一种全自动旋转探针台制造技术

技术编号:35568730 阅读:58 留言:0更新日期:2022-11-12 15:52
本实用新型专利技术公开了一种全自动旋转探针台,其包括:底座、载台、滑座、升降座、悬臂、探针和压环,所述底座上设置有环形轨道,所述滑座可滑动地设置在环形轨道上,所述载台设置在底座上并位于环形轨道的内侧,所述升降座可升降地设置在滑座上,所述升降座上横向设置有第一导向套,所述悬臂设置在第一导向套中并延伸至载台上方,所述第一导向套前端设置有指向下方载台的第二导向套,所述探针设置在第二导向套中,所述滑座一侧设置有电机,所述底座上设置有与环形轨道同心的环形齿条,所述电机的转轴上设置有与环形齿条啮合的齿轮。本实用新型专利技术所述的全自动旋转探针台,可以围绕载台上的被测物进行旋转,改变探针的位置,提升了测试效率。提升了测试效率。提升了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种全自动旋转探针台


[0001]本技术涉及探针台
,尤其涉及一种全自动旋转探针台。

技术介绍

[0002]在PCBA及半导体的测试领域,经常会使用到探针,可以通过探针对芯片或者晶圆进行测试。
[0003]为了确保测试的准确性,在测试前,先将芯片或者半导体放置在载台上,通过探针的移动进行测试,由于芯片和半导体的结构都非常精密,对探针测试时的动作精度要求较高,通常需要对应的探针台,实现探针的精密动作。现有的探针台,探针通常只能在一个位置进行测试,当芯片或者半导体上含有多个环形布局的测试点时,需要安装多个探针台,成本高,测试工作效率低,需要进行改进。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种全自动旋转探针台,进行探针的环形移动,实现多个环形布局的测试点的逐一测试,提升工作效率,降低成本。
[0005]为达此目的,本技术采用以下技术方案:
[0006]一种全自动旋转探针台,包括:底座、载台、滑座、升降座、悬臂、探针和压环,所述底座上设置有环形轨道,所述滑座可滑动地设置在环形轨道上,所述载台设置在底座本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种全自动旋转探针台,其特征在于,包括:底座、载台、滑座、升降座、悬臂、探针和压环,所述底座上设置有环形轨道,所述滑座可滑动地设置在环形轨道上,所述载台设置在底座上并位于环形轨道的内侧,所述升降座可升降地设置在滑座上,所述升降座上横向设置有第一导向套,所述悬臂设置在第一导向套中并延伸至载台上方,所述第一导向套前端设置有指向下方载台的第二导向套,所述探针设置在第二导向套中,所述滑座一侧设置有电机,所述底座上设置有与环形轨道同心的环形齿条,所述电机的转轴上设置有与环形齿条啮合的齿轮,所述底座顶部两侧设置有指向上方的支架,所述支架顶部设置有平板,所述压环可升降地设置在平板下方并位于第一导向套的路径上方,所述平板上设置有与压环相连接的升降驱动装置。2.根据权利要求1所述的全自动旋转探...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘景民周炳蔡李花
申请(专利权)人:张家港意发功率半导体有限公司
类型:新型
国别省市:

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