将存储系统中的缺陷隔离到特定存储系统部件的方法和数据处理系统技术方案

本发明专利技术披露了一种通过判断存储系统中哪一个特定部件存在缺陷，将存储系统中的缺陷隔离的方法、系统和产品。该存储系统包括多个部件。这些部件包括物理存储模块，与物理存储模块连接的存储卡，和用于控制存储卡的存储控制器。存储卡包括一个或多个用于驱动或检测存储信号的电缓冲器。缓冲器作为虚拟存储元件。单独检测每个部件，以借助于虚拟存储系统元件确定有缺陷的部件。对这些部件的检测开始于首先检测物理存储模块。如果物理存储模块通过检测，则检测存储卡。如果存储卡通过检测，则检测存储控制器。

【技术实现步骤摘要】
将存储系统缺陷隔离到存储系统部件的方法、系统和产品
本专利技术概括而言涉及数据处理系统领域，并具体涉及用于检测存储系统的方法、系统和计算机程序产品。更具体而言，本专利技术涉及一种通过确定存储系统中哪一个特定部件存在缺陷而隔离存储系统中的缺陷的方法、系统和计算机程序产品。
技术介绍
当前，在具有单一存储范围的小型系统结构中，计算机存储缺陷隔离技术中没有可靠的方法将存储器模块中的硬件问题隔离，存储器模块如双列直插存储模块(DIMM)，存储控制器和与存储器模块连接的存储卡。已知方法检验连接在一起的存储器系统的所有部分。通过将存储系统的所有部分连接在一起，使用存储控制器通过数据和地址位将数据模式写到存储子系统中。然后使用存储控制器从存储子系统读出数据。首先检测存储控制器。然后检测存储控制器周围的逻辑。接下来检测存储卡的逻辑，最后检测存储模块的逻辑。然后将写入存储系统的模式与从存储系统读出的模式进行比较。如果模式不匹配，则可以确定存储系统内存在缺陷。不过，存储系统的所有部件作为单个单元被检测，不能单独检测。除此之外，在小型结构中，当各存储系统部件如存储控制器、存储卡和存储模块中仅有一个部件存在缺陷时，所检测出的任何错误可能存在于相互连接的任何一个部件中，不能隔离。这种用于确定存储系统中是否存在缺陷的现有技术方法不能单独检测存储系统的各个部件，因为这三个部件，即存储控制器，存储卡和存储模块作为一个连接单元被一起全部检测。另外，在小型结构情形中，这种现有技术方法难以精确确定哪个部件存在缺陷。此外，这种现有技-->术方法也没有细致地检测存储系统的存储卡部件及其周围的逻辑。结果，在存储卡部件存在缺陷时，带来不能隔离缺陷存储部件的问题，从而为了校正存储系统错误可能会增大现场更换部件的数量。从而，需要一种与系统结构无关地、通过确定存储系统中哪个特定部件存在缺陷而隔离存储系统中的缺陷的方法、系统和产品，并且还提供单独检测各存储系统部件的能力，各部件之间不相互依赖。
技术实现思路
本专利技术披露了一种通过确定存储系统中哪个具体部件存在缺陷而隔离存储系统缺陷的方法、系统和产品。该存储系统包括多个部件。这些部件包括一个或多个物理存储模块，一个或多个与物理存储模块相连的存储卡，以及一个或多个用于控制存储卡的存储控制器。存储卡包括一个或多个用于驱动或检测存储信号的电缓冲器。根据本专利技术所述的方法，可使用缓冲器作为虚拟存储系统元件。为了识别缺陷部件，分别检测每个存储部件。首先使用电缓冲器作为虚拟存储控制器检测物理存储模块，从而检测存储系统。如果物理存储模块通过检测，则使用电缓冲器作为虚拟存储模块检测存储卡。如果存储卡通过检测，则使用任何一种现有技术方法检测存储控制器。通过这种方式，可将缺陷隔离到物理存储模块，存储卡或存储控制器。在下面的详细描述中，显然可以看出本专利技术的上述及其他目的、特征和优点。附图说明在所附权利要求中提出了相信为新颖特征的本专利技术特征。不过本专利技术本身及优选使用方式，其他目的和优点，通过结合附图阅读下面的详细说明，将能更好地理解，附图中：图1表示根据本专利技术，可以实现本专利技术的数据处理系统网络的示意图；图2为根据本专利技术，可以实现本专利技术的数据处理系统的详细的方块-->图；图3A为根据本专利技术，包括存储卡，物理存储模块和缓冲器的存储子系统的方块图；图3B为根据本专利技术，包括存储卡，物理存储模块和三态装置的存储子系统的方块图；图4表示根据本专利技术，通过首先检测物理存储模块，然后检测其他存储系统部件，从而检测存储系统的高级(high level)流程图；图5表示根据本专利技术检测其他存储系统部件如存储卡和存储控制器的高级流程图；图6表示根据本专利技术检测物理存储模块(物理DIMM)的高级流程图；图7表示根据本专利技术检测存储卡的高级流程图；以及图8表示根据本专利技术使用任何现有技术方法检测存储控制器的高级流程图。