一种自动批量采集微波元件参数的方法技术

本发明专利技术提供一种自动批量采集微波元件参数的方法，采用探针盒进行参数的采集，包括如下步骤：A：整版微波元件在设计排版时，将整版微波元件的地端引到正面；B：在空间建立笛卡尔坐标系，将探针盒设置在Z轴上，探针盒的坐标为(0，0，Z1)；C：将整版微波元件可移动设置在坐标系上，且微波元件位于探针盒的下方，微波元件可沿着X轴、Y轴和Z轴三个方向平行移动；D：通过调整坐标，使整版微波元件上的每一个微波元件单元分别和探针盒接触，并通过探针盒采集每一个微波元件单元的参数并记录保存。个微波元件单元的参数并记录保存。个微波元件单元的参数并记录保存。

【技术实现步骤摘要】
一种自动批量采集微波元件参数的方法


[0001]本专利技术涉及微波元件领域，特别是一种自动批量采集微波元件参数的方法。

技术介绍

[0002]微波元件在现在通信系统中有着不可取代的作用，并且有着广阔的应用领域，包括微波通信、互联网应用产品，消费电子产品，甚至国防、航天、航空等。许多微波元件采用微带结构，微带线是20世界50年代发展起来的一种微波传输线，具有体积小、重量轻、频带宽、可集成化。常规的2端口微波元件，输入输出端口位于上表面，地端位于下表面。
[0003]现有技术中，对于微波元件参数的采集，通常使用同轴连接器进行采集，将同轴连接器的芯线与微波元件的输出输出端连接，将同轴连接器的外导体与微波元件的地端连接。但这样的方式一次只能对单个微波元件进行采集，产品的采集效率低且地端的接触效果无法保证，同批次间的每个产品接地情况不一致，导致最终采集的指标出现偏差。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的是克服现有技术的缺点，提供一种通过探针盒的探针可以对整版微波元件内的每一个微波元件单元进行参数的自动采集，大大提高采集效率，并能够保证采集的准确率的自动批量采集微波元件参数的方法。
[0005]本专利技术采用如下技术方案：
[0006]一种自动批量采集微波元件参数的方法，采用探针盒进行参数的采集，包括如下步骤：
[0007]A：整版微波元件在设计排版时，将整版微波元件的地端引到正面；
[0008]B：在空间建立笛卡尔坐标系，将探针盒设置在Z轴上，探针盒的坐标为(0，0，Z1)；
[0009]C：将整版微波元件可移动设置在坐标系上，且微波元件位于探针盒的下方，微波元件可沿着X轴、Y轴和Z轴三个方向平行移动；
[0010]D：通过调整坐标，使整版微波元件上的每一个微波元件单元分别和探针盒接触，并通过探针盒采集每一个微波元件单元的参数并记录保存。
[0011]进一步地，调整整版微波元件的位置，使整版微波元件的第一行第一个微波元件单元沿着Z轴垂直上升即可直接采集参数，即第一行第一个微波元件单元的初始位置坐标(0,0,0)，则所述步骤D包括如下过程：
[0012]D1：整版微波元件沿着Z轴上升，使所述探针盒的探针接触第一行第一个微波元件单元，采集并保存第一行第一个微波元件单元的参数；
[0013]D2：第一行第一个微波元件单元参数保存完毕后，整版微波元件沿着Z轴下降，使第一行第一个微波元件单元脱离探针的接触；
[0014]D3:整版微波元件沿着X轴平移至第一行第二个微波元件单元的位置，再沿着Z轴上升，使所述探针盒的探针接触第一行第二个微波元件单元，采集并保存第一行第二个微波元件单元的参数；
[0015]D4：第一行第二个微波元件单元参数保存完毕后，整版微波元件沿着Z轴下降使第一行第二个微波元件单元脱离探针的接触；
[0016]D5:整版微波元件沿着X轴平移至第一行第三个微波元件单元的位置后，再沿着Z轴上升，使所述探针盒的探针接触第一行第三个微波元件单元，采集并保存第一行第三个微波元件单元的参数；
[0017]D6:依此类推，直至整版微波元件上第一行的全部微波元件单元采集完毕后，将整版微波元件复位至第一行第一个微波元件单元的坐标为(0，0，0)的位置；
[0018]D7:整版微波元件沿着Y轴移动使整版微波元件第二行第一个微波元件单元位于探针盒的探针下方，并沿着Z轴上升使第二行第一个微波元件单元接触探针盒的探针，采集并保存第二行第一个微波元件单元的参数；
[0019]D8：根据整版微波元件第一行的坐标调整和参数采集步骤，对整版微波元件第二行的每一个微波元件单元进行参数采集；
[0020]D9：当整版微波元件的最后一行最后一个微波元件单元的参数采集完成，将整版微波元件的坐标复位，取下检测完成的整版微波元件，换上新版的微波元件重复整个步骤D的过程。
[0021]进一步地，所述步骤一采用金属化孔的方法，将微波元件背面的地端引至正面。
