一种多功能测试系统技术方案

技术编号:35459947 阅读:15 留言:0更新日期:2022-11-03 12:25
本发明专利技术公开了一种多功能测试系统。该系统包括信号底板、控制器和若干个子卡,所述控制器内预先存储有若干类检测任务控制程序及每类检测任务所需子卡信息,所述信号底板设置有通信模块、第一插槽和若干个第二插槽,所述控制器包括第一插接部,每个子卡包括第二插接部,所述第一插接部与所述第一插槽匹配插入或拔出,每个第二插接部与所述第二插槽匹配插入或拔出,当所述第一插接部插入所述第一插槽,至少一个子卡的第二插接部插入所述第二插槽,所述控制器通过所述通信模块与该插入的子卡进行通信,并识别插入的子卡,基于子卡识别结果控制启动相应类的检测任务。本发明专利技术在一个系统中可以实现多种功能的测试。统中可以实现多种功能的测试。统中可以实现多种功能的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种多功能测试系统


[0001]本专利技术属于测试
,更具体地,涉及一种多功能测试系统。

技术介绍

[0002]当前的自动光学测试(Autom集成电路测试d Optical Inspection)检测设备、集成电路测试(Automatic Test Equipment)检测设备是独立功能的设备,都只适用于各自的领域,并且功能比较单一。现有的大多数自动光学测试设备一般是集成了图像采集与数据处理的平台,然后搭载信号产生平台,实现设备的自动光学测试。现行的集成电路测试设备主要是应用于芯片领域,如爱德万的V93000、泰瑞达的J750等模数混合检测的集成电路测试机。
[0003]在一个完整的Micro LED或芯片检测场景需要配置不同数量的自动光学测试设备以及集成电路测试设备。现有技术中需要分别购置两种设备分别进行检测,这样存在检测复杂、设备维护困难、设备成本高等缺点。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求,本专利技术提供了多功能测试系统,在一个系统中可以实现多种功能的测试。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提供了一种多功能测试系统,包括信号底板、控制器和若干个子卡,所述控制器内预先存储有若干类检测任务控制程序及每类检测任务所需子卡信息,所述信号底板设置有通信模块、第一插槽和若干个第二插槽,所述控制器包括第一插接部,每个子卡均包括第二插接部,所述第一插接部与所述第一插槽匹配插入或拔出,每个第二插接部与所述第二插槽匹配插入或拔出,当所述第一插接部插入所述第一插槽,至少一个子卡的第二插接部插入所述第二插槽,所述控制器通过所述通信模块与该插入的子卡进行通信,并识别插入的子卡,基于子卡识别结果控制启动相应类的检测任务。
[0006]进一步地,基于子卡识别结果控制启动相应类的检测任务包括:
[0007]若识别插入的子卡中至少部分子卡满足一类检测任务所需,则控制所述至少部分子卡进行该类的检测任务,并且控制除所述至少部分子卡以外的插入子卡不能工作。
[0008]进一步地,所述控制器内预先存储自动光学检测任务和集成电路检测任务的控制程序,所述自动光学检测任务需要子卡包括IO子卡和图像采集子卡,所述集成电路检测任务需要子卡包括电气参数测试子卡、DPS电源子卡和通道板。
[0009]进一步地,若识别到IO子卡和图像采集子卡插入所述第二插槽,所述控制器生成光源控制信号、电机驱动信号并通过该插入的IO子卡输出给对应的受控设备,所述控制器还控制插入的图像采集子卡从对应的图像采集设备采集数据;若识别到电气参数测试子卡、DPS电源子卡和通道板插入所述第二插槽,所述控制器控制插入的DPS电源子卡给待测设备提供电源信号,控制插入的通道板为待测设备提供数据信号,控制插入的电气参数测试子卡进行电气参数测试。
[0010]进一步地,所述信号底板还设置有第三插槽,所述信号底板还设置有电源转换模块,所述电源转换模块的第一端与所述第一插槽电连接,所述电源转换模块的第二端与所述第二插槽电连接,所述电源转换模块的第三端与所述第三插槽电连接。
[0011]进一步地,所述信号底板设置有多个所述第二插槽和多个所述第三插槽,多个所述第二插槽分布在所述第一插槽两侧,多个所述第三插槽分布在所述第一插槽两侧。
[0012]进一步地,多个所述第二插槽对称分布在所述第一插槽两侧,多个所述第三插槽对称分布在所述第一插槽两侧。
[0013]进一步地,还包括用于连接所述控制器和子卡的光缆,所述控制器和每个子卡均包括光纤接口。
[0014]进一步地,还包括支架和机械臂,所述机械臂被固定在所述支架上且可绕着固定点旋转,所述信号底板被固定在所述机械臂上。
[0015]进一步地,所述控制器包括工业PC板和FPGA,所述工业PC板和所述FPGA间通过PCIe总线连接,所述FPGA包括所述第一插接部
