一种检测浮法电子玻璃表面微痕量元素的方法技术

一种检测浮法电子玻璃表面微痕量元素的方法，涉及浮法玻璃检测领域，本发明专利技术在检测超薄玻璃表面渗锡量时，与普通的检测方法相比，多次检测后的重复性和稳定性更好，用均方差指标对两种方法进行衡量，本发明专利技术提供的检测方法经多次检测后所得到的均方差值更低，本发明专利技术能够满足玻璃表面微痕量元素的检测，检测结果稳定，重复性好，能够应用于0.25mm～1.1mm电子基板玻璃表面渗锡量的检测，本发明专利技术具有检测简便，效率高等特点，适合大范围的推广和应用。适合大范围的推广和应用。

【技术实现步骤摘要】
一种检测浮法电子玻璃表面微痕量元素的方法


[0001]本专利技术涉及浮法玻璃检测领域，尤其涉及一种检测浮法电子玻璃表面微痕量元素的方法，具体涉及一种基于大功率X射线荧光分析仪检测浮法电子玻璃表面微痕量元素的方法。

技术介绍

[0002]已知的，随着玻璃行业的进步和发展，浮法玻璃的品种和生产更加细化。电子玻璃作为浮法玻璃中的高端产品，质量要求日益提高，客户对电子基板的质量要求不再简单的趋向于波纹度、透过率等内在指标，而是对于表观质量以及表面污染程度有了更进一步的要求。
[0003]通过检索发现，浮法玻璃生产中，下表面的污染一般都与渗锡及锡灰的附着（沾锡）等因素有关。锡液被氧化的程度决定了渗锡量、沾锡程度的大小，渗锡量的变化也能够反应锡液氧化程度的变化。因此，通过电子玻璃的表层渗锡量检测能够及时效的监测锡液的氧化程度，及时控制工艺指标，减少锡液氧化和锡灰附着，减小表面污染，优化电子玻璃表观质量，提高下游客户使用良率及满意度等。但是电子玻璃由于厚度较薄，表面的渗锡量很小，使用普通的荧光检测方法检测时，所得到的结果不稳定，同一样品在进行重复检测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测浮法电子玻璃表面微痕量元素的方法，其特征是：所述方法为在检测时，首先选取与待检测样品化学成分相同的玻璃，对所选取的玻璃进行表面处理，去除玻璃的表面层，所去除的表面层厚度为0.1mm～0.2mm，以避免玻璃表面层有与本体不同的微量元素对检测结果产生影响，然后将去除表面层的玻璃制成复数片与待检测样品大小相似的玻璃块，将复数片玻璃块垫在待检测样品的后面，复数片玻璃的厚度和待检测样品的厚度之和为3mm～5mm，将复数片玻璃块与待检测样品一起放入检测仪器的样品盒中，待检测样品在真空状态下，通过检测仪器搭载的NI40滤片经过SC或PC探测器在0.336nm～0.165nm波长处运用不同的分析晶体，进行强度交换和散射，形成被测物质对应的光学变形角，使原本透过的光线改变衍射方向，能够达到稳定持续的测试强度，获得有效正确的图谱和数据，所得出的检测数据更加稳定。2.根据权利要求1所述的检测浮法电子玻璃表面微痕量元素的方法，其特征是：所述对所选取的玻璃进行表面处理时，通过磨拋或化学减薄方法对所选取的玻璃进行表面处理。3.根据权利要求2所述的检测浮法电子玻璃表面微痕量元素的方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴惊涛，马峰莉，张佳楠，陈琰，赵玉军，孙海峰，刘仕鑫，
申请(专利权)人：洛玻集团洛阳龙海电子玻璃有限公司，
类型：发明
国别省市：