具体实施方式参照附图更好地理解本专利技术的优选实施例和其优点，使用相同附图标记表示附图中相同和相应的部件。本专利技术是一种与系统结构无关，通过单独检测各存储系统部件，确定存储系统中哪个部件存在缺陷而隔离存储系统中缺陷的方法、系统和计算机程序产品。本专利技术可减少维修人员将缺陷隔离到存储系统的特定部件时必须执行的现场更换部件的数量。通过这种方式，在呼叫维修人员之前，识别缺陷部件。从而，在发生缺陷时，可呼叫服务人员，并且呼叫可包括识别存储系统的哪个特定部件存在缺陷，需要更换。因此，在进行服务呼叫之前确定缺陷装置。本专利技术通过依照特定顺序单独检测各存储系统部件而将缺陷隔离到特定部件。首先，检测物理存储模块。然后检测存储卡，之后检测存储控制器。首先，检测与存储卡连接的物理存储模块。设置检测模式检测物理-->存储模块。存储卡通常包括电缓冲器作为卡的一部分。根据本专利技术，在检测与存储卡连接的物理存储模块时，存储卡的这些电缓冲器作为虚拟存储控制器。这些缓冲器利用总线如JTAG总线，与处理器如服务处理器相连。通过服务处理器利用缓冲器作为虚拟存储控制器在JTAG总线上将检测模式写入物理存储模块并从物理存储模块读出。由此，检测存储系统的物理存储模块(物理DIMM)。如果在任何物理存储模块中都没有错误，则本专利技术下面描述存储卡的检测。如上所述，存储卡通常包括电缓冲器作为卡的一部分。根据本专利技术，为了检测存储卡，将这些缓冲器视作虚拟存储模块。这些缓冲器利用总线如JTAG总线与处理器如服务处理器相连。然后赋予每个缓冲器惟一的标识，使服务处理器可以寻址缓冲器。然后服务处理器将每个缓冲器作为虚拟存储模块对待，对存储卡和与存储卡相关的逻辑执行检测。系统处理器将检测模式写到这些电缓冲器。服务处理器通过将数据模式读出到处于被视作虚拟存储模块的电缓冲器范围内的单个存储位置，从而检测数据位。如果对于虚拟存储模块中的各存储位置，读出的模式与写入模式匹配，则对存储卡进行地址位校验。地址位校验比数据位校验更复杂。为了检测地址位，将视作虚拟存储模块的电缓冲器中的存储位置清空成已知状态，如全部为零。然后，将已知数据模式写入处于特定缓冲器或虚拟存储模块范围内的特定存储位置。然后，读出与相同电缓冲器或虚拟存储模块的范围相应的特定地址组，确定是否从除第一特定存储位置以外的存储位置读出已知数据模式。如果仅从第一特定存储位置没有从其他位置读出已知数据模式，则服务处理器确定该存储卡通过检测。如果存储卡通过了这种检验，则从第一特定存储位置去除已知数据模式，然后将其写到下一特定存储位置。重复这一过程直至所有存储地址位都经过检验。服务处理器使用缓冲器作为虚拟存储模块检测存储卡。因此，使用缓冲器保存数据模式执行上述的数据和地址检测。当在物理存储模块检测中没有检测出错误时，如果在使用缓冲器作为虚拟存储模块的存储卡检验期间发生错误，则确定该存储卡存在缺陷并进行隔离。-->如果在使用缓冲器作为虚拟存储模块的存储卡检测期间没有发生错误，则此时，确定物理存储模块和存储卡没有缺陷。然后，使用现有技术方法如内置自检(BIST)或JTAG扫描链签名验证检测存储控制器和支持逻辑。如果在这一阶段发现错误，则确定存储控制器存在缺陷。如果在存储控制器检测期间没有检测出错误，则可以宣布存储系统良好。图1为可以实现本专利技术的数据处理系统网络100的示意图。网络数据处理本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种在数据处理系统中用于将存储系统中的缺陷隔离到特定存储系统部件的方法，所述方法包括步骤：所述存储系统包括多个部件，所述多个部件包括与存储卡连接的物理存储模块，所述存储卡，及用于控制所述存储卡的存储控制器；和单独检测所述多个 部件中的每一个，以识别所述多个部件中具有有缺陷的部件。

