一种基材的留白检测方法及涂布系统技术方案

本申请提供一种基材的留白检测方法及涂布系统，该留白检测方法包括：获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像；对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域；获取未涂覆区域的面积；根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求。在本申请中，通过对未涂覆区域检测，将未涂覆区域与预设的留白区域进行面积对比，以确定留白区域是否满足要求，从而进行校正，避免出现漏涂或错涂，保证基材可以被充分利用。保证基材可以被充分利用。保证基材可以被充分利用。

【技术实现步骤摘要】
一种基材的留白检测方法及涂布系统


[0001]本申请涉及缺陷检测领域，具体为一种基材的留白检测方法及涂布系统。

技术介绍

[0002]涂布机在对基材进行涂覆的过程中，会出现基材缺陷、偏移等状态，这样进行涂覆时，很容易漏涂，或错涂覆，漏涂或错涂的基材不能继续使用的。
[0003]鉴于此，克服该现有技术产品所存在的不足是本
亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]本申请主要解决的技术问题是提供一种基材的留白检测方法及涂布系统，通过对未涂覆区域检测，将未涂覆区域与预设的留白区域进行面积对比，以确定留白区域是否满足要求，从而进行校正，避免出现漏涂或错涂，保证基材可以被充分利用。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种基材的留白检测方法，包括：
[0006]获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像；
[0007]对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域；
[0008]获取未涂覆区域的面积；
[0009]根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求。
[0010]进一步地，所述根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求包括：
[0011]如果未涂覆区域的面积小于或大于设定的面积阈值，则基材的留白区域不满足涂覆要求。
[0012]进一步地，所述根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求包括：
[0013]如果未涂覆区域的面积等于设定的面积阈值，则继续获取位于涂覆区域两侧的第一未涂覆区域和第二未涂覆区域；
[0014]分别获取所述第一未涂覆区域的第一面积和所述第二未涂覆区域的第二面积；判断所述第一面积与预设的第一面积阈值是否相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值是否相等；
[0015]如果所述第一面积与预设的第一面积阈值相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值相等，则基材的留白区域满足涂覆要求。
[0016]进一步地，所述留白检测方法还包括：
[0017]如果所述第一面积与预设的第一面积阈值不相等和/或所述第二面积与预设的第二面积阈值不相等，则基材的留白区域不满足涂覆要求。
[0018]进一步地，所述留白检测方法还包括：
[0019]如果所述第一面积小于预设的第一面积阈值、所述第二面积大于预设的第二面积
阈值，则当基材保持不动时，向靠近所述第二未涂覆区域的方向平移涂覆组件；或，
[0020]当涂覆组件保持不动时，沿第一方向平移基材，以使所述第一未涂覆区域的边界线远离所述涂覆组件。
[0021]进一步地，所述留白检测方法还包括：
[0022]如果所述第一面积大于预设的第一面积阈值、所述第二面积小于预设的第二面积阈值，则当基材保持不动时，向靠近所述第一未涂覆区域的方向平移涂覆组件；或，
[0023]当涂覆组件保持不动时，沿第一方向平移基材，以使所述第二未涂覆区域的边界线远离所述涂覆组件。
[0024]进一步地，在所述获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像之前还包括：
[0025]检测所述目标基材的尺寸是否符合要求，当所述目标基材的尺寸不符合要求时，按照涂覆任务重新设置新的基材。
[0026]进一步地，所述检测所述目标基材的尺寸是否符合要求包括：
[0027]获取未经过涂覆操作的目标基材的基准图像；
[0028]基于涂覆任务在所述基准图像上绘制虚拟涂覆区域，获取所述基准图像的面积与所述虚拟涂覆区域的面积的差值；
[0029]如果所述差值与预设的面积阈值相等，则所述目标基材的尺寸符合要求。
[0030]进一步地，所述检测所述目标基材的尺寸是否符合要求还包括：
[0031]如果所述差值与预设的面积阈值不相等，则所述目标基材的尺寸不符合要求；
[0032]向用户发送需更换基材的提示信息。
[0033]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种涂布系统，所述涂布系统包括涂布机和上位机，所述涂布机和所述上位机相互配合能够实现如本实施例所述的留白检测方法。
[0034]本申请的有益效果是：本申请提供一种基材的留白检测方法及涂布系统，该留白检测方法包括：获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像；对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域；获取未涂覆区域的面积；根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求。
[0035]在本申请中，通过对未涂覆区域检测，将未涂覆区域与预设的留白区域进行面积对比，以确定留白区域是否满足要求，从而进行校正，避免出现漏涂或错涂，保证基材可以被充分利用。
[0036]进一步地，当留白面积和标准留白面积相同，但是单侧的留白面积有误时，与单侧标准留白面积进行对比，从而判断往左偏移，还是右偏移，后进行校正。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0038]图1是本申请实施例一种基材的留白检测方法的流程示意图；
[0039]图2是本申请实施例的一种经过涂覆操作的目标基材的整体图像示意图；
[0040]图3是本申请实施例的另一种经过涂覆操作的目标基材的整体图像示意图；
[0041]图4是本申请实施例一种涂布系统的结构示意图；
[0042]图5是本申请实施例的基材各区域划分示意图。
具体实施方式
[0043]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0044]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0045]在本申请中，“示例性”一词用来表示“用作例子、例证或说明”。本申请中被描述为“示例性”的任何实施例不一定被解释为比其它实施本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基材的留白检测方法，其特征在于，包括：获取经过涂覆操作的目标基材的整体图像；对所述整体图像进行分析，将所述整体图像分为涂覆区域和未涂覆区域；获取未涂覆区域的面积；根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求。2.根据权利要求1所述的留白检测方法，其特征在于，所述根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求包括：如果未涂覆区域的面积小于或大于设定的面积阈值，则基材的留白区域不满足涂覆要求。3.根据权利要求1所述的留白检测方法，其特征在于，所述根据未涂覆区域的面积确定基材的留白区域是否满足涂覆要求包括：如果未涂覆区域的面积等于设定的面积阈值，则继续获取位于涂覆区域两侧的第一未涂覆区域和第二未涂覆区域；分别获取所述第一未涂覆区域的第一面积和所述第二未涂覆区域的第二面积；判断所述第一面积与预设的第一面积阈值是否相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值是否相等；如果所述第一面积与预设的第一面积阈值相等，以及，所述第二面积与预设的第二面积阈值相等，则基材的留白区域满足涂覆要求。4.根据权利要求3所述的留白检测方法，其特征在于，所述留白检测方法还包括：如果所述第一面积与预设的第一面积阈值不相等和/或所述第二面积与预设的第二面积阈值不相等，则基材的留白区域不满足涂覆要求。5.根据权利要求3所述的留白检测方法，其特征在于，所述留白检测方法还包括：如果所述第一面积小于预设的第一面积阈值、所述第二面积大于预设的第二面积阈值，则当基材保持不动时，向靠近所述第二未涂覆区域的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭晓彬，郭晓春，方志远，贺方，
申请(专利权)人：广东聚德机械有限公司，
类型：发明
国别省市：