磁耦隔离器制造技术

技术编号:35464017 阅读:68 留言:0更新日期:2022-11-05 16:05
本申请公开了一种磁耦隔离器,涉及信号传输技术领域。该磁耦隔离器包括CMOS芯片、第一绝缘层、多个导电连接体和多个金属线圈。第一绝缘层位于CMOS芯片与多个金属线圈之间。多个导电连接体均贯穿第一绝缘层。多个金属线圈通过多个导电连接体与CMOS芯片的多个连接端一一连接,且CMOS芯片的多个连接端相互短接。在磁耦隔离器工作时,多个金属线圈可以同时作为变压器的初级线圈或次级线圈工作,从而可以提高信号的传输速率。高信号的传输速率。高信号的传输速率。

【技术实现步骤摘要】
磁耦隔离器


[0001]本申请涉及信号传输
,特别涉及一种磁耦隔离器。

技术介绍

[0002]磁耦隔离器是一种数字信号隔离器件。磁耦隔离器是指利用电磁感应(也称磁电感应)原理把需要传输的变化信号加在变压器的初级线圈,从而使初级线圈产生变化的磁场。变压器的次级线圈在变化的磁场内发生磁电感应,并输出电信号。在此过程中,由于变压器的初级线圈与次级线圈之间没有电连接,因此可以达到信号隔离的目的。
[0003]相关技术中,磁耦隔离器通常包括CMOS芯片、线圈和绝缘层,绝缘层位于CMOS芯片与线圈之间。线圈通过绝缘层与CMOS芯片的连接端连接,以使线圈与CMOS芯片之间可以进行电信号的传输。这里的线圈可以作为初级线圈,也可以作为次级线圈。然而,相关技术中,磁耦隔离器传输信号的速率较慢。

技术实现思路

[0004]本申请提供了一种磁耦隔离器,可以解决相关技术中磁耦隔离器传输信号的速率较慢的问题。所述技术方案如下:
[0005]第一方面,提供了一种磁耦隔离器,包括互补金属氧化物半导体CMOS芯片、第一绝缘层、多个导电连接体和多本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁耦隔离器,其特征在于,包括互补金属氧化物半导体CMOS芯片、第一绝缘层、多个导电连接体和多个金属线圈;所述CMOS芯片具有多个连接端,所述CMOS芯片的多个连接端相互短接;所述第一绝缘层覆盖所述CMOS芯片,且所述第一绝缘层具有多个第一开孔,所述多个第一开孔用于一一暴露所述CMOS芯片的多个连接端,所述第一绝缘层具有远离所述CMOS芯片的第一表面;所述多个导电连接体一一位于所述多个第一开孔内,且所述多个导电连接体的第一端与所述CMOS芯片的多个连接端一一连接;所述多个金属线圈均位于所述第一表面上,且所述多个金属线圈与所述多个导电连接体的第二端一一连接,所述多个金属线圈均用于电磁感应,所述CMOS芯片用于输出电信号至所述多个金属线圈,或接收所述多个金属线圈输出的电信号。2.如权利要求1所述的磁耦隔离器,其特征在于,所述第一绝缘层包括间隔层叠的聚酰亚胺膜层和二氧化硅膜层。3.如权利要求2所述的磁耦隔离器,其特征在于,所述第一绝缘层包括第一膜层、第二膜层和第三膜层;所述第一膜层覆盖所述CMOS芯片,所述第二膜层位于所述第一膜层远离所述CMOS芯片的表面上,所述第三膜层位于所述第二膜层远离所述第一膜层的表面上,所述多个金属线圈均位于所述第三膜层远离第二膜层的表面上;所述第一膜层和所述第三膜层均为所述聚酰亚胺膜层,所述第二膜层为所述二氧化硅膜层。4.如权利要求1至3任...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐兴达李星毅陈富荣张浩徐世佼鲁艳春
申请(专利权)人:北海惠科半导体科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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