本实用新型专利技术公开了旋转式回转体器件全表面检测照明装置，用于电子元件检测遮光，包括遮光罩，遮光罩内开设有容置电子元件用的检测腔、与检测腔连通供检测光路穿入的检测通孔、以及自左向右延伸贯穿遮光罩供电子元件移入或移出检测腔的移送槽，检测通孔至少部分与移送槽相对。本实用新型专利技术通过设置在遮光罩内的检测腔、以及与检测腔连通的检测通孔和移送槽，使待检测电子元件可经移送槽进入相对密封的检测腔，以及使检测相机发射的光束可经检测通孔进入相对密封的检测腔对待检测电子元件进行检测，避免相邻检测相机发射的光束相互干扰，提高检测精度。提高检测精度。提高检测精度。
【技术实现步骤摘要】
旋转式回转体器件全表面检测照明装置
[0001]本技术涉及检测设备，尤其涉及旋转式回转体器件全表面检测照明装置。
技术介绍
[0002]电子元件是电路的基本元素，为了确保电路的可靠性，需对电子元件进行检测。视觉检测是常用的检测方法，但检测过程中相邻的高速相机投射的光线容易造成干扰，影响检测精度。
技术实现思路
[0003]为了解决现有的视觉检测装置中相邻相机投射的光束相互干扰，影响检测精度的技术问题，本技术的目的在于提供旋转式回转体器件全表面检测照明装置。
[0004]本技术是通过以下技术方案实现的：
[0005]旋转式回转体器件全表面检测照明装置，用于电子元件检测遮光，包括遮光罩，所述遮光罩内开设有容置电子元件用的检测腔、与所述检测腔连通供检测光路穿入的检测通孔、以及自左向右延伸贯穿所述遮光罩供电子元件移入或移出所述检测腔的移送槽，所述检测通孔至少部分与所述移送槽相对。
[0006]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，所述检测通孔为若干个，若干所述检测通孔至少包括间设在所述遮光罩周侧上的若干第一检测通孔，各所述第一检测通孔至少部分与所述移送槽相对。
[0007]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，各所述第一检测通孔在所述遮光罩的周侧上等距分布。
[0008]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，若干所述检测通孔还包括开设在所述遮光罩底部的第二检测通孔，所述第二检测通孔至少部分与所述移送槽相对。
[0009]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，所述遮光罩于所述移送槽上方开设有让位槽，所述让位槽开口于所述遮光罩的左右侧以及顶部。
[0010]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，所述让位槽于所述遮光罩左右侧的开口大于所述移送槽于所述遮光罩左右侧的开口。
[0011]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，还包括支撑座，所述遮光罩可沿所述支撑座上下移动，所述支撑座上开设有自下而上延伸的滑孔，所述遮光罩上设有可沿所述滑孔移动并可将所述遮光罩锁紧在所述支撑座上的第四紧固件。
[0012]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，所述支撑座左右两侧中的一侧上设有第四量尺，所述第四量尺上的刻度自中间向上下两侧递增。
[0013]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，所述支撑座上与所述遮光罩相对的端面开设有第四限位槽，所述遮光罩至少部分嵌设在所述第四限位槽内并可沿所述第四限位槽上下滑动。
[0014]如上所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，所述遮光罩底部可拆卸地连
接有支撑环，所述支撑环的周侧上抵接有一端滑动连接在所述支撑座上的连杆，所述支撑环上开设有至少部分与所述第二检测通孔相对的导向通孔。
[0015]与现有技术相比，本技术具有如下优点：
[0016]本技术通过设置在遮光罩内的检测腔、以及与检测腔连通的检测通孔和移送槽，使待检测电子元件可经移送槽进入相对密封的检测腔，以及使检测相机发射的光束可经检测通孔进入相对密封的检测腔对待检测电子元件进行检测，避免相邻检测相机发射的光束相互干扰，提高检测精度。
【附图说明】
[0017]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0018]图1为本技术实施例旋转式回转体器件全表面检测照明装置的立体图；
[0019]图2为本技术实施例旋转式回转体器件全表面检测照明装置的剖视图。
【具体实施方式】
[0020]为了使本技术所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0021]实施例：如图1
