杆调节夹角大小，从而带动线阵列探测器进行升降。
[0011]可选的，所述驱动件包括水平设置的驱动轴筒，所述驱动轴筒延伸到铅室的内部并固定安装有与第二端面齿轮啮合的第二齿轮，所述驱动轴筒的内部转动安装有驱动主轴，所述驱动主轴的两端均延伸到驱动轴筒的外侧，且驱动主轴的右端固定安装有与第一端面齿轮啮合的第三齿轮，驱动主轴左端与定位板连接。
[0012]可选的，所述驱动轴筒和驱动主轴的外侧左部分别套接有第一摩擦轮和第二摩擦轮，所述第一摩擦轮和第二摩擦轮的外侧套接有转动套，所述转动套的内表面中部设置为摩擦部位两端设置为光滑部位，形成摩擦部位与第一摩擦轮接触使可以带动驱动轴筒旋转，摩擦部位与第二摩擦轮接触使带动驱动主轴旋转，当摩擦部位与第一摩擦轮和第二摩擦轮同时接触时可以带动驱动轴筒和驱动主轴同步旋转。
[0013]可选的，所述驱动轴筒的外侧两端均套接有摩擦支板，位于左端所述摩擦支板固定在底座的顶部，位于右端所述摩擦支板固定在铅室的内底壁，所述摩擦支板被适配为对驱动轴筒支撑并加大驱动轴筒摩擦的结构。
[0014]可选的，所述准直铅板的外侧固定安装有架环，所述架环的上下两侧均接触有摩擦限位环，所述摩擦限位环固定在铅室的内部并对准直铅板的旋转造成阻碍。
[0015]可选的，所述线阵列探测器的上表面两端均固定安装有导向杆，所述导向杆的外侧套接有导向套，所述导向套的顶部固定安装有转动盘，所述转动盘的外侧可转动的插接在铅室的内定壁。
[0016]本专利技术的技术效果和优点：1、本专利技术利用螺旋叶片的旋转通过凸起带动方形铅板沿导向通孔移动，使方形铅板向导向通孔移动或远离，从而对导向通孔的大小进行调整，从而对扇形X射线束的大小进行调整，从而实现对扇形X射线束的局部进行测试；利用第一齿轮与驱动板顶部螺旋槽的配合带动第一摆动杆和第二摆动杆进行调整夹角，通过第一摆动杆和第二摆动杆的摆动调整线阵列探测器的高度，使阵列探测器与准直通孔和X射线源的距离发生变化，从而实现对不同高度扇形X射线束的进行测试；利用第一端面齿轮和第二端面齿轮的同步旋转从而对准直通孔的角度和线阵列探测器同步旋转，从而对不同位置的扇形X射线束进行测试。
[0017]2、本专利技术利用摩擦限位环和架环之间的摩擦打破第一摩擦面与第二摩擦面的平衡，当第一端面齿轮与第二端面齿轮单独被驱动时，第一摩擦面的摩擦力小于第二摩擦面与摩擦限位环和架环之间的摩擦总和或第二摩擦面的摩擦力小于第一摩擦面与摩擦限位环和架环之间的摩擦总，从而实现对方形铅板或线阵列探测器的单独驱动，避免第一端面齿轮和第二端面齿轮在驱动时相互影响；而第一端面齿轮与第二端面齿轮在被同时驱动时，第一摩擦面和第二摩擦面的摩擦力之和就会大于摩擦限位环和架环之间的摩擦，使第一端面齿轮与第二端面齿轮带动准直铅板和线阵列探测器旋转，对扇形X射线束的测试位置进行调整。
[0018]3、本专利技术利用转动套摩擦部位的不同位置从而与第一摩擦轮和第二摩擦轮进行接触，从而使转动套在旋转时单独驱动驱动轴筒或驱动主轴旋转，从而驱动第一端面齿轮或第二端面齿轮旋转；同时转动套移动到第一摩擦轮和第二摩擦轮之间距离的中心出时摩擦部位就会与第一摩擦轮和第二摩擦轮同时接触，从而驱动驱动轴筒或驱动主轴同步旋转，使第一端面齿轮或第二端面齿轮能够同时旋转。
[0019]4、本专利技术利用摩擦支板与驱动轴筒的摩擦力能够避免驱动主轴在旋转时带动驱动轴筒同步旋转；利用驱动主轴与定位板之间的摩擦力能够避免驱动轴筒在旋转时带动驱动主轴旋转。
附图说明
