【技术实现步骤摘要】
微波频率测量方法、装置、计算机设备及存储介质
[0001]本公开涉及光子学领域,尤其涉及集成光子芯片和微波光子领域,具体涉及一种微波频率测量方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品。
技术介绍
[0002]微波光子技术因具有大带宽、低损耗、对电磁干扰不敏感等优势,在用于测量微波频率方面已受到广泛关注。利用微波光子技术进行微波频率测量一般可通过“频率
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能量”映射的方法实现。其基本原理是将微波信号的频率信息转换为微波信号或者光信号的能量信息,通过预先建立的频率
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能量方程(通常称为幅度比较方程),在已知能量信息的条件下,反推对应的频率信息。
技术实现思路
[0003]本公开提供了一种微波频率测量方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品。
[0004]根据本公开的一方面,提供了一种微波频率测量方法。方法包括获取待测微波信号的估计频率范围。估计频率范围通过利用第一测量结构测量待测微波信号得到。第一测量结构决定测量带宽,测量带宽与基于第一测量结构构建的第一幅度比较方程的模型曲线相关联。方法还包括基于第二测量结构构建第二幅度比较方程的模型曲线,以及基于第三测量结构构建第三幅度比较方程的模型曲线。第一测量结构、第二测量结构和第三测量结构每一者是通过在可编程光网络上进行编程构建的。方法还包括在第一测量结构的测量带宽内,将第二幅度比较方程的模型曲线中斜率大于预定阈值的部分与第三幅度比较方程的模型曲线中斜率大于预定阈值的部分进行拼接,以得到 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种微波频率测量方法,包括:获取待测微波信号的估计频率范围,其中,所述估计频率范围通过利用第一测量结构测量所述待测微波信号得到,所述第一测量结构决定测量带宽,所述测量带宽与基于所述第一测量结构构建的第一幅度比较方程的模型曲线相关联;基于第二测量结构构建第二幅度比较方程的模型曲线,以及基于第三测量结构构建第三幅度比较方程的模型曲线,其中,所述第二测量结构和所述第三测量结构每一者是通过在可编程光网络上进行编程构建的;在所述第一测量结构的所述测量带宽内,将所述第二幅度比较方程的模型曲线中斜率大于预定阈值的部分与所述第三幅度比较方程的模型曲线中斜率大于所述预定阈值的部分进行拼接,以得到经拼接的模型曲线;以及基于所述经拼接的模型曲线以及所述估计频率范围,确定所述待测微波信号的频率。2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述第一测量结构是通过在所述可编程光网络上进行编程构建的。3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述第一测量结构包括提供互补功率响应的两个输出端口,且所述第一幅度比较方程的模型曲线指示出在所述测量带宽内的不同频率下,在所述两个输出端口处提供的所述互补功率响应之比。4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述利用第一测量结构测量所述待测微波信号包括:将所述待测微波信号调制到光信号上;将经调制的光信号输入至所述第一测量结构,以获得在所述两个输出端口处提供的互补功率响应之比;以及基于该互补功率响应之比和所述第一幅度比较方程的模型曲线,确定所述待测微波信号的频率估计值;其中,所述估计频率范围是基于所述频率估计值确定的。5.根据权利要求4所述的方法,其中,所述调制包括载波抑制双边带调制或载波抑制单边带调制。6.根据权利要求4或5所述的方法,其中,所述第一测量结构被调节使得所述第一测量结构的谐振波长与所述光信号的中心波长一致。7.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述第一幅度比较方程的模型曲线是单调的。8.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述第二测量结构和所述第三测量结构每一者包括提供互补功率响应的两个输出端口,且所述第二幅度比较方程的模型曲线和所述第三幅度比较方程的模型曲线每一者指示出在不同频率下,在相应的两个输出端口处提供的相应的互补功率响应之比。9.根据权利要求8所述的方法,其中,所述基于第二测量结构构建第二幅度比较方程的模型曲线包括:将利用具有所述不同频率的样本微波信号经载波抑制双边带调制的光信号输入至所述第二测量结构,以获得在所述不同频率下,在所述第二测量结构的所述两个输出端口处提供的所述互补功率响应之比,其中,所述互补功率响应中的功率最小值的波长与所述光信号的载波波长一致,并且其中,所述基于第三测量结构构建第三幅度比较方程的模型曲线包括:将利用具有所
述不同频率的样本微波信号经载波抑制双边带调制的所述光信号输入至所述第三测量结构,以获得在所述不同频率下,在所述第三测量结构的所述两个输出端口处...
【专利技术属性】
技术研发人员:李智慧,梁宇鑫,范诗佳,崔乃迪,冯俊波,
申请(专利权)人:联合微电子中心有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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