一种数字式单光路或多光路光学系统共轭位置的自准直检测系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种数字式单光路或多光路光学系统共轭位置的自准直检测系统及方法，该检测系统基础部件包括光源、分划板、成像接收器件及显示器、分光镜、准直物镜组件、反光镜、位移检测器件、调焦机构，通过这些基础部件的组合组成的检测系统可对单光路或多光路光学系统的共轭位置进行精确测量。具体实施例根据不同应用的光学系统的光路布局，在基本原理不变的情况下进行灵活设置，通用性强，适用于对光学系统共轭位置的高精度批量检测。光学系统共轭位置的高精度批量检测。光学系统共轭位置的高精度批量检测。

【技术实现步骤摘要】
一种数字式单光路或多光路光学系统共轭位置的自准直检测系统及方法


[0001]本专利技术属于光学系统检测
，尤其涉及一种数字式单光路或单光路或多光路光学系统共轭位置的自准直检测系统及方法。

技术介绍

[0002]光学系统按照共轭距离的不同可以分为无限远共轭距离光学系统和有限远共轭距离光学系统，按照是否有焦点可以分为无焦光学系统和有焦光学系统，对于有焦的有限远或无限远共轭距离的光学系统，或某些光学系统中间的一部分光学系统为有焦的有限远或无限远共轭距离的光学系统，其共轭位置到安装面的距离是一项重要的指标，关系到前后光学系统的物像位置是否准确衔接，最终关系到整个光学系统的成像关系是否符合设计要求，目前没有常规的高精度检测方法，只能组装到整个光学系统中对其进行检查，不能及时发现光学系统的共轭位置偏差。

技术实现思路

[0003]为解决上述问题，本专利技术公开了一种数字式单光路或多光路光学系统共轭位置的自准直检测系统及方法，通用性强，可根据不同类型的光学系统设置匹配的接口和适用的实施例，可对单光路至单光路或多光路光学系统的共轭位置进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数字式单光路或多光路光学系统共轭位置的自准直检测系统，其特征在于：该检测系统包括自准直组件、准直物镜组件、位移检测器件、反光镜以及调焦机构；其中，自准直组件包括有：分光镜；分划板，设在所述分光镜的一侧；光源，设在所述分划板的一侧；成像接收器件，其与显示器电连接，设在所述分光镜的一侧，其靶面和所述分划板的分划面相对于所述分光镜的分光面对称；准直物镜组件：其设在待测光学系统与分光镜之间，准直物镜组件、待测光学系统、分光镜、成像接收器件及分划板光轴对齐；反光镜，其反光面位于待测光学系统的有限远或无限远目标的共轭位置；调焦机构，与可调焦部件连接，其与位移检测器件配合使用，实时检测可调焦部件的位移变化。2.根据权利要求1所述的一种数字式单光路或单光路或多光路系统共轭位置的自准直检测系统，其特征在于：所述分划板的分划面和所述成像接收器件的靶面位于准直物镜组件的焦面处。3.根据权利要求2所述的一种数字式单光路或多光路系统共轭位置的自准直检测系统，其特征在于：所述准直物镜组件为待测光学系统提供有限远或无限远目标。4.根据权利要求3所述的一种数字式单光路或多光路系统共轭位置的自准...

【专利技术属性】
技术研发人员：张翌，马国顺，
申请(专利权)人：丹阳丹耀光学股份有限公司，
类型：发明
国别省市：