【技术特征摘要】
US 2003-9-11 10/660,0061、一种在数据处理系统中用于将存储系统中的缺陷隔离到特定存储系统部件的方法，所述方法包括步骤：所述存储系统包括多个部件，所述多个部件包括与存储卡连接的物理存储模块，所述存储卡，及用于控制所述存储卡的存储控制器；和单独检测所述多个部件中的每一个，以识别所述多个部件中具有有缺陷的部件。2、根据权利要求1所述的方法，还包括步骤：检测所述物理存储模块；所述物理存储模块通过所述检测时，检测所述存储卡；和所述存储卡通过所述检测时，检测所述存储控制器。3、根据权利要求2所述的方法，还包括步骤：所述存储卡包括缓冲器；且其中，所述检测所述存储卡的步骤包括：将所述缓冲器视作虚拟存储模块；和利用所述虚拟存储模块检测所述存储卡。4、根据权利要求2所述的方法，还包括步骤：所述存储卡包括缓冲器；且其中，所述检测所述物理存储模块的步骤包括：将所述缓冲器视作虚拟存储控制器；和利用所述虚拟存储控制器检测所述物理存储模块。5、根据权利要求2所述的方法，还包括步骤：所述存储卡包括缓冲器；且其中，所述检测所述存储卡的步骤包括：将所述缓冲器视作虚拟存储模块，和利用所述缓冲器，通过将数据模式写入所述存储卡以保存在所述虚拟存储模块中，从而检测所述存储卡；所述检测所述存储卡的步骤包括：将所述数据模式保存在所述虚拟存储模块中；从所述虚拟存储器读出所述数据模式；将写入所述虚拟存储模块的所述数据模式与从所述虚拟存储模块读出的所述数据模式进行比较；在写入所述虚拟存储模块的所述数据模式与从所述虚拟存储模块读出的所述数据模式相同时，确定所述存储卡通过所述检测；以及在写入所述虚拟存储模块的所述数据模式与从所述虚拟存储模块读出的所述数据模式不同时，确定所述存储卡没有通过所述检测。6、根据权利要求3所述的方法，还包括步骤：所述存储卡包括多个缓冲器；和将惟一的标识赋予所述多个缓冲器中的每一个，用于寻址所述多个缓冲器。7、根据权利要求3所述的方法，还包括步骤：将所述缓冲器与服务处理器连接；和利用所述服务处理器检测所述存储卡。8、根据权利要求7所述的方法，还包括步骤：利用JTAG总线将所述缓冲器与所述服务处理器连接。9、根据权利要求2所述的方法，还包括步骤：将数据模式存储到所述存储控制器中；从所述存储控制器读出数据模式；将写入所述存储控制器的所述数据模式与从所述存储控制器读出的所述数据模式进行比较；在写入所述存储控制器的所述数据模式与从所述存储控制器读出的所述数据模式相同时，确定所述存储控制器通过所述检测；以及在写入所述存储控制器的所述数据模式与从所述存储控制器读出的所述数据模式不同时，确定所述存储控制器没有通过所述检测。10、根据权利要求9所述的方法，还包括步骤：将所述存储控制器与服务处理器相连。11、根据权利要求9所述的方法，还包括步骤：利用JTAG总线将所述存储控制器与服务处理器连接。12、根据权利要求2所述的方法，还包括步骤：所述存储卡包括三态装置；且其中，所述检测所述存储卡的步骤包括：将所述三态装置视作所述虚拟存储模块；和利用所述虚拟存储模块检测所述存储卡。13、根据权利要求12所述的方法，还包括步骤：所述存储卡包括三态装置；且其中，所述检测所述存储卡的步骤包括：将所述三态装置视作虚拟存储模块；和利用所述虚拟存储模块通过将数据模式写入所述存储卡而检测所述存储卡；所述检测所述存储卡的步骤包括：将所述数据模式存储到所述三态装置中；从所述三态装置读出数据模式；比较写入所述三态装置的所述数据模式与从所述三态装置读出的所述数据模式；在写入所述三态装置的所述数据模式与从所述三态装置读出的所述数据模式相同时，确定所述存储卡通过所述检测；和在写入所述三态装置的所述数据模式与从所述三态装置读出的所述数据模式不同时，确定所述存储卡没有通过所述检测。14、一种用于将存储系统中的缺陷隔离到特定存储系统部件的数据处理系统，所述系统包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：乔尔杰勒德古德温，玛尼施弥斯拉，约翰丹尼尔厄普顿，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]