[0022]进一步地，所述笛卡尔坐标系内设置有传动装置和夹具基座，所述夹具基座可移动设置，传动装置连接并驱动夹具基座移动，所述夹具基座上开设有安装槽，所述整版微波元件设置在安装槽内，使微波元件的上表面与夹具基座的上表面齐平。
[0023]进一步地，所述传动装置X轴、Y轴和Z轴三个方向上均设置有步进电机，所述步进电机驱动夹具基座沿着X轴、Y轴和Z轴三个方向平行移动。
[0024]由上述对本专利技术的描述可知，与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：在微波元件设计排版时，将地端引到上表面，引到上表面的地端也采用高频探针接触测试，实现了微波元件的整版测试采集，且在空间内建立笛卡尔坐标系，并通过调整整版微波元件的坐标位置，实现对整版微波元件内的每一个微波元件单元进行测试采集，大大的提高了测试采集的效率，并能够保证测试采集的准确率，避免因测试不准确导致的不合格品出现。
附图说明
[0025]图1是本专利技术的具体实施方式的测试采集结构示意图；
[0026]图2是本专利技术的具体实施方式的整版微波元件排版结构示意图。
[0027]图中：10.整版微波元件，100.微波元件单元，101.地端，102.金属化孔，20.夹具基座，30.探针盒。
具体实施方式
[0028]以下通过具体实施方式对本专利技术作进一步的描述。
[0029]参照图1和图2，本专利技术的一种自动批量采集微波元件参数的方法，包括整版微波元件10，夹具基座20，探针盒30和传动装置，所述夹具基座20上开设有安装槽，所述整版微波元件10设置在安装槽内，使整版微波元件10的上表面和夹具基座20的上表面齐平，所述探针盒30用于整版微波元件10的参数采集，传动装置用于驱动夹具基座20移动，自动批量
采集微波元件参数的方法包括如下步骤：
[0030]A：整版微波元件10在设计排版时，采用金属化孔102的方式将整版微波元件10的地端101引到正面，这样的排版方式，使微波元件单元100的参数采集工作可以在微波元件单元100分割前进行，实现微波元件单元的整版测试采集；
[0031]B：在空间建立笛卡尔坐标系，将探针盒30设置在Z轴上，探针盒30的坐标为(0，0，Z1)，同时将夹具基座20可移动设置探针盒30的下方，传动装置连接并驱动夹具基座20移动，传动装置在X轴、Y轴和Z轴三个方向上均设置有步进电机，所述步进电机驱动夹具基座20沿着X轴、Y轴和Z轴三个方向平行移动，三个步进电机可通过编程实现自动开关等关联动作；
[0032]C：将整版微波元件10设置在夹具基座20的安装槽内，使整版微波元件10的上表面和夹具基座20的上表面齐平，方便定位整版微波元件10内的每一个微波元件单元100，且整版微波元件10位于探针盒30的下方，整版微波元件10可随着夹具基座20沿着X轴、Y轴和Z轴三个方向平行移动；
[0033]D：通过调整坐标，使整版微波元件10上的每一个微波元件单元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动批量采集微波元件参数的方法，其特征在于：采用探针盒进行参数的采集，包括如下步骤：A：整版微波元件在设计排版时，将整版微波元件的地端引到正面；B：在空间建立笛卡尔坐标系，将探针盒设置在Z轴上，探针盒的坐标为(0，0，Z1)；C：将整版微波元件可移动设置在坐标系上，且微波元件位于探针盒的下方，微波元件可沿着X轴、Y轴和Z轴三个方向平行移动；D：通过调整坐标，使整版微波元件上的每一个微波元件单元分别和探针盒接触，并通过探针盒采集每一个微波元件单元的参数并记录保存。2.根据权利要求1所述的一种自动批量采集微波元件参数的方法，其特征在于：调整整版微波元件的位置，使整版微波元件的第一行第一个微波元件单元沿着Z轴垂直上升即可直接采集参数，即第一行第一个微波元件单元的初始位置坐标(0,0,0)，则所述步骤D包括如下过程：D1：整版微波元件沿着Z轴上升，使所述探针盒的探针接触第一行第一个微波元件单元，采集并保存第一行第一个微波元件单元的参数；D2：第一行第一个微波元件单元参数保存完毕后，整版微波元件沿着Z轴下降，使第一行第一个微波元件单元脱离探针的接触；D3:整版微波元件沿着X轴平移至第一行第二个微波元件单元的位置，再沿着Z轴上升，使所述探针盒的探针接触第一行第二个微波元件单元，采集并保存第一行第二个微波元件单元的参数；D4：第一行第二个微波元件单元参数保存完毕后，整版微波元件沿着Z轴下降使第一行第二个微波元件单元脱离探针的接触；D5:整版微波元件沿着X轴平移至第一行第三个微波元件单元的位置后，再沿着Z轴...

【专利技术属性】
技术研发人员：张烽，苏祺益，潘甲东，唐加能，黄婷婷，黄星凡，严勇，
申请(专利权)人：福建毫米电子有限公司，
类型：发明
国别省市：