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2所示，该旋转式回转体器件全表面检测照明装置包括遮光罩801，所述遮光罩801内开设有容置电子元件用的检测腔(图中未标出)、与所述检测腔连通供检测光路穿入的检测通孔802、以及自左向右延伸贯穿所述遮光罩801供电子元件移入或移出所述检测腔的移送槽803，所述检测通孔802至少部分与所述移送槽803相对。该旋转式回转体器件全表面检测照明装置应用在检测设备上时，所述遮光罩801设置在检测工位上，待检测的电子元件经所述移送槽803进入所述检测腔，此时，设置在所述遮光罩801外的检测相机发射的光束通过所述检测通孔802进入所述检测腔对电子元件进行检测。综上可知，应用该旋转式回转体器件全表面检测照明装置可避免检测时相邻检测相机发射的光束相互干扰，提高检测精度。
[0022]进一步地，为了简化结构，便于实施，所述检测通孔802为若干个，若干所述检测通孔802至少包括间设在所述遮光罩801周侧上的若干第一检测通孔804，各所述第一检测通孔804至少部分与所述移送槽803相对，各所述第一检测通孔804在所述遮光罩801的周侧上等距分布。
[0023]进一步地，为了简化结构，便于实施，若干所述检测通孔802还包括开设在所述遮光罩801底部的第二检测通孔805，所述第二检测通孔805至少部分与所述移送槽803相对。
[0024]进一步地，为了便于电子元件的通过，所述遮光罩801于所述移送槽803上方开设有让位槽806，所述让位槽806开口于所述遮光罩801的左右侧以及顶部，所述让位槽806于所述遮光罩801左右侧的开口大于所述移送槽803于所述遮光罩801左右侧的开口。
[0025]进一步地，为了便于调节遮光罩801的高度，还包括支撑座807，所述遮光罩801可沿所述支撑座807上下移动，所述支撑座807上开设有自下而上延伸的滑孔808，所述遮光罩801上设有可沿所述滑孔808移动并可将所述遮光罩801锁紧在所述支撑座807上的第四紧
固件(图中未标出)。
[0026]进一步地，为了便于调节遮光罩801的高度，所述支撑座807左右两侧中的一侧上设有第四量尺809，所述第四量尺809上的刻度自中间向上下两侧递增。
[0027]进一步地，为了提高移动的稳定性，所述支撑座807上与所述遮光罩801相对的端面开设有第四限位槽810，所述遮光罩801至少部分嵌设在所述第四限位槽810内并可沿所述第四限位槽810上下滑动。
[0028]进一步地，为了简化结构，便于实施，所述遮光罩801底部可拆卸地连接有支撑环811，所述支撑环811的周侧上抵接有一端滑动连接在所述支撑座807上的连杆812，所述支撑环811上开设有至少部分与所述第二检测通孔805相对的导向通孔813。
[0029]应当理解的是，本技术中采用术语“第一”、“第二”等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语，这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本技术范围的情况下，“第一”信息也可以被称为“第二”信本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.旋转式回转体器件全表面检测照明装置，用于电子元件检测遮光，其特征在于，包括遮光罩，所述遮光罩内开设有容置电子元件用的检测腔、与所述检测腔连通供检测光路穿入的检测通孔、以及自左向右延伸贯穿所述遮光罩供电子元件移入或移出所述检测腔的移送槽，所述检测通孔至少部分与所述移送槽相对。2.根据权利要求1所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，其特征在于，所述检测通孔为若干个，若干所述检测通孔至少包括间设在所述遮光罩周侧上的若干第一检测通孔，各所述第一检测通孔至少部分与所述移送槽相对。3.根据权利要求2所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，其特征在于，各所述第一检测通孔在所述遮光罩的周侧上等距分布。4.根据权利要求2所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，其特征在于，若干所述检测通孔还包括开设在所述遮光罩底部的第二检测通孔，所述第二检测通孔至少部分与所述移送槽相对。5.根据权利要求1所述的旋转式回转体器件全表面检测照明装置，其特征在于，所述遮光罩于所述移送槽上方开设有让位槽，所述让位槽开口于所述遮光罩的左右侧以及顶部。6.根据权利要求5所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：张啸宇，刘骏，
申请(专利权)人：深圳宇骏视觉智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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