本实用新型专利技术公开了一种滤线栅检测装置，该滤线栅检测装置包括暗箱、探测器和光源，其中，光源设置于暗箱内且设置于暗箱的顶端，探测器放置于暗箱的内部，并且位于光源的下方，光源发出的光线透过滤线栅投射至探测器上。使用本实用新型专利技术所述的滤线栅检测装置进行检测时，光源在暗箱内透过滤线栅后投射至探测器上，在探测器上形成清晰的滤线栅的形貌，快速有效的检测出滤线栅的壁厚及孔内毛刺等情况，避免了人工检测的误差，有效提高了检测效率，降低了人工成本。工成本。工成本。
【技术实现步骤摘要】
一种滤线栅检测装置
[0001]本技术涉及滤线栅检测
，具体涉及一种滤线栅检测装置。
技术介绍
[0002]在拍摄骨骼、腰脊椎、盆骨等人体组织X射线图像时，由于这些组织部位密度相对较大，对X射线吸收率比较高，要使图像清晰就要使用大剂量的X射线。但当剂量较大时，这些射线会有很大程度的散射，影响图像质量；为了吸收这些散射线，目前采用的方法是在探测器前放置滤线栅，滤线栅可以吸收掉那些方向交错无序的散射线。为了能够使滤线栅有效发挥其作用，滤线栅的生产质量尤为关键。
[0003]目前，在滤线栅的生产检测环节，主要通过人为观测显微镜下的滤线栅的形貌，判断滤线栅是否符合生产要求。但是，检测人员之间的主观判定易造成误差，成本高且效率低。
[0004]因此，如何提高滤线栅的检测效率成为本领域技术人员亟需解决的问题。
技术实现思路
[0005]鉴于以上所述现有技术的缺点，本技术的目的在于提供一种滤线栅检测装置，以提高在生产检测环节的检测滤线栅的效率，降低检测误差。
[0006]为了实现上述目的及其他相关目的，本技术提供一种滤线栅检测装置，包括：
[0007]暗箱；
[0008]光源，设置于暗箱内且设置于暗箱的顶端；
[0009]探测器，放置于暗箱内，并且位于光源的下方，光源发出的光线透过滤线栅投射至探测器上。
[0010]可选地，还包括：
[0011]升降装置，设置于暗箱内且设置于暗箱的底端，探测器放置于升降装置靠近光源的一侧。
[0012]可选地，升降装置沿暗箱的底端至顶端依次包括：
[0013]底座，与暗箱的底端贴合；
[0014]升降机构，与底座固定连接，并沿暗箱的底端向顶端往复移动；
[0015]置物台，与升降机构固定连接，并跟随升降机构移动，探测器设置于置物台上。
[0016]可选地，置物台在靠近升降机构的表面边缘安装有高度微调装置。
[0017]可选地，升降装置的横截面积小于暗箱的横截面积。
[0018]可选地，还包括：
[0019]防散射装置，覆盖探测器的表面，使穿过滤光栅的光透过防散射装置至探测器。
[0020]可选地，防散射装置为光纤板或平行光管。
[0021]可选地，光源的周围还覆盖有光纤罩，以将光源发出的光汇聚为锥形。
[0022]可选地，暗箱的箱壁表面覆盖有避光材料。
[0023]可选地，探测器的像素大小小于或等于50μm。
[0024]与现有技术相比，本技术所述滤线栅检测装置至少具备如下有益效果：
[0025]本技术所述的滤线栅检测装置包括暗箱、探测器和光源，其中，光源设置于暗箱内且设置于暗箱的顶端，探测器放置于暗箱的内部，并且位于光源的下方，光源发出的光线透过滤线栅投射至探测器上。光源透过滤线栅后投射至探测器上，在探测器上形成清晰的滤线栅的形貌，进而快速有效的检测出滤线栅的壁厚及孔内毛刺等情况，避免了人工检测的误差，有效提高了检测效率，降低了人工成本。
[0026]经统计，检测人员人工检测每片滤线栅的效率预计3～5min左右。本技术可以在30s内完成检测，检测效率大大提升。
附图说明
[0027]图1为本技术所述检测滤线栅装置的暗箱结构示意图；
[0028]图2为放置有待检测的滤线栅的本技术所述检测滤线栅装置的暗箱内部结构分解示意图；
[0029]图3为本技术所述高度微调装置的结构示意图；
[0030]图4为本技术所述检测滤线栅装置使用时的光线传播示意图。
[0031]附图标记列表：
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暗箱
[0033]11
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暗箱门
[0034]12
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顶端
[0035]13
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底端
[0036]14
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承托结构
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升降装置
[0038]21
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置物台
[0039]22
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升降机构
[0040]23
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底座
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探测器
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防散射装置
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滤线栅
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光源
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高度微调装置
具体实施方式
[0046]以下由特定的具体实施例说明本技术的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本技术的其他优点及功效。本技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本申请的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0047]须知，本技术实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本技术的基本构
想，虽图示中仅显示与本技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的形态、数量及比例可随意的改变，且其组件布局形态也可能更为复杂。说明书附图所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本申请可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本申请所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。
[0048]本实施例提供一种滤线栅检测装置，该滤线栅检测装置包括暗箱、探测器及光源，其中，光源设置于暗箱内且设置于暗箱的顶端，探测器设置于暗箱内，并且位于光源的下方，光源发出的光线透过滤线栅投射至探测器上。在对滤线栅进行检测时，滤线栅检测装置中的光源透过滤线栅，将滤线栅内部的形貌投射至探测器上，由探测器对其形貌图进行分析，检测出其是否符合生产要求。
[0049]具体地，参照图1，暗箱1用于提供暗室环境，用于防止外部的光对检测装置的检测结果产生影响，同时还能够保护腔室内的检测装置。可选地，暗箱1可以通过在普通箱体的表面涂覆避光材料而获得，其中，避光材料可以为黑色吸光材料。暗箱1的周边需要完全避光，即使线路引入部分也需要通过黑色材质包覆避免外界光引入。
[0050]暗箱1上设置有暗箱门11，可以通过暗箱门11对位于暗箱1内部的部件进行布置安装，在对滤线栅进行检测时，通过打开暗箱门11完成滤线本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种滤线栅检测装置，其特征在于，包括：暗箱；光源，设置于所述暗箱内且设置于所述暗箱的顶端；探测器，放置于所述暗箱内，并且位于所述光源的下方，所述光源发出的光线透过滤线栅投射至所述探测器上。2.根据权利要求1所述的滤线栅检测装置，其特征在于，还包括：升降装置，设置于所述暗箱内且设置于所述暗箱的底端，所述探测器放置于所述升降装置靠近所述光源的一侧。3.根据权利要求2所述的滤线栅检测装置，其特征在于，所述升降装置沿所述暗箱的底端至顶端依次包括：底座，与所述暗箱的底端贴合；升降机构，与所述底座固定连接，并沿所述暗箱的底端向顶端往复移动；置物台，与所述升降机构固定连接，并跟随所述升降机构移动，所述探测器设置于所述置物台上。4.根据权利要求3所述的滤线栅检测装置，其特征在于，所述置...
【专利技术属性】
技术研发人员：辛胜，袁钰函，朱翀煜，金利波，
申请(专利权)人：奕瑞影像科技海宁有限公司，
类型：新型
国别省市：
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