一种检测不规则球面透镜光圈的高精密位移调节装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种检测不规则球面透镜光圈的高精密位移调节装置，包括平移台、下位移台、上旋转台和透镜夹持组件；第一调节手柄固定在所述下位移台的端部;其中第二手柄固定在所述上旋转台的端部。本实用新型专利技术提供能够实现干涉仪位移调节装置的多方位多角度精密微调，可以有效增加测量范围，从而实现透镜的全口径测量。口径测量。口径测量。

【技术实现步骤摘要】
一种检测不规则球面透镜光圈的高精密位移调节装置


[0001]本技术涉及透镜光圈检测设施，尤其涉及一种检测不规则球面透镜光圈的高精密位移调节装置。

技术介绍

[0002]目前的卧式干涉仪检测工装在检测不规则球面透镜时，其位移调节装置无法实现垂直于滑轨方向微调，也无法实现旋转位移，导致夹持的被测透镜调节的幅度相对有限，其测量只能在一定范围内有效，从而无法检测到透镜全口径的表面质量；但透镜的不良情况大多集中在边缘，目前的设施还无法进行有效检测。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本专利技术公开了一种检测不规则球面透镜光圈的高精密位移调节装置，设计合理，能够实现多方位调节，保证不规则球面透镜能够实现全口径测量，提高检测的范围。
[0004]一种检测不规则球面透镜光圈的高精密位移调节装置，包括平移台、下位移台、上旋转台和透镜夹持组件；第一调节手柄固定在所下平移台的端部。其中第二手柄固定在所述上旋转台的端部。
[0005]其所述位移调节装置平移台底部位于气浮平台的滑轨上面，其中气浮平台从左到右依次设有成像显示屏、激光干涉仪和滑轨；激光干涉仪与所述成像显示屏通过计算机连接；下位移台纵向滑动设置在所述平移台的顶部，所述上旋转台转动设置在所述下位移台上。所述透镜夹持位移调节机构包括固定在上旋转台的支撑框；其中所述支撑框上设有夹持环；其中夹持环上分布若干个弹性夹持杆。
[0006]本技术进一步改进是：所述透镜夹持位移调节机构包括固定在上旋转台的支撑框；其中所述支撑框上设有夹持环；其中夹持环上均匀转动分布若干个弹性夹持杆。
[0007]本技术进一步改进是：所述夹持环控制透镜的中心点与成像镜头机构的中心点在同一水平面上。
[0008]本技术进一步改进是：所述平移台的顶部设有凹槽；其中丝杠设置在所述凹槽内，所述下位移台的底部通过滑套与所述丝杠滑动连接；其中第一调节手柄固定在所述丝杠的端部; 第一调节手柄，其主要通过垂直于滑轨的方向进行微调。所述上旋转台的一端设有第二调节手柄，其第二调节手柄主要控制上旋转台的旋转方向的微调。
[0009]本技术进一步改进是：成像显示屏位移在支撑桌上且位于气浮平台的左侧后方，其中支撑桌的高度高于气浮平台的高度，便于工作人员观测或实时调试装置。
[0010]本技术的工作原理是：
[0011]1、将需要检测光圈的不规则球面镜片通过弹性夹持杆进行调节固定；成像镜头机构进行成像检测，将检测数据以及图像通过成像显示屏进行显示；
[0012]2、工作人员根据成像显示屏显示的情况，通过平移台在滑轨在实现左右横向运
动，转动第一调节手柄使下位移台实现纵向前后微调，并通过第二调节手柄带动上旋转台实现旋转微调，通过这一些措施，实现全口径测量。
[0013]本技术的有益效果：
[0014]1.增加测量范围：原设备只能测量有效口径内的透镜表面质量，而通过该装置可以将之前测不到的区域通过旋转或平移至测量有效口径内，从而实现透镜的全口径测量。
[0015]2.增加设备的利用效率:设备可实现多功能测量，不需另外添置成本高昂的轮廓仪，从而有效降低生产成本，提高生产效率。
[0016]3.增加测量精度：能够实现多方位多角度微调，可有效提高检测的精度。
附图说明