[0016]总体而言,本专利技术与现有技术相比,具有有益效果:
[0017]1)采用信号底板、子卡和控制器的架构将多种测试功能高度集成在一起,形成一个多功能的测试系统,当识别到满足条件的子卡就可以启动相应的检测任务。例如,子卡可以是IO子卡、图像采集子卡、电气参数测试子卡、DPS供电板、通道板等,若检测到插入了IO子卡和图像采集子卡,则可以启动自动光学检测任务,若检测到插入了电气参数测试子卡、DPS供电板、通道板,则可以启动集成电路检测任务。
[0018]2)将子卡插槽和电源插槽分布在控制器插槽两侧,有利于插槽的扩展,并且还能提高系统结构、信号流以及电源的稳定性。
附图说明
[0019]图1是本专利技术实施例的2
×
8插槽分布示意图;
[0020]图2是本专利技术实施例的多功能测试系统的侧视图;
[0021]图3是本专利技术实施例的支架、机械臂示意图;
[0022]图4是本专利技术实施例的用于自动光学测试测试的多功能测试系统组成示意图;
[0023]图5是本专利技术实施例的用于集成电路测试测试的多功能测试系统组成示意图。
具体实施方式
[0024]为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。此外,下面所描述的本专利技术各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
[0025]本专利技术实施例的一种多功能测试系统,包括信号底板、控制器和若干个外设子卡,控制器内预先存储有若干类检测任务控制程序及每类检测任务所需子卡信息,信号底板设置有通信模块、第一插槽和若干个第二插槽,控制器包括第一插接部,每个子卡包括第二插接部,第一插接部与第一插槽匹配插入或拔出,每个第二插接部与第二插槽匹配插入或拔出,当第一插接部插入第一插槽,至少一个子卡的第二插接部插入第二插槽,控制器通过通
信模块与该插入的子卡进行通信,并识别插入的子卡,基于子卡识别结果控制启动相应类的检测任务。第一插槽即控制器插槽。第二插槽即子卡插槽。
[0026]进一步地,信号底板还设置有第三插槽,信号底板内设置有电源转换模块,电源转换模块的第一端与第一插槽电连接,电源转换模块的第二端与第二插槽电连接,电源转换模块的第三端与第三插槽电连接。第三插槽即电源插槽。
[0027]进一步地,控制器包括工业PC板和FPGA,工业PC板和FPGA间通过PCIe总线连接,FPGA还包括与控制器插槽匹配的插口。在一个实施例中,工业PC板采用x86工业PC板,x86工业PC板和FPGA间通过PCIe Gen4 x16的信号进行互联,其连接方式采用可支持高速传输的柔性耐弯折的线缆连接。
[0028]进一步地,多功能测试系统还包括用于连接控制器和子卡的光缆,每个子卡和控制器均包括光纤接口。这样,当子卡与控制器间数据量较多或者对数据传输速率要求较高时,则可以部分采用光缆进行数据传输。例如在进行自动光学检测时,通过信号底板中的通信模块本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多功能测试系统,其特征在于,包括信号底板、控制器和若干个子卡,所述控制器内预先存储有若干类检测任务控制程序及每类检测任务所需子卡信息,所述信号底板设置有通信模块、第一插槽和若干个第二插槽,所述控制器包括第一插接部,每个子卡均包括第二插接部,所述第一插接部与所述第一插槽匹配插入或拔出,每个第二插接部与所述第二插槽匹配插入或拔出,当所述第一插接部插入所述第一插槽,至少一个子卡的第二插接部插入所述第二插槽,所述控制器通过所述通信模块与该插入的子卡进行通信,并识别插入的子卡,基于子卡识别结果控制启动相应类的检测任务。2.如权利要求1所述的一种多功能测试系统,其特征在于,基于子卡识别结果控制启动相应类的检测任务包括:若识别插入的子卡中至少部分子卡满足一类检测任务所需,则控制所述至少部分子卡进行该类的检测任务,并且控制除所述至少部分子卡以外的插入子卡不能工作。3.如权利要求1所述的一种多功能测试系统,其特征在于,所述控制器内预先存储自动光学检测任务和集成电路检测任务的控制程序,所述自动光学检测任务需要子卡包括IO子卡和图像采集子卡,所述集成电路检测任务需要子卡包括电气参数测试子卡、DPS电源子卡和通道板。4.如权利要求3所述的一种多功能测试系统,其特征在于,若识别到IO子卡和图像采集子卡插入所述第二插槽,所述控制器生成光源控制信号、电机驱动信号并通过该插入的IO子卡输出给对应的受控设备,所述控制器还控制插入的图像采集子卡从对应的图像采集设备采集数据;...

【专利技术属性】
技术研发人员:汪成汪舟
申请(专利权)人:武汉精测电子集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1