[0020]图1为本专利技术结构主视本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种X射线源测试装置，其特征在于，包括：水平放置的底座（1），所述底座（1）的顶部左端固定安装有定位板（2），所述底座（1）的顶部右端固定安装有用于遮挡自然光和屏蔽X射线辐射的铅室（3）；固定在铅室（3）内底壁的X射线源（4），且X射线源（4）与铅室（3）偏心设置；位于X射线源（4）上方的准直铅板（5），所述准直铅板（5）的中心开始有上下贯通的准直通孔（6），所述准直铅板（5）的底部开始有内环形槽（8）和外环形槽（7），且内环形槽（8）的深度大于外环形槽（7）的深度；位于准直铅板（5）上方的线阵列探测器（9），所述线阵列探测器（9）通过高度调节装置与X射线源（4）连接；用于调整准直通孔（6）大小的遮挡件，所述准直铅板（5）的内部开设有可对遮挡件导向的导向通孔（10），所述导向通孔（10）与内环形槽（8）和准直通孔（6）连通；所述内环形槽（8）和外环形槽（7）的内部分别转动安装有用于驱动遮挡件和高度调节装置的第一导动件和第二导动件；驱动第一导动件和第二导动件转动的驱动件，所述驱动件延伸到铅室（3）的外侧并与定位板（2）连接。2.根据权利要求1所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：所述第一导动件包括转动安装在内环形槽（8）内部的第一端面齿轮（11），所述第一端面齿轮（11）的顶部固定安装有螺旋叶片（12）；所述第二导动件转动包括转动安装在外环形槽（7）内部的第二端面齿轮（13），所述第二端面齿轮（13）的顶部固定安装有驱动板（14），所述驱动板（14）的顶部开始有与高度调节装置啮合的螺旋槽；所述螺旋叶片（12）的高度大于驱动板（14）的高度。3.根据权利要求2所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：所述第一端面齿轮（11）与内环形槽（8）的内壁接触面形成有第一摩擦面（15），所述第二端面齿轮（13）与外环形槽（7）的内壁接触面形成有第二摩擦面（16），形成第一端面齿轮（11）旋转时，第一摩擦面（15）的摩擦力小于第二摩擦面（16）的摩擦力与准直铅板（5）旋转受到阻力之和，使第一端面齿轮（11）相对于准直铅板（5）旋转驱动遮挡件移动的结构；形成第二端面齿轮（13）旋转时，第二摩擦面（16）的摩擦力小于第一摩擦面（15）的摩擦力与准直铅板（5）旋转受到阻力之和，使第二端面齿轮（13）相对于准直铅板（5）旋转驱动遮挡件移动的结构高度调节装置调整X射线源（4）高度的结构，形成第一端面齿轮（11）和第二端面齿轮（13）同时被驱动时，第二摩擦面（16）与第一摩擦面（15）的摩擦力之和就会大于准直铅板（5）旋转受到阻力，使准直铅板（5）旋转，调整测试不同位置X射线。4.根据权利要求1所述的一种X射线源测试装置，其特征在于：所述遮挡件包括可滑动的插接在导向通孔（10）内部的方形铅板（17），所述方形铅板（17）的固定安装有多个与螺旋叶片（12）相适配的凸起（18），且螺旋叶片（12）内部始终保持最少有一个凸起（18），形成螺旋叶片（12）在旋转时...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾国华，曹东豫，曹富建，谭俊，刘玮琦，
申请(专利权)人：郑州康佰甲科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。