[0017]图1、检测装置的结构示意图；
[0018]图2、位移调节装置的结构示意图；
[0019]图3、下固台与平移台连接的俯视图；
[0020]图4、平移台的右视图；
[0021]附图标记列表：
[0022]其中1
‑
气浮平台；2
‑
成像显示屏；3
‑
成像镜头机构；4
‑
滑轨； 6
‑
平移台；7
‑
下位移台；8
‑
上旋转台；9
‑
支撑框；10
‑
夹持环；11
‑
弹性夹持杆；12
‑
凹槽；13
‑
丝杠；14
‑
滑套；15
‑
第一调节手柄；16
‑
支撑桌；17
‑
第二调节手柄。
具体实施方式
[0023]下面结合附图和具体实施方式，进一步阐明本专利技术，应理解下述具体实施方式仅用于说明本专利技术而不用于限制本专利技术的范围。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。
[0024]如图1所示，本实施例的一种检测不规则球面透镜光圈的高精密位移调节装置，包括平移台6、下位移台7、上旋转台8和透镜夹持组件；第一调节手柄15固定在所述下平移台7的端部。其中第二手柄17固定在所述上旋转台8的端部。
[0025]其中所述的位移调节装置底部滑动平移台6的设置在位于所述气浮平台1的滑轨4上面，其所述气浮平台1从左到右依次设有成像显示屏2、镜头机构3和滑轨4；其中成像镜头机构3与所述成像显示屏2通过计算机连接；下位移台7纵向滑动设置在所述平移台6的顶部，所述上旋转台8转动设置在所述下位移台7上；
[0026]如图1和2所示，所述透镜夹持位移调节机构包括位移在上旋转台8的支撑框9；其中所述支撑框9上设有夹持环10；其中夹持环10上分布若干个弹性夹持杆11；其中所述夹持环10的中心点与成像镜头机构3的中心点在同一水平面上。
[0027]如图3和4所示，所述平移台6的顶部设有凹槽12；其中丝杠13设置在所述凹槽12内，所述下位移台7的底部通过滑套14与所述丝杠13滑动连接；其中第一调节手柄15位移在所述下平移台7的端部，第二调节手柄17位于旋转台8的端部。
[0028]本实施例工作时：将需要检测光圈的不规则球面镜片通过弹性夹持杆11进行调节固定；成像镜头机构3进行成像检测，将检测到画图通过成像显示屏2进行显示；工作人员根
据成像显示屏2显示的情况，通过平移台6在滑轨4在实现左、右横向运动，转动第一调节手柄15使下位移台7实现纵向前、后运动，并通过第二调节手柄17带动上旋转台8实现旋转，通过这一些措施，实现测量范围的微调，这样镜头机构3可实现全口径测量，尤其是透镜最边缘的部分。
[0029]本专利技术方案所公开的技术手段不仅限于上述实施方式所公开的技术手段，还包括由以上技术特征任意组合所组成的技术方案。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测不规则球面透镜光圈的高精密位移调节装置，其特征在于：包括平移台（6）、下位移台（7）、上旋转台（8）和透镜夹持组件；第一调节手柄（15）固定在所述下位移台（7）的端部；其中第二手柄（17）固定在所述上旋转台（8）的端部；平移台（6）位于气浮平台（1）的滑轨（4）上面，其中气浮平台（1）从左到右依次设有成像显示屏（2）、激光干涉仪（3）和滑轨（4）。2.根据权利要求1所述的一种检测不规则球面透镜光圈的高精密位移调节装置，其特征在于；其中激光干涉仪（3）与所述成像显示屏（2）通过计算机连接，下位移台（7）纵向滑动设置在所述平移台（6）上，所述上旋转台（8）转动设置在所述下位移台（7）上。3.根据权利要求1所述的一种检测不规则球...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘建锋，
申请(专利权)人：丹阳丹耀光学股份有限公司，
类型：新型
国别省市：